ZJ-3型壓(ya)電(dian)薄膜(mo)PVDF測(ce)試儀

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ZJ-3型PVDF壓(ya)電(dian)測(ce)試儀是為(wei)測(ce)量(liang)壓(ya)電(dian)材(cai)料的(de)d33常數而設(she)計的(de)專用(yong)儀器，它可(ke)用(yong)來(lai)測(ce)量(liang)具(ju)有(you)大壓電(dian)常數的(de)壓電(dian)陶(tao)瓷，小壓電(dian)常數的(de)壓電(dian)單(dan)晶(jing)及壓(ya)電(dian)高(gao)分(fen)子材(cai)料。此(ci)外，也(ye)可(ke)測(ce)量(liang)任(ren)意(yi)取向壓(ya)電單(dan)晶(jing)以及某些壓(ya)電器件(jian)的(de)等(deng)效壓(ya)電d’33常數，儀器測(ce)量(liang)範圍(wei)寬(kuan)，分(fen)辨(bian)率細(xi)，可(ke)靠性(xing)高，操作簡(jian)單(dan)，對試樣(yang)大小及形狀(zhuang)無特殊(shu)要求(qiu)，圓(yuan)片、圓(yuan)環(huan)、圓(yuan)管、方塊、長(chang)條、柱形及半球(qiu)殼等(deng)均可(ke)測(ce)量(liang)，測(ce)量(liang)結(jie)果和(he)極性在(zai)三位(wei)半數字(zi)面板上(shang)直接(jie)顯示。ZJ-3 ZJ-3型(xing)壓(ya)電薄膜(mo)PVDF測(ce)試儀

型增加了對(dui)被測(ce)元(yuan)件(jian)的(de)放(fang)電保(bao)護(hu)、放(fang)電提示以(yi)及被測(ce)波(bo)形輸出(chu)等(deng)功能，使得(de)儀器在(zai)測(ce)量(liang)未(wei)放(fang)電（尤(you)其是(shi)較大尺寸(cun)）的(de)壓電(dian)元(yuan)件(jian)時(shi)具(ju)備(bei)了高(gao)電(dian)壓放(fang)電提示及保(bao)護(hu)功能，本(ben)儀器是(shi)從(cong)事(shi)壓(ya)電材料及壓(ya)電(dian)元(yuan)件生(sheng)產、應(ying)用與研究(jiu)部門(men)的(de)儀器。

d33測(ce)量(liang)範圍(wei)：

 ×1擋：10到2000pC/N，20 至(zhi)4000pC/N，可(ke)以(yi)升(sheng)級到10000PC/N.
  ×0.1擋： 1到200pC/N，2 至(zhi)400pC/N。

可(ke)配(pei)D31塊體(ti)夾(jia)具，D15塊體(ti)夾(jia)具，D15圓(yuan)管夾(jia)具，薄膜(mo)拉(la)伸夾(jia)具

可(ke)以(yi)配套PZT-JH10/4/8/12型壓(ya)電(dian)極化裝(zhuang)置使用(yong)

可(ke)以(yi)配套ZJ-D33-YP15壓電(dian)壓(ya)片機使用(yong)
  誤(wu)差：×1擋：±2%±1個(ge)數字(zi)，當d33在(zai)100到4000pC/N；

計量(liang)標(biao)定(ding)標準樣(yang)尺寸(cun)：18mm*0.8mm，老化時(shi)間(jian)：2-3年（評判壓電測(ce)試儀準確(que)性(xing)能的(de)重要(yao)依(yi)據(ju)之壹）
  ±5%±1個(ge)數字(zi)，當d33在(zai)10到200pC/N；
  ×0.1擋：±2%±1個(ge)數字(zi)，(當d33在(zai)10到200pC/N)
  ±5%±1個(ge)數字(zi)，當d33在(zai)10到20pC/N。
  分(fen)辨(bian)率：   ×1擋：1 pC/N；×0.1擋：0.1   pC/N。
  尺寸(cun)：施力裝(zhuang)置：Φ110×140mm；儀器本(ben)體(ti)：240×200×80mm。
  重量(liang)：施(shi)力(li)裝(zhuang)置：約4公斤；     
  儀器本(ben)體(ti)：2公斤。
  電(dian)源：220伏(fu)，50赫，20瓦(wa)。

