
當(dang)前(qian)位置:首(shou)頁(ye) > 技(ji)術文(wen)章 > 多(duo)層(ceng)壓(ya)電(dian)陶(tao)瓷(ci)變壓(ya)器的(de)振動與疲勞
推(tui)薦使(shi)用(yong):GDPT-900A型(xing)變溫(wen)壓(ya)電(dian)測試(shi)系統(tong),ZJ-3型靜(jing)壓(ya)電(dian)測試(shi)系統(tong)
壓(ya)電(dian)變壓(ya)器最(zui)早(zao)於1956年由C.A.Rosen提(ti)出。20世(shi)紀80年(nian)代初(chu),清(qing)華大學(xue)提(ti)出了多(duo)層(ceng)獨(du)石化(hua)壓(ya)電(dian)變壓(ya)器的(de)創(chuang)意及(ji)概(gai)念(nian),並在國際上(shang)最(zui)早(zao)開展了多層(ceng)壓(ya)電(dian)變壓(ya)器的(de)研究。由(you)於壓(ya)電(dian)變壓(ya)器升(sheng)壓(ya)比高(gao)、電(dian)磁幹擾小、轉換效率(lv)高、體(ti)積(ji)小、質量輕(qing)、輸出波形(xing)好(hao)等優點(dian),近年來在(zai)液(ye)晶(jing)顯示器背光(guang)電(dian)源、高壓(ya)臭氧(yang)發(fa)生(sheng)器(qi)、空氣清(qing)新(xin)器(qi)、雷(lei)達(da)等領(ling)域中獲得了(le)應(ying)用。
壓(ya)電(dian)變壓(ya)器是電(dian)場與振動場間(jian)相(xiang)互(hu)耦(ou)合的諧(xie)振器件,在諧(xie)振狀態下(xia),器(qi)件會因負載、使用環(huan)境(jing)、輸入電(dian)壓(ya)、材(cai)料(liao)等(deng)因(yin)素,產(chan)生(sheng)發(fa)熱、疲勞甚(shen)至斷裂(lie)等問(wen)題。有關壓(ya)電(dian)陶(tao)瓷(ci)材(cai)料(liao)疲勞的(de)研究較多(duo),學(xue)者(zhe)提(ti)出了壹(yi)些(xie)疲勞機(ji)理(li),目前(qian)廣(guang)為大家接(jie)受的(de)解(jie)釋主(zhu)要(yao)有(you)疇夾持模(mo)型、電(dian)極連(lian)接(jie)不(bu)合適以(yi)及(ji)內(nei)應(ying)力集(ji)中。Zuo等人認(ren)為,在電(dian)場的作(zuo)用(yong)下(xia),由(you)熱應力(li)引起的(de)微(wei)裂(lie)紋將成(cheng)為裂(lie)紋擴展的根(gen)源。Ru等人(ren)的(de)研究表(biao)明(ming),多(duo)層(ceng)陶(tao)瓷(ci)器(qi)件失(shi)效的(de)主(zhu)要(yao)機(ji)制是電(dian)極與(yu)陶(tao)瓷(ci)材(cai)料(liao)之(zhi)間(jian)的界(jie)面(mian)開裂(lie)以及(ji)電(dian)部的(de)界(jie)面(mian)開裂(lie)。Gong等人(ren)通過非(fei)線(xian)性(xing)有限元(yuan)法(fa)模(mo)擬(ni)了多(duo)層(ceng)壓(ya)電(dian)器件中內電(dian)極周(zhou)圍的電(dian)場分布(bu),並發現(xian)在(zai)內電(dian)部邊緣的(de)電(dian)場分布(bu)非(fei)常(chang)不(bu)均(jun)勻(yun),因(yin)此(ci)電(dian)極周(zhou)圍的陶(tao)瓷(ci)材(cai)料(liao)因(yin)鐵電(dian)轉變或電(dian)致伸縮(suo)而產(chan)生(sheng)不(bu)協(xie)調(tiao)變形(xing),形(xing)成(cheng)裂(lie)紋。為下(xia)壹(yi)步(bu)深(shen)入(ru)研究壓(ya)電(dian)變壓(ya)器微(wei)裂(lie)紋的形(xing)成及(ji)擴(kuo)散機(ji)理(li),本(ben)實驗(yan)研究了(le)壓(ya)電(dian)變壓(ya)器的(de)微(wei)振動及(ji)疲勞行(xing)為。采用激光(guang)掃描測(ce)振儀以(yi)及(ji) 疲勞加載(zai)實驗(yan)測試壓(ya)電(dian)變壓(ya)器的(de)特(te)性(xing)變化(hua)。
1 壓(ya)電(dian)變壓(ya)器機(ji)理(li)及(ji)結構
