2024柔(rou)性(xing)材(cai)料(liao)電(dian)子(zi)測(ce)試(shi)實(shi)驗室設備(bei)壹覽(lan)表(biao) 1、實(shi)驗室內(nei)設備(bei)在使(shi)用(yong)時要細心(xin)謹慎(shen)。 2、實(shi)驗室內(nei)壹切(qie)儀(yi)器設備(bei)未經(jing)允許不(bu)得拆開，設備(bei)配件(jian)專(zhuan)配專(zhuan)用(yong)，不(bu)得拆作(zuo)他(ta)用(yong)，不(bu)得攜帶至室外。 3、嚴禁私拉(la)亂接(jie)電源(yuan)、實(shi)驗室內(nei)任何用(yong)電(dian)設備(bei)和(he)電(dian)源(yuan)不(bu)得隨(sui)意觸(chu)摸(mo)摸(mo)弄(nong)，以防觸(chu)電。 4、實(shi)驗操作(zuo)畢(bi)，檢查(zha)門、窗、水(shui)、電、氣(qi)，方可離(li)開(kai)實(shi)驗室。 5、如接(jie)通電(dian)源(yuan)後，保(bao)險(xian)絲(si)熔斷(duan)，必(bi)須(xu)檢(jian)查故障原(yuan)因(yin)，在排除障礙後，方可重(zhong)新(xin)接(jie)通電(dian)源(yuan)。

DETS-5000介電(dian)彈(dan)性(xing)體測(ce)試(shi)系統(tong)是壹(yi)款(kuan)采(cai)用(yong)高壓放(fang)大器信(xin)號(hao)源(yuan)輸出0-3V頻率(lv)為(wei)1-10HZ的正(zheng)弦(xian)波電(dian)壓信(xin)號(hao)，輸出到功(gong)率(lv)放(fang)大器中(zhong)，通過功(gong)率(lv)放(fang)大器放(fang)大至(zhi)0-1500V電(dian)壓，高電(dian)壓輸出到電活性(xing)異性(xing)電荷(he)，產(chan)生靜電(dian)力(li)，擠壓電(dian)活性(xing)聚合(he)物(wu)產(chan)生形變。是研究介(jie)電材(cai)料(liao)驅(qu)動(dong) / 壓電(dian)驅(qu)動 / 電(dian)光調制 / 材(cai)料(liao)極(ji)化(hua) 離(li)子體研究 / 耐(nai)壓測(ce)試(shi) / 靜電(dian)偏(pian)轉(zhuan) / 粒(li)子加(jia)速器 質譜(pu)的(de)重(zhong)壓儀(yi)器。

柔(rou)性(xing)電子(zi)的出(chu)現為經典(dian)電(dian)子學的(de)發(fa)展提供(gong)了(le)新(xin)的(de)方向(xiang)，觸發(fa)了(le)新(xin)形態(tai)電子設備(bei)的產(chan)生。然而，電子(zi)材(cai)料(liao)與器件(jian)由(you)剛向(xiang)柔(rou)轉(zhuan)變過程中(zhong)，傳(chuan)統(tong)的剛(gang)性(xing)測試(shi)方法變得無法適(shi)應，而相匹配(pei)的柔(rou)性(xing)測試(shi)體系對推進柔(rou)性(xing)電子(zi)行業(ye)的發(fa)展變得。在柔(rou)性(xing)電子(zi)材(cai)料(liao)與器件(jian)的(de)測試(shi)過程中(zhong)，尤其(qi)是(shi)在(zai)柔(rou)性(xing)電子(zi)材(cai)料(liao)與器件(jian)開(kai)發(fa)驗證(zheng)的初(chu)期(qi)階(jie)段(duan)，發(fa)展壹(yi)種(zhong)高自(zi)由度(du)的模(mo)塊(kuai)化柔(rou)性(xing)材(cai)料(liao)與器件(jian)測(ce)試(shi)系統(tong),對於提升(sheng)開發(fa)驗證(zheng)效(xiao)率(lv)和(he)降(jiang)低(di)測(ce)試(shi)成(cheng)本(ben)具(ju)有重(zhong)要意義(yi)。適(shi)用(yong)於(yu)小面(mian)積(ji)薄膜、器件(jian)的(de)

