描述：JKZC-BMZD01型薄(bo)膜(mo)介(jie)電常數及損(sun)耗(hao)測(ce)試儀是壹(yi)款(kuan)針(zhen)對(dui)薄(bo)膜(mo)測試的(de)專(zhuan)用設(she)備(bei)，測試薄(bo)膜(mo)介(jie)電常數及損(sun)耗(hao)需要(yao)特制(zhi)的(de)夾(jia)具(ju)，通過(guo)軟(ruan)件(jian)可以(yi)采集(ji)到(dao)介(jie)損（tgd）及介(jie)電常數（ε）器件(jian)的(de)介(jie)電性能(neng)測(ce)量與分(fen)析，可測(ce)試以下(xia)參數(shu)隨(sui)頻(pin)率(f)、電平(V)、偏(pian)壓(ya)(Vi)的(de)變化(hua)規律(lv)：電容(C)、電感(gan)(L)、電阻(R)、電抗(kang)(X)、阻抗(kang)(Z)、相位角(Ø)、電導(B)、導納(Y)、損(sun)耗(hao)(D)、品質因數(shu)(Q)等(deng)參數(shu)，同(tong)時(shi)計算

JKZC-BMZD01型薄(bo)膜(mo)介(jie)電常數（ε）及損(sun)耗(hao)測試儀（tgd）

關鍵(jian)詞(ci)：介(jie)電常數（ε），損耗(hao)測(ce)試儀（tgd），品質因數(shu)(Q)，頻(pin)率(f)

     JKZC-BMZD01型薄(bo)膜(mo)介(jie)電常數（ε）及損(sun)耗(hao)測試儀（tgd）是目(mu)前(qian)針對(dui)PVDF薄(bo)膜(mo)材料(liao)，是(shi)壹(yi)款(kuan)真(zhen)正(zheng)意義(yi)上(shang)的(de)絕緣薄(bo)膜(mo)材料(liao)介(jie)電常數及介(jie)質損(sun)耗(hao)測試儀。是目前(qian)能(neng)夠處理的(de)介(jie)電常數（ε）和(he)介(jie)損（tgd）的(de)圖譜。GB/T1693-2007主(zhu)要(yao)用於(yu)測(ce)量高(gao)壓(ya)工業(ye)絕緣材料(liao)的(de)介(jie)質損(sun)耗(hao)角的(de)正(zheng)切值及(ji)電容量。其采用(yong)了(le)西林(lin)電橋(qiao)的(de)經(jing)典(dian)線(xian)路(lu)。主(zhu)要(yao)可以(yi)測(ce)量電容器，互感(gan)器(qi)，變壓(ya)器(qi)，各(ge)種(zhong)電工油(you)及(ji)各(ge)種(zhong)固體絕緣(yuan)材料(liao)在(zai)工頻(pin)高壓(ya)下(xia)的(de)介(jie)質損(sun)耗(hao)( tgd)和(he)電容量( Cx)以(yi)，其測(ce)量線(xian)路(lu)采用(yong)“正(zheng)接(jie)法"即測(ce)量對(dui)地(di)絕緣的(de)試品。電橋(qiao)由(you)橋(qiao)體、指另(ling)儀、跟(gen)蹤器(qi)組成(cheng)，本(ben)電橋(qiao)特(te)別(bie)適應測量各(ge)類絕緣(yuan)油和(he)絕(jue)緣(yuan)材料(liao)的(de)介(jie)損（tgd）及介(jie)電常數（ε）。

   JKZC-BMZD01型薄(bo)膜(mo)介(jie)電常數及損(sun)耗(hao)測(ce)試儀是壹(yi)款(kuan)針(zhen)對(dui)薄(bo)膜(mo)測試的(de)專(zhuan)用設(she)備(bei)，測試薄(bo)膜(mo)介(jie)電常數及損(sun)耗(hao)需要(yao)特制(zhi)的(de)夾(jia)具(ju)，通過(guo)軟(ruan)件(jian)可以(yi)采集(ji)到(dao)介(jie)損（tgd）及介(jie)電常數（ε）器件(jian)的(de)介(jie)電性能(neng)測(ce)量與分(fen)析，可測(ce)試以下(xia)參數(shu)隨(sui)頻(pin)率(f)、電平(V)、偏(pian)壓(ya)(Vi)的(de)變化(hua)規律(lv)：電容(C)、電感(gan)(L)、電阻(R)、電抗(kang)(X)、阻抗(kang)(Z)、相位角(Ø)、電導(B)、導納(Y)、損(sun)耗(hao)(D)、品質因數(shu)(Q)等(deng)參數(shu)，同(tong)時(shi)計算獲得反(fan)應材料(liao)介(jie)電性能(neng)的(de)復介(jie)電常數和(he)損(sun)耗(hao)參數(shu)。

         薄(bo)膜(mo)介(jie)電常數（ε）         薄(bo)膜(mo)介(jie)損（tgd）圖譜(pu)

三(san)電極結構(gou)設(she)計：

微調千分尺(chi)：微調千分尺(chi)具備(bei)0.001mm的(de)調節精(jing)度(du)，可精(jing)細(xi)化(hua)調節上(shang)下(xia)電極之(zhi)間(jian)的(de)距(ju)離(li)。

平行板測(ce)試電極：下(xia)電極固定在(zai)底(di)部(bu)支(zhi)撐(cheng)座(zuo)，上(shang)電極可由(you)微調千分尺(chi)調節行(xing)程距(ju)離(li)。上電極帶有保(bao)護(hu)電極。

