FTLS-100型小(xiao)型(xing)柔(rou)性(xing)拉伸(shen)測試系統(tong)是(shi)壹(yi)款(kuan)應(ying)用(yong)於(yu)適(shi)用(yong)於(yu)小(xiao)面積柔(rou)性(xing)薄(bo)膜(mo)、柔(rou)性(xing)器(qi)件(jian)的(de)柔(rou)性(xing)測試;柔(rou)性(xing)電(dian)子(zi)教(jiao)學機(ji)、柔(rou)性(xing)電(dian)子(zi)展(zhan)示機(ji)。$n$n滿足GB/T 38001.61-2019柔(rou)性(xing)顯示器件(jian)第(di)6-1部(bu)分(fen)：機(ji)械應力(li)試驗(yan)方(fang)法；百(bai)萬次(ci)連續測試，操作(zuo)簡便、無(wu)需培(pei)訓；體(ti)積小(xiao)巧，適(shi)用(yong)於(yu)展(zhan)臺(tai)、試驗(yan)中心、手套箱、實驗(yan)室(shi)等。$n$n符合(he)：滿足GB/T 38001.61-2019柔(rou)性(xing)顯示器件(jian)第(di)61部(bu)分(fen):機(ji)械應力(li)試驗(yan)方(fang)法;

FTZT-3000柔(rou)性(xing)材(cai)料(liao)測試儀包含拉伸(shen)、彎曲、彎折、扭轉(zhuan)四(si)種(zhong)運(yun)動(dong)測試模式(shi)。適(shi)用(yong)於(yu)印(yin)刷電極、導(dao)電(dian)高分子(zi)、石(shi)墨烯、液(ye)態金屬和(he)水凝膠(jiao)等柔(rou)性(xing)材(cai)料(liao)，以及(ji)傳感器(qi)、電(dian)容(rong)器、電(dian)池(chi)、OLED和(he)電子(zi)皮(pi)膚等柔(rou)性(xing)電(dian)子(zi)器(qi)件(jian)。可(ke)以采集運(yun)動(dong)測試過程(cheng)中測試材料(liao)的(de)電阻(zu)、電壓或電(dian)流(liu)。可(ke)以在電(dian)腦(nao)上實時讀(du)取(qu)測量(liang)數據，並(bing)對(dui)數據進行(xing)記(ji)錄(lu)和(he)分析(xi)，顯示平(ping)面坐標(biao)曲(qu)線(xian)和圖形(xing)。$n$n測試原理及(ji)結構(gou)參(can)考(kao)國(guo)標(biao)文(wen)件(jian)《GB／T 38001.

2024柔(rou)性(xing)材(cai)料(liao)電(dian)子(zi)測試實驗(yan)室(shi)設(she)備壹覽(lan)表(biao) 1、實驗(yan)室(shi)內設(she)備在使(shi)用(yong)時(shi)要細心(xin)謹(jin)慎。 2、實驗(yan)室(shi)內壹(yi)切儀器(qi)設(she)備未(wei)經允(yun)許(xu)不(bu)得(de)拆開(kai)，設(she)備配件(jian)專配專用(yong)，不(bu)得(de)拆作(zuo)他用(yong)，不(bu)得(de)攜(xie)帶(dai)至(zhi)室(shi)外(wai)。 3、嚴(yan)禁(jin)私(si)拉亂(luan)接(jie)電源(yuan)、實驗(yan)室(shi)內任(ren)何(he)用(yong)電(dian)設(she)備和電(dian)源(yuan)不(bu)得(de)隨(sui)意(yi)觸(chu)摸(mo)摸(mo)弄，以防觸(chu)電。 4、實驗(yan)操作(zuo)畢，檢(jian)查(zha)門、窗、水、電、氣(qi)，方(fang)可(ke)離(li)開(kai)實驗(yan)室(shi)。 5、如(ru)接(jie)通電源(yuan)後(hou)，保(bao)險絲(si)熔斷，必(bi)須(xu)檢查(zha)故(gu)障(zhang)原因，在(zai)排除障(zhang)礙(ai)後，方(fang)可(ke)重(zhong)新接(jie)通電源(yuan)。

