描(miao)述(shu)：GB-2439型導電(dian)與半(ban)導電(dian)橡(xiang)塑(su)材料(liao)體(ti)積(ji)電(dian)阻(zu)率測(ce)試(shi)儀(yi)，配(pei)以(yi)四(si)探針儀(yi)器構(gou)成(cheng)成(cheng)套測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)，是運用(yong)平(ping)行(xing)四(si)刀法 四(si)端子測(ce)量原理的(de)專(zhuan)業(ye)測(ce)量半(ban)導電(dian)橡(xiang)塑(su)材料(liao)或薄膜的(de)電(dian)阻(zu)率/方阻(zu)的多用途綜合測(ce)量裝(zhuang)置(zhi).符合橡(xiang)塑(su)行(xing)業(ye)專(zhuan)用(yong)國(guo)家標準(zhun)《GBT 3048.3-94 電(dian)線(xian)電(dian)纜電(dian)性(xing)能(neng)試(shi)驗(yan)方法 半(ban)導電(dian)橡(xiang)塑(su)材料(liao)體(ti)積(ji)電(dian)阻(zu)率試(shi) 驗(yan)》

GB-2439型導電(dian)與半(ban)導電(dian)橡(xiang)塑(su)材料(liao)體(ti)積(ji)電(dian)阻(zu)率測(ce)試(shi)儀(yi)

關(guan)鍵(jian)詞(ci):導電(dian)，半(ban)導電(dian)橡(xiang)塑(su)，體(ti)積(ji)電(dian)阻(zu)率，電(dian)阻(zu)率

壹(yi)、產品(pin)介(jie)紹：

GB-2439型導電(dian)與半(ban)導電(dian)橡(xiang)塑(su)材(cai)料體(ti)積(ji)電(dian)阻(zu)率測(ce)試(shi)儀(yi)，配(pei)以(yi)四(si)探針儀(yi)器構(gou)成(cheng)成(cheng)套測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)，是運用(yong)平(ping)行(xing)四(si)刀法 四(si)端子測(ce)量原理的(de)專(zhuan)業(ye)測(ce)量半(ban)導電(dian)橡(xiang)塑(su)材料(liao)或薄膜的(de)電(dian)阻(zu)率/方阻(zu)的多用途綜合測(ce)量裝(zhuang)置(zhi).符合橡(xiang)塑(su)行(xing)業(ye)專(zhuan)用(yong)國(guo)家標準(zhun)《GBT 3048.3-94 電(dian)線(xian)電(dian)纜電(dian)性(xing)能(neng)試(shi)驗(yan)方法 半(ban)導電(dian)橡(xiang)塑(su)材料(liao)體(ti)積(ji)電(dian)阻(zu)率試(shi) 驗(yan)》

GB/T 2439-2001硫(liu)化(hua)橡(xiang)膠(jiao)或熱(re)塑(su)性橡(xiang)膠(jiao)導電(dian)性(xing)能(neng)和耗(hao)散性(xing)能(neng)電(dian)阻(zu)率的測(ce)定。本(ben)測(ce)試(shi)臺電(dian)極(ji)組升(sheng)降(jiang)是快速恒(heng)壓手(shou)動方式(shi)，穩定性好(hao)、結(jie)構(gou)緊(jin)湊(cou)、測(ce)量簡(jian)便(bian)等特點。樣(yang)品(pin) 盒是用耐(nai)高(gao)溫(wen)、耐(nai)腐(fu)蝕、高(gao)絕緣(yuan)的(de)材(cai)料(liao)做(zuo)成(cheng)的，並(bing)且(qie)帶(dai)有(you)聯(lian)通電(dian)極(ji)，這(zhe)樣(yang)清(qing)潔(jie)好(hao)的標準(zhun)樣(yang)品(pin)裝夾後(hou)，便於 烘(hong)幹、時效、測(ce)試(shi)、移動(dong)等(deng)，而(er)避(bi)免(mian)手(shou)接觸(chu)樣(yang)品(pin)帶(dai)來汙染(ran)影響(xiang)測(ce)試(shi)精(jing)度(du)。 儀(yi)器適(shi)用(yong)於半導體(ti)薄膜材(cai)料(liao)廠、橡(xiang)塑(su)材料(liao)廠、金(jin)屬薄膜材(cai)料(liao)廠、電(dian)容器廠、科(ke)研單位(wei)、高(gao)等院校等(deng)對 半(ban)導體(ti)或橡(xiang)塑(su)材料(liao)的方阻(zu)、電(dian)阻(zu)率性能(neng)的測(ce)試(shi)。

二、主要技(ji)術參數：

 2.1 測(ce)量範(fan)圍(wei)、分辨率(lv)

 （1）電(dian)阻(zu)率測(ce)試(shi)範(fan)圍(wei) （厚(hou)度(du) d<2.2mm,寬(kuan) w<50mm）

基(ji)本(ben)電(dian)阻(zu)率測(ce)量值(zhi)： 1.0×10^-6～ 5.00×10⁵Ω*cm，

分(fen)辨率(lv)：1.0×10^-77～ 1.0×10³ Ω*cm

具(ju)體(ti)截(jie)面 s 與測(ce)量範(fan)圍(wei)關(guan)系(xi)見(jian)圖(tu) 2-1A。

（2）方阻(zu)測(ce)試(shi)範(fan)圍(wei)

測(ce)量膜(mo)寬(kuan)：1mm≤w≤50mm

基(ji)本(ben)方阻(zu)測(ce)量值(zhi)： 5.0×10^-6 ～ 2.000×10⁶ Ω/□，

分(fen)辨率(lv)：1.0×10^-4～ 1.0×10³ Ω/□。

具(ju)體(ti)膜(mo)寬 w 與測(ce)量範(fan)圍(wei)關(guan)系(xi)見(jian)圖(tu) 2-1B。

2.2測(ce)試(shi)刀架：

 ⑴電(dian)壓刀片間(jian)距(ju)：20mm±0.2% ，刀長 60mm

 ⑵電(dian)流(liu)刀片間(jian)距(ju)： 70mm，刀長 60mm

 ⑶測(ce)試(shi)刀架外型尺寸(cun)：220×180×200（長×寬×高）