描(miao)述：BST-100高電位驅(qu)動(dong)與漏(lou)電流檢(jian)測(ce)平(ping)臺是(shi)壹(yi)種用(yong)於(yu)實現(xian)高(gao)電(dian)位驅(qu)動(dong)以及精(jing)確(que)測(ce)量(liang)漏(lou)電流的設(she)備(bei)或(huo)系(xi)統，整套平臺采用(yong)系(xi)統加軟件集成(cheng)的方(fang)式設(she)計(ji)，實現(xian)了(le)數據(ju)雲(yun)傳輸(shu)，雲控(kong)制(zhi)。對於(yu)在線檢(jian)測(ce)材(cai)料(liao)的電阻(zu)及漏(lou)電有著重要(yao)作用。廣泛(fan)應(ying)用(yong)於(yu)電氣設(she)備(bei)測(ce)試(shi)、半(ban)導體芯片(pian)檢(jian)測(ce)等(deng)領(ling)域。

BST-100型高電(dian)位驅(qu)動(dong)與漏(lou)電流檢(jian)測(ce)平(ping)臺

BST-100高電(dian)位驅(qu)動(dong)與漏(lou)電流檢(jian)測(ce)平(ping)臺是(shi)壹(yi)種用(yong)於(yu)實現(xian)高(gao)電(dian)位驅(qu)動(dong)以及精(jing)確(que)測(ce)量(liang)漏(lou)電流的設(she)備(bei)或(huo)系(xi)統，整套平臺采用(yong)系(xi)統加軟件集成(cheng)的方(fang)式設(she)計(ji)，實現(xian)了(le)數據(ju)雲(yun)傳輸(shu)，雲控(kong)制(zhi)。對於(yu)在線檢(jian)測(ce)材(cai)料(liao)的電阻(zu)及漏(lou)電有著重要(yao)作用。廣泛(fan)應(ying)用(yong)於(yu)電氣設(she)備(bei)測(ce)試(shi)、半(ban)導體芯片(pian)檢(jian)測(ce)等(deng)領(ling)域。以下(xia)是(shi)相關(guan)介紹(shao)：

高電(dian)位驅(qu)動(dong)部分(fen)：高電(dian)位驅(qu)動(dong)通常(chang)是(shi)指(zhi)通過(guo)特(te)定的電路(lu)或裝置(zhi)，將負載(zai)驅(qu)動(dong)至(zhi)較(jiao)高的電位狀(zhuang)態(tai)。壹(yi)般(ban)會(hui)采用(yong)高(gao)壓(ya)電(dian)源(yuan)模(mo)塊(kuai)來產(chan)生(sheng)高電位，常(chang)見(jian)的如基(ji)於(yu)高頻(pin)倍(bei)壓(ya)電(dian)路(lu)的直流(liu)高壓(ya)發(fa)生(sheng)器。通過(guo) PWM 高(gao)頻脈寬(kuan)調制(zhi)技術(shu)等(deng)，可實現(xian)輸(shu)出電(dian)壓(ya)的穩定(ding)調節(jie)，為後(hou)續的漏(lou)電流檢(jian)測(ce)等(deng)提(ti)供(gong)所需的高電(dian)位環(huan)境(jing)。在壹些高壓(ya)電(dian)氣設(she)備(bei)測(ce)試(shi)中(zhong)，需將設(she)備(bei)置(zhi)於(yu)高電(dian)位下(xia)，以(yi)模(mo)擬(ni)其(qi)實際(ji)運行的高壓(ya)工(gong)況(kuang)，進(jin)而(er)檢(jian)測(ce)設(she)備(bei)的絕緣性能等(deng)參數。