補(bu)充參(can)數:

TDZT-04C鐵電性(xing)能綜(zong)合測(ce)試系統

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TDZT-04C鐵電性(xing)能綜(zong)合測(ce)試系統是最(zui)新(xin)壹代(dai)鐵電材(cai)料參(can)數測(ce)試儀適用(yong)於(yu)鐵電薄膜(mo)、鐵電體(ti)材料(liao)（既(ji)可(ke)塊體(ti)材料(liao)）的(de)電性(xing)能測(ce)量(liang)，可(ke)測(ce)量(liang)鐵電薄膜(mo)電(dian)滯回(hui)線、I—V特性及開關(guan)特(te)性(xing)，可(ke)精(jing)確(que)地測(ce)出(chu)具有非(fei)對(dui)稱(cheng)電(dian)滯回(hui)線鐵電薄膜(mo)的(de)Pr值(zhi)。可(ke)測(ce)鐵電體(ti)材料(liao)的(de)電滯回(hui)線及I—V特(te)性(xing)。

主要(yao)技(ji)術(shu)指(zhi)標(biao)：

1.輸出(chu)信號電壓(ya)：：薄膜(mo)：0～±10V 陶(tao)瓷、材料：0～±2000V

2.輸出(chu)信號頻率：薄膜(mo)材(cai)料1-1000HZ，陶(tao)瓷：0-1Hz

3.電容(rong)範圍(wei)：1000nf～ 100nf, 精(jing)度: ≤1%。

4.電流(liu)範圍(wei): 1nA～10A ,精(jing)度: ≤1%。

5、測(ce)試樣(yang)品(pin)：0-20mm  5個(ge)

6、高壓(ya)樣(yang)品(pin)池(chi)：開放(fang)式(shi)：8CM*5CM

7、三維移動薄膜(mo)測(ce)試平(ping)臺(tai)：直(zhi)立(li)式(shi)探(tan)針壹套

8、電流(liu)：1-10倍放(fang)大，信號：1-20倍。.數據(ju)結(jie)口：USB或(huo)BNC接口(kou)。

9. 數據(ju)采集分(fen)析軟(ruan)件(jian)： 能畫(hua)出(chu)鐵電薄膜(mo)的(de)電滯回(hui)線，定(ding)量得(de)到鐵電薄膜(mo)材(cai)料的(de)飽(bao)和(he)極化Ps、剩(sheng)余極化Pr、矯頑場Ec、漏(lou)電流(liu)等(deng)參數;可(ke)以(yi)進(jin)行鐵電薄膜(mo)材(cai)料的(de)鐵電疲(pi)勞性(xing)能、鐵電保(bao)持性能的(de)測(ce)試，電阻測(ce)量(liang)，漏(lou)電流(liu)測(ce)量(liang)。

10.可(ke)以(yi)配合ZJ-3和(he)ZJ-6型(xing)壓(ya)電測(ce)試儀操作系(xi)統

PZT-JH30/1型PVDF薄膜(mo)極化裝(zhuang)置

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PZT-JH30/1壓電(dian)復(fu)合極化裝(zhuang)置主要用於(yu)30KV以下壓電(dian)陶(tao)瓷或(huo)PVDF等(deng)薄壓電(dian)材料(liao)的(de)極化處(chu)理，廣泛應(ying)用於(yu)高(gao)校及從(cong)事(shi)壓(ya)電材料研究(jiu)或(huo)生(sheng)產的(de)科研及生(sheng)產單位，可(ke)以(yi)直接放(fang)置在(zai)實驗(yan)桌(zhuo)上(shang)進(jin)行操作，方(fang)便(bian)安全。

