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2025-12-02訪問(wen)量(liang)
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詳(xiang)細(xi)介紹(shao)
| 品(pin)牌(pai) | 其他(ta)品(pin)牌(pai) | 產地類(lei)別 | 國(guo)產 |
|---|---|---|---|
| 應(ying)用領域(yu) | 環(huan)保(bao),能源,電(dian)子/電(dian)池(chi),電(dian)氣,綜合 |
JX-RT100型(xing)教學(xue)電(dian)阻率(lv)測(ce)試(shi)儀(範(fan)德堡法)

JX-RT100型(xing)教學(xue)電(dian)阻率(lv)測(ce)試(shi)儀(範德堡(bao)法)通過(guo)在樣品(pin)邊(bian)緣(yuan)對稱(cheng)位(wei)置設置四個(ge)電(dian)極,施(shi)加電(dian)流並測量(liang)電(dian)壓(ya),利(li)用電(dian)流 - 電(dian)壓(ya)對(dui)稱(cheng)性和(he)幾(ji)何修(xiu)正因(yin)子計(ji)算電(dian)阻率(lv)。
采(cai)用觸(chu)摸屏(ping)設計(ji),功(gong)能特(te)點(dian):運用範德(de)堡(bao)法(fa)測試(shi),可(ke)用於(yu)測試(shi)教學樣品(pin)的(de)霍爾系(xi)數、載流子濃度(du)、載流子遷移(yi)率(lv)等(deng);是(shi)高校(xiao)教學(xue)中(zhong)的(de)重要儀(yi)器。
主要技(ji)術(shu)參數:
1.測試(shi)原理:範德堡法(fa)
2.變溫(wen)範(fan)圍: ≦100℃
3.控溫(wen)精(jing)度(du):±0.1℃
4.測試(shi)時間(jian): 電(dian)阻率(lv):≦15min(變(bian)溫(wen));≦1min(常(chang)溫(wen))
5.樣(yang)品(pin)尺寸(cun):(10*10)mm2
6.相(xiang)對(dui)誤(wu)差:≤5%
7.相(xiang)對(dui)偏(pian)差:≤5%
8.教(jiao)學標準(zhun)樣(yang)品(pin)類(lei)型(xing):n型(xing)半導體、p型(xing)半導體、金屬(shu)
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