JKZC-ZCBR9界面材料熱(re)阻測試儀(yi)壹款適用於均(jun)質(zhi)及非均(jun)質(zhi)之導(dao)熱(re)電絕(jue)緣(yuan)熱(re)界面材料的(de)等效熱(re)傳(chuan)導(dao)系數(shu)與(yu)熱(re)阻抗(kang)測試，如(ru)：導(dao)熱(re)膏(gao)、導(dao)熱(re)片(pian)、導(dao)熱(re)膠(jiao)、界面材料、相(xiang)變(bian)化材料、陶瓷(ci)、金屬(shu)、基板(ban)、鋁(lv)基板(ban)、覆銅基(ji)板(ban)、軟(ruan)板(ban)等。 熱(re)導(dao)電絕(jue)緣(yuan)界面材料的(de)主要功(gong)用，在(zai)於提(ti)升電(dian)子(zi)產品(pin)應(ying)用端(duan)之熱(re)傳(chuan)導(dao)能力(li)，因(yin)此知(zhi)道(dao)其熱(re)傳(chuan)導(dao)性(xing)質(zhi)是很(hen)重要的(de)。

JSDT-300A型(xing)智能金屬(shu)導(dao)線(xian)、棒(bang)材電阻(zu)率(lv)儀能便(bian)攜全(quan)自(zi)動(dong)測量導(dao)線(xian)、棒(bang)材電阻(zu)率(lv)、電導(dao)率(lv)等參(can)數(shu)高性(xing)能檢(jian)測儀器(qi)。

JSRT-1000型(xing)金屬(shu)線(xian)材電阻(zu)率(lv)測試儀(yi)是壹款針高分(fen)辨率(lv)、高精(jing)度(du)的(de)臺(tai)式機型(xing)，可(ke)用(yong)於金屬(shu)線(xian)材、棒(bang)材等材料電(dian)阻(zu)率(lv)、電導(dao)率(lv)測量及絞(jiao)合電(dian)線(xian)電纜(lan)電阻、米(mi)電阻(zu)的(de)高精(jing)度(du)測量。 集優良(liang)電(dian)子(zi)技術(shu)、單片(pian)機(ji)技術(shu)、自動(dong)檢(jian)測技術(shu)於壹體、自(zi)動(dong)化功(gong)能強，操(cao)作(zuo)簡(jian)單(dan)。 僅(jin)按壹次(ci)鍵，所有測量數(shu)值(zhi)即可(ke)獲(huo)得(de)，無(wu)需(xu)任(ren)何(he)計(ji)算，適合(he)於連(lian)續、快速(su)、準確檢(jian)測。 交流電(dian)及電池(chi)供電設(she)計(ji)，適(shi)用(yong)於現(xian)場(chang)及野外使用(yong)。是目前高校(xiao)和生產(chan)單位及國(guo)家電網(wang)等的(de)電

JBRT-300型(xing)智能金屬(shu)箔電(dian)阻(zu)率(lv)測量儀(yi)是壹款便(bian)攜全(quan)自(zi)動(dong)測量金屬(shu)箔、金屬(shu)薄帶(dai)的(de)電阻(zu)率(lv)、電導(dao)率(lv)等參(can)數(shu)高性(xing)能檢(jian)測儀器(qi)。應(ying)用電(dian)流–電(dian)壓(ya)降(jiang)四(si)端(duan)子(zi)測量法、優(you)良的(de)電子(zi)技術(shu)、單片(pian)機(ji)技術(shu)及自動(dong)檢(jian)測技術(shu)設(she)計(ji)的(de)高新(xin)產(chan)品(pin)。其性(xing)能符(fu)合(he)GB/T22638.6－2016中的(de)相關(guan)技術(shu)要求(qiu)。廣(guang)泛(fan)應(ying)用於金屬(shu)箔、金屬(shu)薄帶(dai)、電(dian)池(chi)極耳等新(xin)能源(yuan)領(ling)域及電力(li)電工(gong)、電機電(dian)器(qi)、高等院(yuan)校(xiao)、科研單(dan)位等行(xing)業。

HTIM-300高低(di)溫(wen)材料電(dian)阻(zu)率(lv)測試儀(yi)主要用於半(ban)導(dao)體材料導(dao)電性(xing)能的(de)評估(gu)和(he)測試，該(gai)系(xi)統(tong)采用四(si)線(xian)電阻(zu)法測量原(yuan)理進(jin)行(xing)設(she)計(ji)開發，可(ke)以(yi)在(zai)高溫、真(zhen)空氣氛的(de)條件下(xia)測量半(ban)導(dao)體材料電(dian)阻(zu)和電阻(zu)率(lv)，可(ke)以(yi)分(fen)析被測樣品(pin)電(dian)阻(zu)和(he)電阻率(lv)隨(sui)溫(wen)度、時(shi)間(jian)變(bian)化的(de)曲線(xian)。目前主要針對(dui)圓(yuan)片(pian)、方(fang)塊、長(chang)條(tiao)等(deng)測試樣(yang)品(pin)進(jin)行(xing)測試，可(ke)以(yi)廣泛(fan)用於半(ban)導(dao)體材料矽(gui)（si）、鍺(zhe)（ge）,化合(he)物半(ban)導(dao)體材料砷(shen)化鎵(GaAs)、銻化銦(yin)（InSb），三元化合(he)物半(ban)導(dao)體GaA

PEA-101A+型(xing)絕(jue)緣(yuan)材料空間電(dian)荷激(ji)發(fa)及測試系(xi)統(tong)