FTZD-120小型(xing)柔(rou)性(xing)折(zhe)疊(die)測(ce)試(shi)系統(tong) 柔(rou)性(xing)電子(zi)的出(chu)現為經典(dian)電(dian)子學的(de)發(fa)展提供(gong)了(le)新(xin)的(de)方向(xiang)，觸發(fa)了(le)新(xin)形態(tai)電子設備(bei)的產(chan)生。然而，電子(zi)材(cai)料(liao)與器件(jian)由(you)剛向(xiang)柔(rou)轉(zhuan)變過程中(zhong)，傳(chuan)統(tong)的剛(gang)性(xing)測試(shi)方法變得無法適(shi)應，而相匹配(pei)的柔(rou)性(xing)測試(shi)體系對推進柔(rou)性(xing)電子(zi)行業(ye)的發(fa)展變得。在柔(rou)性(xing)電子(zi)材(cai)料(liao)與器件(jian)的(de)測試(shi)過程中(zhong)，尤其(qi)是(shi)在(zai)柔(rou)性(xing)電子(zi)材(cai)料(liao)與器件(jian)開(kai)發(fa)驗證(zheng)的初(chu)期(qi)階(jie)段(duan),發(fa)展-種(zhong)高自(zi)由度(du)的模(mo)塊(kuai)化柔(rou)性(xing)材(cai)料(liao)與器件(jian)測(ce)試(shi)系統(tong),對於提升(sheng)開發(fa)驗證(zheng)效(xiao)率(lv)

BSLY-1000型(xing)小型(xing)薄膜雙(shuang)向(xiang)拉(la)伸(shen)試(shi)驗儀(yi)小型(xing)雙(shuang)向(xiang)拉(la)伸(shen)試(shi)驗儀(yi)能(neng)將厚(hou)度(du)在3mm以下,最(zui)小70見(jian)方的可(ke)作(zuo)雙(shuang)向(xiang)拉(la)伸(shen)薄膜材(cai)料(liao)厚(hou)膜(mo)樣片(pian)，按所(suo)需(xu)的拉(la)伸(shen)比，在適(shi)合(he)溫(wen)度(du)及時間(jian)內(nei)進行(xing)成(cheng)膜(mo)拉(la)伸(shen)試(shi)驗，供(gong)實(shi)驗室進(jin)行物(wu)理和(he)化(hua)學測(ce)試(shi)分析，根(gen)據(ju)樣膜(mo)性(xing)能(neng)，重新(xin)確定(ding)種(zhong)類繁多的添加(jia)劑(ji)和(he)配(pei)方。然後應用(yong)到生產(chan)線上(shang)，可大大降(jiang)低(di)試(shi)制成(cheng)本(ben)。任何可於(yu)雙向(xiang)拉(la)伸(shen)的結晶型(xing)和(he)非結(jie)晶聚(ju)合物(wu)，制成(cheng)厚(hou)片(pian)，都(dou)可(ke)在本(ben)機進行靜態(tai)拉(la)伸(shen)，如PP，PE ,PET, PP

BWML-500型(xing)小型(xing)變溫薄膜雙(shuang)向(xiang)拉(la)伸(shen)試(shi)驗儀(yi) 關鍵詞：變溫 ，雙(shuang)向(xiang)拉(la)伸(shen)，薄膜，PVDF，PP，PET，PE，柔(rou)性(xing)材(cai)料(liao) 壹(yi)、產(chan)品介紹(shao)： BWML-500型(xing)小型(xing)變溫薄膜雙(shuang)向(xiang)拉(la)伸(shen)試(shi)驗儀(yi)是壹款非常(chang)便(bian)攜式(shi)的(de)實(shi)驗級的變溫拉(la)伸(shen)儀，針對柔(rou)性(xing)材(cai)料(liao)等可以自(zi)己定(ding)義(yi)拉(la)伸(shen)的溫度(du)，速率(lv)，力(li)值和(he)監(jian)測位(wei)移，同時可(ke)以配(pei)置(zhi)光學觀(guan)測(ce)功(gong)能(neng)，進行(xing)DIC圖象(xiang)分(fen)析，是目前高等院(yuan)校(xiao)和(he)科研所(suo)進(jin)行