主要(yao)特(te)點：

壹、產品(pin)主(zhu)要(yao)特(te)點：

1、壹鍵(jian)式(shi)操作，數字(zi)化顯示，可(ke)極化各種PVDF薄膜(mo)和(he)壓(ya)電(dian)陶(tao)瓷（聚合物(wu)由偏(pian)氟乙(yi)烯（VDF）、三氟(fu)乙(yi)烯（TRFE）、1,1-氯氟(fu)乙烯(xi)（CFE）和(he)/或(huo)三氟(fu)氯(lv)乙烯（CTFE）的(de)精(jing)選組(zu)合制(zhi)成(cheng)）

2、輸出(chu)電壓高(gao)達(da)2KV，輸出(chu)功率2W

3、打火保(bao)護(hu)和(he)短路保(bao)護(hu)，自動切斷(duan)電(dian)壓(ya)

4、低溫度(du)系(xi)數0.001%每(mei)攝(she)氏(shi)度

5、全數字(zi)化操作，效率高，效果好

6、多種極化方(fang)式(shi)（空(kong)氣(qi)，矽(gui)油(you)，加熱）

7、 外部電位(wei)器或(huo)外部控制(zhi)電壓給定(ding)

8、 小尺寸(cun)，印(yin)刷(shua)電路板安裝(zhuang)

9、 正極性或(huo)負極性輸(shu)出(chu)

主要(yao)技(ji)術(shu)參數：

1、PVDF聚合物(wu)薄膜(mo)樣(yang)品(pin)和(he)PZT壓(ya)電(dian)陶(tao)瓷材料

2、區域表面極化，極化尺寸(cun)：0-20mm,

3、電壓(ya)不(bu)小於(yu)直(zhi)流(liu)負壓(ya)極化30KV，常溫空(kong)氣(qi)極化，矽(gui)油，加熱多(duo)種方式(shi)

4、工作電源：AC220V   50/60HZ  額定(ding)功率：2.0kw

5、壓電(dian)材(cai)料(liao)極化或(huo)耐壓試驗:DC：0-30KV（±5％ 連續可(ke)調(tiao)兩個(ge)字(zi))

6、總(zong)電流(liu)：10mA

7、每(mei)路切斷(duan)電(dian)流(liu):0.5mA

8、標準薄膜(mo)樣(yang)品(pin)：3片1CM*1CM,陶(tao)瓷片：4片直徑：1CM*1MM

9、定(ding)時(shi)：1-99min±5％任(ren)意(yi)設(she)定(ding)

10、加熱元(yuan)件(jian)：優質電阻絲(si)

11、溫度(du)：良(liang)好的(de)溫度(du)控制(zhi)方法

12、外形尺寸(cun)： 寬(kuan)1350高1450深1150mm

13、配置ZJ-3和(he)ZJ-6壓(ya)電(dian)測(ce)試儀

JKZC-YDZK03A

Dielectric tester型

薄膜(mo)介(jie)電和(he)損(sun)耗(hao)阻抗(kang)測(ce)試儀

（*****）

JKZC-YDZK03A

Dielectric tester型薄膜(mo)介(jie)電和(he)損(sun)耗(hao)阻抗(kang)測(ce)試儀

關(guan)鍵(jian)詞：介(jie)電常數，諧(xie)振(zhen)頻率Fp，機電耦合系(xi)數Keff，機(ji)械(xie)品(pin)質因素 Qm