通過摻雜(za)CdCO、SrCO₃、ZnO或Li2CO₃獲得(de)壓(ya)電(dian)變壓(ya)器所(suo)用(yong)高(gao)性能低燒(shao)兼優的Pb(Mg₁/₃Nb₂/₃)O₃.Pb(Ni₁/₃Nb₂/₃)O₃壹(yi)Pb(ZrTi)O₃壓(ya)電(dian)材(cai)料(liao)。多(duo)層(ceng)壓(ya)電(dian)變壓(ya)器的(de)結構如圖1所(suo)示。器件內部有19層(ceng)陶(tao)瓷(ci)介質,外形(xing)尺寸(cun)約30 mm8 mmx3 mm。輸(shu)入電(dian)極在(zai)器(qi)件的中部,輸出電(dian)極分布(bu)在(zai)器件的兩(liang)端。在(zai)交變輸(shu)入(ru)電(dian)壓(ya)以及(ji)機(ji)電(dian)耦(ou)合系數(shu)k₃₁和k₃₃的(de)作(zuo)用(yong)下(xia),變壓(ya)器沿長(chang)度(du)方向發(fa)生(sheng)諧(xie)振。對於半波諧(xie)振,有壹條節線(xian)出現(xian)在(zai)器件的中心位置,對稱的振動使變壓(ya)器在(zai)兩(liang)端產(chan)生(sheng)相(xiang)同(tong)的輸出電(dian)壓(ya),即升(sheng)壓(ya)比相(xiang)同(tong)。



信號發(fa)生(sheng)器(qi)輸(shu)出正(zheng)弦波(bo)形,實際輸(shu)入(ru)電(dian)壓(ya)峰峰值約10 V。在粗測(ce)諧(xie)振頻(pin)率(lv)55 kHz附(fu)近微調(tiao)頻(pin)率(lv),測(ce)量串聯小電(dian)阻兩(liang)端的(de)輸出電(dian)壓(ya),如圖4。輸(shu)出電(dian)壓(ya)的極大值出現(xian)在(zai)54.8 kHz處,此為樣品(pin)的(de)實際諧(xie)振頻(pin)率(lv)。
3 疲勞加載(zai)實驗(yan)
疲勞加載(zai)實驗(yan)條件:輸入信號的(de)波形(xing)為正(zheng)弦波(bo),頻(pin)率(lv)為半波諧(xie)振頻(pin)率(lv)54.8 kHz,電(dian)壓(ya)峰峰值為30 V(實際工(gong)作(zuo)電(dian)壓(ya)在12 V以(yi)下(xia))。輸(shu)出負載為94 kΩ無感電(dian)阻。設(she)置(zhi)循環(huan)加載(zai)次數為109次,即連續(xu)振動約5 h。


由於疲勞加載(zai)可能會導致諧(xie)振頻(pin)率(lv)的(de)改(gai)變,因(yin)此(ci)在(zai)各(ge)項對比分析之(zhi)前(qian),首(shou)先需要(yao)重新(xin)精(jing)確測定(ding)變壓(ya)器樣品(pin)的(de)半波諧(xie)振頻(pin)率(lv)。用(yong)示波器觀察(cha)疲勞加載(zai)後(hou)變壓(ya)器樣品(pin)的(de)輸出電(dian)壓(ya),確定(ding)疲勞後(hou)諧(xie)振頻(pin)率(lv)為55.6 kHz,與疲勞加載(zai)前(qian)的(de)諧(xie)振頻(pin)率(lv)54.8 kHz比(bi),相(xiang)對漂(piao)移(yi)量約(yue)1.5%。
3.2 諧(xie)振模(mo)態振動的衰(shuai)退(tui)
使用激光(guang)測振儀,在(zai)定(ding)頻(pin)模(mo)式測得疲勞加載(zai)後(hou)變壓(ya)器樣品(pin)在(zai)壹個(ge)振動周(zhou)期裏(li)的圖(tu)像。圖(tu)5a中,各(ge)測量點(dian)的(de)振動相(xiang)位比較壹(yi)致,說明在(zai)疲勞加載(zai)前(qian),變壓(ya)器樣品(pin)長(chang)度(du)方向上(shang)的(de)形變十(shi)分協調(tiao):圖(tu)5b中,各(ge)測量點(dian)的(de)振動有些(xie)雜亂,這(zhe)說明在(zai)疲勞加載(zai)後(hou)樣品(pin)振動有些(xie)不(bu)穩(wen)定(ding)。從(cong)直(zhi)觀(guan)上(shang)可以判(pan)斷,疲勞加載(zai)使得(de)變壓(ya)器樣品(pin)的(de)振動表現(xian)有(you)所衰(shuai)退(tui)。定(ding)量分析上,圖(tu)5a中顯示輸出端端(duan)部(bu)的振動速率(lv)在(zai)300μm/s左右(you),而圖5b中僅在(zai)100 μm/s左右(you)。由此表明(ming),疲勞加載(zai)除了(le)使多(duo)層(ceng)壓(ya)電(dian) 變壓(ya)器的(de)形(xing)變與(yu)振動的協(xie)調(tiao)性(xing)變差外,還使得整(zheng)體(ti)的(de)振動速率(lv)下(xia)降(jiang),振動幅度(du)變小。