上電極片：上電極標(biao)配(pei)有2mm球頭(tou)電極、φ26.8mm圓片電極和(he)φ38mm圓片電極。可根(gen)據樣(yang)品大(da)小隨(sui)時(shi)更換。

鎖緊(jin)裝(zhuang)置：當樣(yang)品放入上(shang)下(xia)電極之(zhi)間(jian)後，可調節此(ci)鎖(suo)緊裝置，固定上(shang)下(xia)電極的(de)調節行(xing)程。防止(zhi)輕微移(yi)動(dong)引(yin)起(qi)的(de)刻(ke)度(du)偏(pian)差(cha)。

嚴格按照(zhao)ASTM D150國際標(biao)準設(she)計，電極表(biao)面鍍(du)金處理(li)，導電性能(neng)好(hao)、抗(kang)氧化(hua)，使(shi)用(yong)壽(shou)命更長(chang)

壹(yi)、真正(zheng)的(de)三(san)電極設(she)計

介(jie)電夾(jia)具(ju)基(ji)於(yu)ASTM D150標(biao)準試驗(yan)方法，采用(yong)三(san)電極法設(she)計。上(shang)電極+下(xia)電極+保(bao)護(hu)電極，電極表(biao)面鍍(du)金處理(li)，導電性能(neng)好(hao)、抗(kang)氧化(hua)。為(wei)消除測(ce)試連接(jie)線阻抗(kang)及連接(jie)線之(zhi)間(jian)相互耦(ou)合(he)對(dui)測(ce)試的(de)影(ying)響(xiang)，儀(yi)器(qi)與夾(jia)具(ju)電極連接(jie)采用(yong)4端(duan)對(dui)法。

得益(yi)於測(ce)試線纜(lan)和(he)電極引線的(de)良好屏(ping)蔽(bi)，屏蔽(bi)層(ceng)直達(da)測試電極，因此(ci)獲得更高(gao)的(de)校準頻(pin)率。

2.校準頻(pin)率最高(gao)可達(da)100MHz

適配(pei)的(de)阻抗(kang)分析儀(yi)更加豐(feng)富，充分(fen)利(li)用測(ce)試儀器的(de)測試頻(pin)率範圍（20Hz-120MHz），以滿足測試樣品對(dui)更高(gao)頻(pin)率的(de)要(yao)求(qiu)。

3.高精(jing)度(du)調節行(xing)程

適配(pei)高(gao)精度(du)微調千分尺(chi)，可調精度為(wei)0.001mm，

上電極可調行程為(wei)12mm，並(bing)帶(dai)有鎖(suo)緊(jin)裝(zhuang)置，可有效鎖(suo)定當前(qian)刻(ke)度(du)位置，確保(bao)測(ce)試的(de)穩定性(xing)和(he)準確性。

標(biao)配(pei)26.8/38mm尺(chi)寸電極片，可滿足不同(tong)尺(chi)寸樣(yang)品測(ce)量，樣(yang)品(pin)安裝方(fang)便(bian)、簡單

主(zhu)要(yao)技術(shu)參數(shu)：

1、測試頻(pin)率：DC~100MHz

2、樣品(pin)要(yao)求(qiu)：雙面塗覆(fu)電極，保(bao)持(chi)平整、光(guang)滑

3、樣品(pin)尺(chi)寸：2mm≤φ≤60mm，厚(hou)度(du)≤10mm

4、電極圓片：無。有效面積：樣(yang)品上(shang)下(xia)塗覆(fu)電極垂(chui)直重疊部(bu)分面積

5、誤差(cha)分析：存在(zai)邊緣電容，樣品表(biao)面凹陷(xian)處被導電體填充

6、測試接口(kou)：4個SMA母(mu)頭

7、上電極：φ2mm球頭電極+φ26.8mm圓片電極+φ38mm圓片電極

8、保(bao)護(hu)電極：上電極帶保(bao)護(hu)電極，電極表(biao)面鍍(du)金

9、上電極壓(ya)力調節：12mm行(xing)程調節，用(yong)於(yu)上電極與樣(yang)品良(liang)好的(de)電性能(neng)接(jie)觸

10、帶電極樣品尺(chi)寸：2mm≤φ≤60mm，厚(hou)度(du)≤10m

11、設(she)計標(biao)準：ASTM D150和(he)D2149-97國(guo)際標(biao)準，GB/T1409-2006國(guo)家(jia)標(biao)準

12、電極結構(gou)：兩(liang)平行板電極+保(bao)護(hu)電極，三(san)電極結構(gou)

13、電極引線：同(tong)軸屏(ping)蔽(bi)線，消除電磁(ci)幹擾(rao)對(dui)測(ce)試影(ying)響(xiang)

14、下(xia)電極：φ60mm鍍(du)金圓片電極

15、上電極行程調節：12mm行(xing)程調節，用(yong)於(yu)樣品安裝

16、數據(ju)存儲(chu)：數(shu)據(ju)庫(ku)保(bao)存各(ge)類實驗(yan)數據，同時(shi)輸出TXT、XLS、BMP等(deng)格式(shi)文(wen)件(jian)，對(dui)實(shi)驗(yan)數據提(ti)供豐富的(de)查(zha)詢(xun)與分(fen)析，輸出圖(tu)形與數(shu)據。