JKZC-YDZK03A   Dielectric tester型介(jie)電測(ce)試儀是壹款(kuan)多(duo)功能的(de)介(jie)電測(ce)試儀，即可(ke)測(ce)試包括介(jie)電常數、介(jie)電損(sun)耗(hao)、電容(rong)等(deng)參數，又(you)可(ke)以(yi)測(ce)量(liang)諧(xie)振(zhen)頻率Fs，反諧(xie)振(zhen)頻率Fp，機電耦合系(xi)數   Keff，機(ji)械(xie)品(pin)質因素 Qm，最(zui)大導納(na)Gmax等(deng)材料(liao)參(can)數，為(wei)材(cai)料研究(jiu)測(ce)試提供(gong)第壹手(shou)原始數據(ju)，提供(gong)元整(zheng)的(de)數據(ju)圖，是高(gao)等(deng)院校(xiao)，科研院(yuan)所(suo)及材(cai)料(liao)研究(jiu)生(sheng)產的(de)重要(yao)工具,同(tong)時(shi)還可(ke)以(yi)配合高(gao)溫設(she)備(bei)，進(jin)行高溫設(she)備(bei)測(ce)試。

壹、主(zhu)要(yao)特點：

自動平(ping)衡技(ji)術(shu)電橋(qiao)，測(ce)量(liang)準確(que)度(du)高

4端(duan)對開爾(er)文(wen)測(ce)試端(duan)，測(ce)量(liang)範圍(wei)準確(que)度(du)高

提供(gong)內部直流(liu)偏(pian)壓-5V～+5V

可(ke)選(xuan)配內部±40V偏(pian)置電壓源

簡體(ti)中文(wen)、英文(wen)操作語(yu)言(yan)

分(fen)檔(dang)測(ce)量(liang)、列(lie)表掃(sao)描、繪(hui)圖(tu)掃(sao)描、開路、短路、負(fu)載(zai)校正等(deng)等(deng)功能

配備(bei)電導(dao)率σ·介(jie)電常數ε的(de)運算(suan)功能

進(jin)行測(ce)試數據(ju)、測(ce)試條件保(bao)存(cun)（U盤(pan)或(huo)內部）

繪(hui)圖(tu)掃(sao)描圖像(xiang)直接拷屏(ping)到U盤(pan)功能

加強(qiang)的(de)測(ce)試端(duan)保護功能

USB、GPIB、RS232、LAN等(deng)上位(wei)機(ji)連接接(jie)口

二(er)、主(zhu)要技術(shu)參數

1、頻率：20HZ-1MHZ,5MHZ,10MHZ,15MHZ,30MHZ，50MHZ多種可(ke)選(xuan)

2、D33測(ce)試範圍(wei)：0-6000PC/N(選(xuan)配ZJ-3型精(jing)密(mi)壓電(dian)系數測(ce)試儀)

5、基本(ben)精(jing)度 ：0.05%

6、測(ce)試電平(ping): 5mV—2Vrms

7、輸出(chu)阻抗(kang): 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

8、測(ce)試參數：D33，電(dian)容(rong)，介(jie)電常數，諧(xie)振(zhen)頻率Fs，反諧(xie)振(zhen)頻率Fp，機電耦合系(xi)數   Keff，機(ji)械(xie)品(pin)質因素 Qm，最(zui)大導納(na)Gmax等(deng)

9、通道數：1通道

10、電極： 雙面(mian)夾(jia)持探針(zhen)

11、軟件(jian)：自(zi)動計算(suan)並輸出(chu)數據(ju)，軟件可(ke)根(gen)據實驗方(fang)案(an)設(she)計，通過測(ce)量(liang)C和(he)D值(zhi)，自動完(wan)成(cheng)介(jie)電常數和(he)介(jie)電損(sun)耗(hao)隨頻率、電壓、偏(pian)壓多(duo)維變化(hua)的(de)曲線。

PDMS-100型

壓電(dian)

材料(liao)

摩擦(ca)

納米(mi)

發電(dian)機(ji)測(ce)試

系統

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PDMS-100型壓(ya)電(dian)材(cai)料摩擦(ca)納(na)米(mi)發電(dian)機(ji)測(ce)試系統

關(guan)鍵(jian)詞：壓(ya)電(dian)，摩擦(ca)，納(na)米(mi)，發電(dian)