輸入(ru)信號的(de)頻(pin)率(lv)固(gu)定(ding)在(zai)樣品(pin)的(de)半波諧(xie)振頻(pin)率(lv)54.8kHz處,改變輸(shu)入(ru)信號的(de)電(dian)壓(ya)幅值,測得輸入(ru)端(duan)端(duan)部振幅Ai對輸入信號電(dian)壓(ya)峰峰值VP-P的曲線(xian),如圖6所(suo)示。在輸入電(dian)壓(ya)小於4 V時,變壓(ya)器輸(shu)入(ru)端(duan)振幅與(yu)輸入電(dian)壓(ya)呈(cheng)現(xian)線(xian)性(xing)關系;當(dang)電(dian)壓(ya)大於4V後(hou),進(jin)入(ru)非(fei)線(xian)性(xing)區;大於10 V後(hou),振幅逐(zhu)漸趨(qu)於飽和。



1)有限(xian)元(yuan)法(fa)獲得(de)變壓(ya)器半波諧(xie)振頻(pin)率(lv)約(yue)55 kHz,全(quan)波諧(xie)振頻(pin)率(lv)約(yue)110 kHz。
2)激光(guang)測振儀測(ce)得壓(ya)電(dian)變壓(ya)器半波諧(xie)振頻(pin)率(lv)為55.7kHz;信號發(fa)生(sheng)器(qi)與(yu)示波器配(pei)合,根(gen)據輸出顯示,測得壓(ya)電(dian)變壓(ya)器的(de)諧(xie)振頻(pin)率(lv)為54.8 kHz。實驗(yan)結果與有(you)限元(yuan)計(ji)算基本(ben)壹(yi)致。
3)疲勞加載(zai)除了(le)使多(duo)層(ceng)壓(ya)電(dian)變壓(ya)器的(de)形(xing)變與(yu)振動的協(xie)調(tiao)性(xing)變差外,還使得整(zheng)體(ti)的(de)振動速率(lv)下(xia)降(jiang),振動幅度(du)變小,升(sheng)壓(ya)比降(jiang)低(di),約(yue)是疲勞前(qian)的(de)85%左右(you) 。
我們(men)專業提(ti)供功能材(cai)料(liao)測(ce)試(shi)設(she)備(bei)及(ji)測(ce)試(shi)服務:
二(er)、壓(ya)電(dian)材(cai)料(liao)制樣設(she)備(bei):PZT-JH10/4型壓(ya)電(dian)陶(tao)瓷(ci)極化(hua)裝(zhuang)置(zhi),PZT-JH20/1型(xing)粉(fen)末極化(hua)裝(zhuang)置(zhi),PZT-JH30/3型(xing)壓(ya)電(dian)陶(tao)瓷(ci)及(ji)薄膜(mo)綜合極化(hua)裝(zhuang)置(zhi),ZJ-D33-YP15型(xing)壓(ya)片機(ji)
三(san)、介電(dian)材(cai)料(liao)測(ce)試(shi)裝置:GWJDN-600型四通道高溫介電(dian)測試(shi)儀,GWJDN-1000型(xing)四通道高溫介電(dian)測試(shi)儀
四:鐵電(dian)材(cai)料(liao)測(ce)測(ce)試儀:ZT-4A鐵電(dian)測試(shi)儀 ,FE-5000型(xing)變溫(wen)鐵電(dian)測試(shi)系統(tong),ECM -150型電(dian)卡效應(ying)測試(shi)系,DCD-100型(xing)儲(chu)能電(dian)介質充(chong)放電(dian)測試(shi)系統(tong),
五(wu)、BKTEM-Dx熱電(dian)材(cai)料(liao)性(xing)能測試儀
高(gao)溫(wen)功能材(cai)料(liao)測(ce)試(shi)設(she)備(bei):
GDPT-900A型(xing)高(gao)溫(wen)D33測試系統(tong),GWJDN-1000型四通道高低溫(wen)介電(dian)測試(shi)儀,HTRT-1000型(xing)導電(dian)材(cai)料(liao)高(gao)溫(wen)電(dian)阻率(lv)測(ce)試(shi)儀,JGWDZ-1000型(xing)金屬高(gao)溫電(dian)阻測(ce)量系統(tong),BWGP-2000型變溫(wen)光(guang)譜測(ce)試系統(tong)(高低溫(wen)光(guang)譜系統(tong)),FSR-600材(cai)料(liao)高(gao)溫(wen)雙(shuang)波(bo)段發射率(lv)測(ce)量系統(tong),TSDC/TSC--400型熱激勵去(qu)極化(hua)電(dian)流測(ce)量系統(tong),GWTF-300高溫鐵電(dian)材(cai)料(liao)測(ce)量系統(tong) ,HTGSRM-1000型高溫(wen)氣敏(min)材(cai)料(liao)測(ce)量系統(tong),PTC/NTC-500高溫熱敏(min)電(dian)阻材(cai)料(liao)參數(shu)測量分析系統(tong),HTRS-1000型高溫(wen)半導體(ti)材(cai)料(liao)電(dian)阻率(lv)測(ce)試(shi)儀,PRPM-1000熱釋電(dian)系數(shu)高溫測(ce)試(shi)系統(tong),HTRC-600型高溫(wen)導(dao)電(dian)材(cai)料(liao)電(dian)阻率(lv)測(ce)試(shi)系統(tong),