描(miao)述：JK-TPS-2000型(xing)熱常數分析(xi)儀(yi)該(gai)儀(yi)器(qi)采用(yong)優(you)良(liang)的(de)瞬變(bian)平面熱源(yuan)法(fa)及(ji)縱(zong)向(xiang)熱流技(ji)術，具有方便、快(kuai)捷(jie)、精確的(de)特(te)點(dian)，可(ke)用(yong)來(lai)測(ce)量各(ge)種(zhong)不同(tong)類型(xing)材料(liao)的(de)熱導(dao)率(lv)、熱擴(kuo)散(san)率(lv)以及熱熔(rong)，適用(yong)的(de)熱導(dao)系(xi)數範圍0.01-200W/MK之間，適(shi)用樣(yang)品類型(xing)：固體、粉末(mo)、塗(tu)層、液體、各向異性(xing)材料等(deng)多種(zhong)不同(tong)形(xing)式(shi)材(cai)料。

JK-TPS-2000型(xing)熱常數分析(xi)儀(yi)

         JK-TPS-2000型(xing)熱常數分析(xi)儀(yi)該儀器(qi)采用(yong)優(you)良(liang)的(de)瞬變(bian)平面熱源(yuan)法(fa)及(ji)縱(zong)向(xiang)熱流技(ji)術，具有方便、快(kuai)捷(jie)、精確的(de)特(te)點(dian)，可(ke)用(yong)來(lai)測(ce)量各(ge)種(zhong)不同(tong)類型(xing)材料(liao)的(de)熱導(dao)率(lv)、熱擴(kuo)散(san)率(lv)以及熱熔(rong)，適用(yong)的(de)熱導(dao)系(xi)數範圍0.01-200W/MK之間，適用(yong)樣品類型(xing)：固體、粉末(mo)、塗(tu)層、液體、各向異性(xing)材料等(deng)多種(zhong)不同(tong)形(xing)式(shi)材(cai)料。參考(kao)標(biao)準：ISO22007-2。

主要特(te)點(dian)：

1. 直接測(ce)量瞬態(tai)熱傳播，測(ce)試(shi)時(shi)間(jian)在分秒(miao)之間(jian)。

2. 不會和(he)靜態(tai)法壹樣受到(dao)接觸(chu)熱阻的(de)影(ying)響(xiang)

3. 無(wu)須(xu)特(te)別的(de)樣(yang)品(pin)制備，只(zhi)需(xu)相對平整(zheng)的(de)樣(yang)品(pin)表(biao)面(mian)

4. 可(ke)用(yong)於(yu)固體、粉末(mo)、液(ye)體、各向異性(xing)材料等(deng)熱物(wu)性(xing)參數的(de)測(ce)定(ding)。

技(ji)術要求(qiu)及參數：

（1）壹次測(ce)試(shi)可(ke)同(tong)時得(de)到(dao)被測(ce)樣(yang)品(pin)導(dao)熱系(xi)數、熱擴(kuo)散(san)系(xi)數和(he)比熱容(rong)（體積）三(san)個數據(ju)；

（2）內置(zhi)精度(du)不低(di)於(yu)6位半的(de)Keithley高(gao)精度(du)萬用(yong)表，可(ke)測(ce)最(zui)小電(dian)壓至(zhi)0.1uV，最小直(zhi)流電流至(zhi)10nA；開(kai)關觸(chu)動時間小於(yu)3ms；並配(pei)置(zhi)最小測(ce)量精度(du)為± 438nA的(de)源(yuan)表(biao)；數字(zi)化(hua)電(dian)壓(ya)取(qu)樣率(lv)為不低(di)於(yu)90000/秒；設備安裝(zhuang)時需(xu)要檢(jian)查上述硬(ying)件，保(bao)證(zheng)高(gao)精度(du)原(yuan)始(shi)數據(ju)的(de)獲(huo)取(qu)；