PDMS-100型壓(ya)電(dian)材(cai)料摩擦(ca)納(na)米(mi)發電(dian)機(ji)測(ce)試系統利用摩擦(ca)起(qi)電(dian)效應(ying)和(he)靜電(dian)感(gan)應(ying)效應(ying)的(de)耦合把(ba)微小的(de)機械(xie)能轉換(huan)為(wei)電(dian)能。這(zhe)是壹種新(xin)的(de)技術(shu)並具有的(de)輸出(chu)性能和(he)優點。它既用(yong)不(bu)著磁(ci)鐵也(ye)不(bu)用線圈，在(zai)制作(zuo)中用到的(de)是質輕、低密(mi)度並且價廉的(de)高分(fen)子材(cai)料。PDMS-100型(xing)壓電材料(liao)摩(mo)擦(ca)納(na)米(mi)發電(dian)機(ji)的(de)發明(ming)是(shi)機械(xie)能發電(dian)和(he)自(zi)驅(qu)動系統領域的(de)壹個(ge)裏(li)程碑(bei)式(shi)的(de)發現(xian)，這(zhe)為(wei)有(you)效收(shou)集機(ji)械(xie)能提供(gong)了壹個(ge)全新(xin)的(de)模式(shi)。

主要(yao)技(ji)術(shu)參數：

1、采樣(yang)率50k/s，連續可(ke)調(tiao)。

2、分(fen)辨(bian)率16bit

3、輸入(ru)阻抗(kang)：1GΩ

4、輸入(ru)偏(pian)置電流(liu)：+200pA

5、電壓(ya)量(liang)程(cheng)：10μV-200V

6、電流(liu)量程(cheng)：20nA-20mA

7、電阻量(liang)程(cheng)：10mΩ-200GΩ

1. 輸入(ru)電壓(ya)：220V 單(dan)相(xiang)交流(liu)電；

2. 扭矩：1.2 牛米；

3. 有效運行長(chang)度(du)：300mm 高(gao)精(jing)度皮(pi)帶(dai)傳(chuan)控；

4. 定(ding)位精(jing)度：0.06mm；步(bu)進(jin)精(jing)度：0.0086mm

5. 最(zui)大運行速(su)度：300mm/s；

6. 控制(zhi)方式(shi)：電(dian)腦程序(xu)控制(zhi)

7. 壓力(li)傳(chuan)感(gan)器：量(liang)程(cheng)：0~100N，精(jing)度：+/- 0.1N

8.DAQ 數據(ju)采集卡(ka)：支(zhi)持 NI 采集卡(ka)全系(xi)列(lie)，具(ju)體(ti)規格詳(xiang)見(jian) NI (如:USB 6002,6003 等(deng))，可(ke)定(ding)制開發

9. 面包(bao)板光(guang)學平(ping)臺(tai)尺寸(cun): 長(chang) 600mm，寬(kuan) 300mm，厚 13mm

10.頻率：0-5HZ

FTWQ-50小型

柔性(xing)

彎曲

測(ce)試

系統

（*****）

FTWQ-50小型柔性(xing)彎曲測(ce)試系統

柔性(xing)電(dian)子(zi)的(de)出(chu)現(xian)為(wei)經(jing)典(dian)電子學的(de)發展(zhan)提供(gong)了新(xin)的(de)方向(xiang)，觸(chu)發了新(xin)形態電子設(she)備(bei)的(de)產生(sheng)。然而，電子(zi)材料(liao)與器件(jian)由剛(gang)向柔轉變(bian)過程中，傳統的(de)剛(gang)性測(ce)試方法變(bian)得(de)無法完(wan)適(shi)應(ying)，而相匹(pi)配(pei)的(de)柔性(xing)測(ce)試體(ti)系對(dui)推(tui)進(jin)柔性(xing)電(dian)子(zi)行業(ye)的(de)發展(zhan)變(bian)得(de)。在(zai)柔性(xing)電(dian)子(zi)材料(liao)與器件(jian)的(de)測(ce)試過程中，尤(you)其是(shi)在(zai)柔性(xing)電(dian)子(zi)材料(liao)與器件(jian)開發驗(yan)證(zheng)的(de)初期(qi)階(jie)段(duan)，發展(zhan)壹種高自(zi)由度的(de)模塊化柔性(xing)材(cai)料(liao)與器件(jian)測(ce)試系統,對於(yu)提升(sheng)開發驗(yan)證(zheng)效率和(he)降(jiang)低測(ce)試成(cheng)本具(ju)有重(zhong)要意(yi)義(yi)。適(shi)用於(yu)小面積薄膜(mo)、器件(jian)的(de)精(jing)密(mi)拉伸(shen)/彎曲測(ce)試。