DETS-5000介電(dian)彈(dan)性(xing)體(ti)測試系統(tong)是(shi)壹(yi)款(kuan)采(cai)用(yong)高(gao)壓放(fang)大器信(xin)號(hao)源(yuan)輸(shu)出(chu)0-3V頻率為1-10HZ的(de)正弦(xian)波電(dian)壓信(xin)號(hao)，輸(shu)出(chu)到(dao)功(gong)率放(fang)大器中，通過功(gong)率放(fang)大器放(fang)大至(zhi)0-1500V電壓，高電(dian)壓輸出(chu)到(dao)電活性(xing)異(yi)性(xing)電(dian)荷(he)，產生靜電力(li)，擠(ji)壓電活性(xing)聚(ju)合(he)物產生形變。是(shi)研究介電(dian)材(cai)料(liao)驅(qu)動 / 壓電驅(qu)動 / 電(dian)光(guang)調(tiao)制 / 材料(liao)極化(hua) 離(li)子(zi)體(ti)研究 / 耐(nai)壓測試 / 靜電(dian)偏轉 / 粒子(zi)加(jia)速器(qi) 質(zhi)譜(pu)的(de)重壓儀器(qi)。

柔(rou)性(xing)電(dian)子(zi)的(de)出現(xian)為經典電子(zi)學(xue)的(de)發(fa)展提供了新的(de)方(fang)向(xiang)，觸(chu)發(fa)了新形(xing)態電子(zi)設(she)備的(de)產生。然而，電子(zi)材(cai)料(liao)與器件(jian)由剛(gang)向(xiang)柔(rou)轉(zhuan)變(bian)過程(cheng)中，傳統的(de)剛性(xing)測試方(fang)法變(bian)得(de)無(wu)法適(shi)應，而相匹(pi)配(pei)的(de)柔(rou)性(xing)測試體(ti)系對(dui)推(tui)進柔(rou)性(xing)電(dian)子(zi)行(xing)業(ye)的(de)發(fa)展變(bian)得(de)。在(zai)柔(rou)性(xing)電(dian)子(zi)材(cai)料(liao)與器件(jian)的(de)測試過程(cheng)中，尤其是(shi)在(zai)柔(rou)性(xing)電(dian)子(zi)材(cai)料(liao)與器件(jian)開發(fa)驗(yan)證的(de)初期階段，發(fa)展壹(yi)種(zhong)高(gao)自(zi)由度(du)的(de)模塊化(hua)柔(rou)性(xing)材(cai)料(liao)與器件(jian)測試系統(tong),對於(yu)提升(sheng)開發(fa)驗(yan)證效率和降低(di)測試成(cheng)本具(ju)有重要意(yi)義。適(shi)用(yong)於(yu)小(xiao)面積薄(bo)膜(mo)、器(qi)件(jian)的(de)

FTZD-120小型(xing)柔(rou)性(xing)折疊測試系統(tong) 柔(rou)性(xing)電(dian)子(zi)的(de)出現(xian)為經典電子(zi)學(xue)的(de)發(fa)展提供了新的(de)方(fang)向(xiang)，觸(chu)發(fa)了新形(xing)態電子(zi)設(she)備的(de)產生。然而，電子(zi)材(cai)料(liao)與器件(jian)由剛(gang)向(xiang)柔(rou)轉(zhuan)變(bian)過程(cheng)中，傳統的(de)剛性(xing)測試方(fang)法變(bian)得(de)無(wu)法適(shi)應，而相匹(pi)配(pei)的(de)柔(rou)性(xing)測試體(ti)系對(dui)推(tui)進柔(rou)性(xing)電(dian)子(zi)行(xing)業(ye)的(de)發(fa)展變(bian)得(de)。在(zai)柔(rou)性(xing)電(dian)子(zi)材(cai)料(liao)與器件(jian)的(de)測試過程(cheng)中，尤其是(shi)在(zai)柔(rou)性(xing)電(dian)子(zi)材(cai)料(liao)與器件(jian)開發(fa)驗(yan)證的(de)初期階段,發(fa)展-種(zhong)高(gao)自(zi)由度(du)的(de)模塊化(hua)柔(rou)性(xing)材(cai)料(liao)與器件(jian)測試系統(tong),對於(yu)提升(sheng)開發(fa)驗(yan)證效率