漏(lou)電流檢(jian)測(ce)部分(fen)：漏(lou)電流是(shi)指(zhi)在(zai)施(shi)加電壓(ya)的情況下(xia)，電(dian)氣中(zhong)相互絕緣的金屬零(ling)件之間(jian)等(deng)通過(guo)其(qi)周圍(wei)介(jie)質或絕緣表面所形成(cheng)的電流(liu)。檢(jian)測(ce)原(yuan)理主(zhu)要是(shi)基(ji)於(yu)加壓(ya)測(ce)流(liu)，即(ji)對被(bei)測(ce)對象(xiang)施(shi)加(jia)特定(ding)電壓(ya)，然後(hou)通過(guo)精(jing)密測(ce)量(liang)單元(yuan)檢(jian)測(ce)電(dian)流(liu)1。常用(yong)的檢(jian)測(ce)方(fang)法(fa)有微安(an)表法(fa)，利用微安(an)表直接讀(du)取泄(xie)漏(lou)電流，試(shi)驗電壓(ya)可隨意(yi)調節，能使絕緣弱點(dian)暴(bao)露(lu)，且靈(ling)敏(min)度(du)高、測(ce)量(liang)重復性好。此(ci)外(wai)，還可通過(guo)電(dian)流傳感(gan)器(qi)，如鉗形電流互感(gan)器(qi)等(deng)，非(fei)接觸式地(di)測(ce)量(liang)漏(lou)電流，方(fang)便(bian)在壹(yi)些(xie)現(xian)場環境(jing)中(zhong)使用。

整體平(ping)臺構(gou)成(cheng)：通常(chang)由(you)高壓(ya)電(dian)源(yuan)模(mo)塊(kuai)、漏(lou)電流檢(jian)測(ce)模(mo)塊(kuai)、信號處理與控制(zhi)單元(yuan)、顯示與數據(ju)記(ji)錄(lu)單元(yuan)等(deng)組成(cheng)。高(gao)壓(ya)電(dian)源(yuan)模(mo)塊(kuai)提(ti)供(gong)高電(dian)位；漏(lou)電流檢(jian)測(ce)模(mo)塊(kuai)負責(ze)測(ce)量(liang)電流；信號處理與控制(zhi)單元(yuan)對檢(jian)測(ce)到的信號進(jin)行放大、濾波(bo)等(deng)處理，並控(kong)制(zhi)整個(ge)檢(jian)測(ce)過(guo)程(cheng)；顯示與數據(ju)記(ji)錄(lu)單元(yuan)則將(jiang)測(ce)量(liang)結果實時(shi)顯示出來(lai)，並可存儲(chu)數據(ju)以(yi)便(bian)後(hou)續分析。例如，ZSZGF 直(zhi)流(liu)高壓(ya)發(fa)生(sheng)器可用於(yu)電力(li)試(shi)品(pin)測(ce)試(shi)，具備(bei)高(gao)、低(di)壓(ya)端(duan)測(ce)量(liang)泄(xie)漏(lou)電流功(gong)能，高壓(ya)端(duan)采用(yong)圓形(xing)屏蔽(bi)數字表顯示，抗幹擾性能好，適(shi)合(he)現場(chang)使用7。

應(ying)用(yong)場景：在電(dian)力(li)系(xi)統中(zhong)，可用於(yu)變壓(ya)器(qi)、電(dian)力(li)電(dian)纜(lan)、避(bi)雷器(qi)等(deng)高壓(ya)電(dian)氣設(she)備(bei)的絕緣檢(jian)測(ce)7。如檢(jian)測(ce)金(jin)屬氧化物避(bi)雷器(qi) 1mA 下(xia)的直流(liu)參考電(dian)壓(ya)和(he) 75% U1mA 的泄(xie)漏(lou)電流，以(yi)此判斷避(bi)雷器(qi)的性能7。在半(ban)導體芯片(pian)領(ling)域，用於(yu)檢(jian)測(ce)芯片(pian)引腳的漏(lou)電流，衡(heng)量(liang)芯片(pian)引腳電(dian)氣性能，確(que)保(bao)芯片(pian)功耗和(he)可靠(kao)性符(fu)合(he)要求1。此外(wai)，在壹些(xie)電子(zi)設(she)備(bei)生(sheng)產(chan)過(guo)程(cheng)中(zhong)，也可用於(yu)檢(jian)測(ce)設(she)備(bei)內(nei)部電(dian)路(lu)的絕緣情況，避(bi)免(mian)因(yin)漏(lou)電流過(guo)大導致(zhi)設(she)備(bei)故(gu)障(zhang)或安(an)全(quan)隱(yin)患(huan)。