產品(pin)特(te)點:

符(fu)合：滿足(zu)GB/T 38001.61-2019柔性(xing)顯示器件(jian)第61部分(fen):機械(xie)應(ying)力試驗方法;

產品(pin)特(te)點：

壹體(ti)化設(she)計，試驗臺(tai)式(shi)，體(ti)積小，占地空(kong)間(jian)小

操作簡(jian)單(dan)，壹鍵(jian)式(shi)操作，可(ke)以(yi)多次連續拉伸

能夠(gou)在(zai)勝(sheng)任(ren)多種不(bu)同(tong)環(huan)境，手(shou)套箱、實(shi)驗(yan)室

百萬(wan)次連續測(ce)試、操作簡(jian)便(bian)、無需培訓; 展臺(tai)、試驗中心(xin)等(deng)空(kong)間(jian)狹(xia)小地方(fang)

適用(yong)範圍(wei)：

適用(yong)於(yu)小面積柔性(xing)薄膜(mo)、柔性(xing)器件(jian)的(de)柔性(xing)拉(la)伸(shen)測(ce)試;

柔性(xing)電(dian)子(zi)教學機(ji)、柔性(xing)電(dian)子(zi)展示(shi)機。

適用(yong)範圍(wei)/ APPLICATION

適用(yong)於(yu)小面積柔性(xing)薄膜(mo)、柔性(xing)器件(jian)的(de)柔性(xing)測(ce)試

技術(shu)參數

彎曲半徑(mm)：0-50

樣(yang)品(pin)寬(kuan)度(ml,)：0-50.0

樣(yang)品(pin)厚(hou)度(du)(mm)：0-4.0

彎曲速(su)度(du)(mm/s)：0-60.0

精(jing)度(mm) ：0.05

重量(liang)(kg)：10

電源：AC(100-200V 50Hz/60Hz)

傳動比：1:1

功率(W)：200

整(zheng)機(ji)尺寸(cun)(mm)：410*250*280

可(ke)以(yi)配置電阻表進(jin)行電壓(ya)，電(dian)流(liu)等(deng)項目測(ce)試

最(zui)大電壓(ya)：64V,

額定(ding)電流(liu)：8A

電壓(ya):1mV.

電流(liu):1MA

電壓(ya)電(dian)流(liu)每(mei)秒(miao)各:50/25/10/5/1次

可(ke)調(tiao):0.05%+3個(ge)字(zi)小於(yu)30PPM

電壓(ya)基(ji)準:1000小時(shi)25PPM,

分(fen)壓電(dian)阻:額定(ding)功率1000小時(shi)+0.05%,檢流(liu)電阻:額定(ding)功率1000小時(shi)+0.5%

表頭供(gong)電隔(ge)離，測(ce)量(liang)通道正負(fu)極反接(jie)不(bu)燒，輸(shu)入(ru)輸出(chu)反接(jie)不(bu)燒，正負(fu)極和(he)輸(shu)入(ru)輸出(chu)都(dou)反接(jie)也(ye)不(bu)燒

電壓(ya)電(dian)流(liu)數據(ju)采集軟(ruan)件(jian)實時(shi)監(jian)測(ce)

FTLS-100

小型

柔性(xing)

拉伸(shen)