（3）導(dao)熱系(xi)數測(ce)定(ding)範圍≥0.005~1800 W/(m٠K)；

（4）熱擴(kuo)散(san)率(lv)≥0.01~1200mm2/S；

（5）比熱測(ce)量範(fan)圍≥0.01~5 MJ/(m3K)；

（6）*導(dao)熱系(xi)數測(ce)量精度(du)≤± 3 %；

（7）熱擴(kuo)散(san)率(lv)測(ce)量精度(du)≤± 5 %；

（8）比熱測(ce)量精度(du)≤± 7 %；

（9）導(dao)熱系(xi)數測(ce)量重復性(xing)≤1%

（10）具有結構(gou)探頭功能(neng)，能夠壹(yi)次測(ce)試(shi)得(de)到(dao)2000個數據(ju)點組(zu)成的(de)瞬態(tai)曲(qu)線(xian)，同(tong)時(shi)給出(chu)沿塊體材料厚度(du)方向(xiang)的(de)導(dao)熱系(xi)數梯(ti)度(du)變(bian)化(hua)曲(qu)線(xian)；

（11）具有 1 維測(ce)試(shi)功能(neng)，能夠精確測(ce)得(de)直徑(jing)≤7 mm，高(gao)度(du)≤50 mm 黃(huang)銅(tong)柱(zhu)的(de)導(dao)熱系(xi)數；

（12）測(ce)試(shi)環(huan)境：RT~400℃，控溫(wen)精度(du)不低(di)於(yu)±0.1℃，溫(wen)度(du)波動度(du)不大(da)於(yu)±1℃/h，溫(wen)度(du)均勻(yun)性(xing)不大(da)於(yu)±2℃；

（13）中溫(wen)測(ce)試(shi)環(huan)境的(de)內(nei)部(bu)空(kong)間不小於(yu)40L，且(qie)可(ke)以由主機(ji)自帶(dai)軟(ruan)件自(zi)動控(kong)制升降溫(wen)和(he)測(ce)試(shi)過(guo)程(cheng)。

（14）有效瞬態(tai)測(ce)試(shi)時(shi)間(jian)範圍≥12560S；有效瞬態(tai)功率(lv)≤10nW,且(qie)可(ke)在軟件中檢查(zha)；

（15）能夠原(yuan)位測(ce)試(shi)，不需(xu)制樣或制樣工作(zuo)很少；

（16）最小塊體樣品尺(chi)寸(cun)：厚度(du)2 mm, 直徑(jing) 10 mm；同時能夠對最薄75um的(de)單層石墨(mo)薄膜(mo)、鋁塑膜(mo)等(deng)高(gao)導(dao)薄膜(mo)材(cai)料進(jin)行準確測(ce)試(shi)；

（17）工作(zuo)電壓：220 V, 50 Hz；

（18）可(ke)測(ce)樣(yang)品(pin)類型(xing)：固體、粉末(mo)、液(ye)體、膏狀(zhuang)物(wu)和(he)復合(he)材料(liao)等；

（19）探頭：雙(shuang)螺(luo)旋圓(yuan)形(xing)黃(huang)色聚酰亞胺(an)覆膜(mo)探頭，主(zhu)要(yao)元件為(wei)光刻鎳(nie)絲(si)，且(qie)常溫(wen)探頭與(yu)導(dao)線(xian)應(ying)是壹(yi)體的(de)，不接受黑(hei)色覆膜(mo)探頭或導(dao)線(xian)與(yu)探頭分(fen)開(kai)的(de)設(she)計，以免(mian)影(ying)響探頭使用精度(du)和(he)壽命(ming)；為應對1mm以下高(gao)分子(zi)材料(liao)測(ce)試(shi)，應(ying)提供(gong)半徑(jing)≤0.9mm的(de)探頭；同(tong)時(shi)應能提供(gong)19*16mm條(tiao)帶(dai)探頭，便於(yu)測(ce)試(shi)樣(yang)品(pin)內沿某壹方(fang)向(xiang)的(de)導(dao)熱系(xi)數；