壹、主(zhu)要技術(shu)參數：

1、供(gong)電部分(fen)：

最大(da)輸(shu)出電(dian)流不低於(yu) 30A，連(lian)續輸(shu)出、可調可控；

輸(shu)出電(dian)流調節精度(du) 0.1A；

電流(liu)過沖≯1A，紋波(bo)不大於(yu) 2%；

至(zhi)少(shao) 6 通道(dao)，可分別獨立(li)輸(shu)出；

附參考：輸(shu)出電(dian)流 30A 時(shi)，需要的驅(qu)動(dong)電壓(ya)壹(yi)般(ban)不(bu)超過(guo) 100V。

2、 漏(lou)電流測(ce)試(shi)部分(fen)：

ì測(ce)試(shi)電(dian)壓(ya)：≮300V；

ì漏(lou)電流測(ce)試(shi)分(fen)辨(bian)率：不(bu)大於(yu) 20mA

æ漏(lou)電流測(ce)試(shi)不(bu)確(que)定(ding)度(du)：不大(da)於(yu) 20mA。驗收(shou)標準(zhun)：在(zai)驅(qu)動(dong)機櫃(gui)工(gong)作(zuo)、多(duo)路

測(ce)試(shi)組(zu)件工(gong)作(zuo)等(deng)復雜(za)電磁環境下(xia)，連(lian)續 1 分鐘(zhong)測(ce)試(shi)結(jie)果，取極差為測(ce)試(shi)不(bu)確(que)定(ding)度(du)；

漏(lou)電流量(liang)程(cheng)：不小於(yu) 1mA

至(zhi)少(shao) 6 通道(dao)，可分別獨立(li)讀(du)取

3、 驅(qu)動(dong)工(gong)控(kong)系(xi)統：

配有獨立工(gong)控(kong)系(xi)統，驅(qu)動(dong)機櫃(gui)具備(bei)獨(du)立(li)工(gong)作(zuo)能(neng)力(li)；

工(gong)控(kong)機(ji)內預寫有“漏(lou)電流測(ce)試(shi)驅(qu)動(dong)" 軟件，可調整名稱(cheng)，需包含以下(xia)功(gong)能：

 同(tong)時(shi)分別獨立(li)控制(zhi)各通道(dao)（至(zhi)少(shao) 6 通道(dao)）電(dian)源(yuan)輸(shu)出狀(zhuang)態(tai)；

 對環(huan)境艙(cang)可實現(xian)控(kong)制(zhi)與狀(zhuang)態(tai)讀(du)取（由(you)環(huan)境(jing)艙(cang)廠家提(ti)供(gong)通訊接口(kou)與協

議）；

 æ加電(dian)觸發、加(jia)電持續時(shi)間(jian)、安(an)全(quan)聯(lian)鎖狀(zhuang)態(tai)處理等(deng)工(gong)作(zuo)流(liu)程(cheng)可由甲(jia)方(fang)進(jin)行二次(ci)編輯(ji)；

工(gong)控(kong)機(ji)內寫有“基(ji)礎驅(qu)動(dong)控制(zhi)"軟件，可調整名稱(cheng)，需滿足以下(xia)要(yao)求：

 基(ji)於(yu) labview 環境(jing)編寫；

 提(ti)供(gong)完整編寫文(wen)件，包含工(gong)程(cheng)文(wen)件、VI 文(wen)件、數據(ju)庫(ku)文(wen)件等(deng)，在甲(jia)方(fang)工(gong)控機(ji)上(shang)可以完(wan)整運行該軟件功能(neng)並進(jin)行調整；

 能夠(gou)同(tong)時(shi)分別獨立(li)控制(zhi)各通道(dao)（至(zhi)少(shao) 6 通道(dao)）電(dian)源(yuan)輸(shu)出狀(zhuang)態(tai)；

設(she)備(bei)及(ji)系(xi)統不包含任何藍牙(ya)、wifi、紅外等(deng)任何無(wu)線數據(ju)收(shou)發功(gong)能，及任何可以實現(xian)無(wu)線數據(ju)收(shou)發功(gong)能的硬件模(mo)塊(kuai)。