測(ce)試

系統

（*****）

FTLS-100小型柔性(xing)拉(la)伸(shen)測(ce)試系統

FTLS-100型小型柔性(xing)拉(la)伸(shen)測(ce)試系統是壹款(kuan)應(ying)用於(yu)適用(yong)於(yu)小面積柔性(xing)薄膜(mo)、柔性(xing)器件(jian)的(de)柔性(xing)測(ce)試;柔性(xing)電(dian)子(zi)教學機(ji)、柔性(xing)電(dian)子(zi)展示(shi)機。

滿足(zu)GB/T 38001.61-2019柔性(xing)顯示器件(jian)第6-1部分(fen)：機械(xie)應(ying)力試驗方法；百(bai)萬(wan)次連續測(ce)試，操作簡(jian)便(bian)、無需培訓；體(ti)積小巧，適(shi)用(yong)於(yu)展(zhan)臺(tai)、試驗中心(xin)、手(shou)套箱、實(shi)驗(yan)室等(deng)。

符(fu)合：滿足(zu)GB/T 38001.61-2019柔性(xing)顯示器件(jian)第61部分(fen):機械(xie)應(ying)力試驗方法;

產品(pin)特(te)點：

壹體(ti)化設(she)計，試驗臺(tai)式(shi)，體(ti)積小，占地空(kong)間(jian)小

操作簡(jian)單(dan)，壹鍵(jian)式(shi)操作，可(ke)以(yi)多次連續拉伸

能夠(gou)在(zai)勝(sheng)任(ren)多種不(bu)同(tong)環(huan)境，手(shou)套箱、實(shi)驗(yan)室

百萬(wan)次連續測(ce)試、操作簡(jian)便(bian)、無需培訓; 展臺(tai)、試驗中心(xin)等(deng)空(kong)間(jian)狹(xia)小地方(fang)

適用(yong)範圍(wei)：

適用(yong)於(yu)小面積柔性(xing)薄膜(mo)、柔性(xing)器件(jian)的(de)柔性(xing)拉(la)伸(shen)測(ce)試;

柔性(xing)電(dian)子(zi)教學機(ji)、柔性(xing)電(dian)子(zi)展示(shi)機。

技術(shu)參數：

測(ce)試長(chang)度(du)(mm)：0-100.0；

測(ce)試寬(kuan)度(mm)：0-50.0

樣(yang)品(pin)厚(hou)度(du)(mm)：0-4.0

最(zui)大運行速(su)度(mm/s)：0-60.0

精(jing)度(mm)：0.05

重量(liang)(kg)：10

電源：AC(100-200V 50Hz/60Hz)

傳動比：1: 1

功率：200w

整(zheng)機(ji)尺寸(cun)(mm)：410*260*215

最(zui)大電壓(ya)：64V,

額定(ding)電流(liu)：8A

電壓(ya):1mV.

電流(liu):1MA

電壓(ya)電(dian)流(liu)每(mei)秒(miao)各:50/25/10/5/1次

可(ke)調(tiao):0.05%+3個(ge)字(zi)小於(yu)30PPM

電壓(ya)基(ji)準:1000小時(shi)25PPM,

分(fen)壓電(dian)阻:額定(ding)功率1000小時(shi)+0.05%,檢流(liu)電阻:額定(ding)功率1000小時(shi)+0.5%

表頭供(gong)電隔(ge)離，測(ce)量(liang)通道正負(fu)極反接(jie)不(bu)燒，輸(shu)入(ru)輸出(chu)反接(jie)不(bu)燒，正負(fu)極和(he)輸(shu)入(ru)輸出(chu)都(dou)反接(jie)也(ye)不(bu)燒

電壓(ya)電(dian)流(liu)數據(ju)采集軟(ruan)件(jian)實時(shi)監(jian)測(ce)

FTZD-120小型

柔性(xing)

折疊(die)

測(ce)試

系統

（*****）

FTZD-120小型柔性(xing)折(zhe)疊(die)測(ce)試系統

柔性(xing)電(dian)子(zi)的(de)出(chu)現(xian)為(wei)經(jing)典(dian)電子學的(de)發展(zhan)提供(gong)了新(xin)的(de)方向(xiang)，觸(chu)發了新(xin)形態電子設(she)備(bei)的(de)產生(sheng)。然而，電子(zi)材料(liao)與器件(jian)由剛(gang)向柔轉變(bian)過程中，傳統的(de)剛(gang)性測(ce)試方法變(bian)得(de)無法完(wan)適(shi)應(ying)，而相匹(pi)配(pei)的(de)柔性(xing)測(ce)試體(ti)系對(dui)推(tui)進(jin)柔性(xing)電(dian)子(zi)行業(ye)的(de)發展(zhan)變(bian)得(de)。在(zai)柔性(xing)電(dian)子(zi)材料(liao)與器件(jian)的(de)測(ce)試過程中，尤(you)其是(shi)在(zai)柔性(xing)電(dian)子(zi)材料(liao)與器件(jian)開發驗(yan)證(zheng)的(de)初期(qi)階(jie)段(duan),發展(zhan)-種高自(zi)由度的(de)模塊化柔性(xing)材(cai)料(liao)與器件(jian)測(ce)試系統,對於(yu)提升(sheng)開發驗(yan)證(zheng)效率和(he)降(jiang)低測(ce)試成(cheng)本具(ju)有重(zhong)要意(yi)義(yi)。

產品(pin)特(te)點

[1]滿足(zu)GB/T 38001.61-2019柔性(xing)顯示器件(jian)第6-1部分(fen):機械(xie)應(ying)力試驗方法;

[2]萬(wan)次連續測(ce)試、操作簡(jian)便(bian)無需培訓;

[3]體(ti)積小巧、適(shi)用(yong)於(yu)展(zhan)臺(tai)、試驗中心(xin)手(shou)套箱、實(shi)驗(yan)室等(deng)。

適用(yong)範圍(wei)：

適用(yong)於(yu)小面積柔性(xing)薄膜(mo)、柔性(xing)器件(jian)的(de)柔性(xing)測(ce)試;

柔性(xing)電(dian)子(zi)教學機(ji)、柔性(xing)電(dian)子(zi)展示(shi)機。

亮點：體(ti)積小巧；柔性(xing)電(dian)子(zi)教學機(ji)、展示(shi)機。

技術(shu)參數：

樣(yang)品(pin)尺寸(cun)(mm)：Max (50*120)

樣(yang)品(pin)厚(hou)度(du)(mm)：0-1.0

折疊(die)角(jiao)度(du)(°)：0- 180.0

折疊(die)角(jiao)度(du)(°)：0-90.0

折疊(die)半徑(mm)：0.5- -5.0

折疊(die)速(su)度(du)(/s)：0-90.0

重量(liang)(Kg)：10

電源：AC(100-200V 50Hz/60Hz)

傳動比：1: 1

功率：200W

最(zui)大電壓(ya)：64V,

額定(ding)電流(liu)：8A

電壓(ya):1mV.

電流(liu):1MA

電壓(ya)電(dian)流(liu)每(mei)秒(miao)各:50/25/10/5/1次

可(ke)調(tiao):0.05%+3個(ge)字(zi)小於(yu)30PPM

電壓(ya)基(ji)準:1000小時(shi)25PPM,

分(fen)壓電(dian)阻:額定(ding)功率1000小時(shi)+0.05%,檢(jian)流(liu)電阻:額定(ding)功率1000小時(shi)+0.5%

表頭供(gong)電隔(ge)離，測(ce)量(liang)通道正負(fu)極反接(jie)不(bu)燒，輸(shu)入(ru)輸出(chu)反接(jie)不(bu)燒，正負(fu)極和(he)輸(shu)入(ru)輸出(chu)都(dou)反接(jie)也(ye)不(bu)燒

電壓(ya)電(dian)流(liu)數據(ju)采集軟(ruan)件(jian)實時(shi)監(jian)測(ce)