描(miao)述(shu)：JX-HEM100型(xing)教(jiao)學(xue)電性能(neng)綜合(he)測(ce)試(shi)儀是(shi)壹款(kuan)專門(men)應(ying)用(yong)於(yu)霍(huo)爾效(xiao)應測試(shi)的教(jiao)學(xue)儀器，采(cai)用(yong)觸摸(mo)屏設(she)計，功能(neng)特(te)點(dian)：運(yun)用(yong)範德堡(bao)法測(ce)試(shi)，可(ke)用(yong)於(yu)測試(shi)教學(xue)樣品(pin)的(de)霍(huo)爾系數(shu)、載流(liu)子濃度、載(zai)流(liu)子遷(qian)移(yi)率等；是(shi)高校教(jiao)學(xue)中的重(zhong)要(yao)儀器(qi)。

廠商(shang)性質(zhi)
生(sheng)產廠家
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2025-12-02
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JX-HEM100型(xing)教(jiao)學(xue)電性能(neng)綜合(he)測(ce)試(shi)儀

JX-HEM100型(xing)教(jiao)學(xue)電性能(neng)綜合(he)測(ce)試(shi)儀是(shi)壹款(kuan)專門(men)應(ying)用(yong)於(yu)霍(huo)爾效(xiao)應測試(shi)的教(jiao)學(xue)儀器，采(cai)用(yong)觸摸(mo)屏設(she)計，功能(neng)特(te)點(dian)：運(yun)用(yong)範德堡(bao)法測(ce)試(shi)，可(ke)用(yong)於(yu)測試(shi)教學(xue)樣品(pin)的(de)霍(huo)爾系數(shu)、載流(liu)子濃度、載(zai)流(liu)子遷(qian)移(yi)率等；是(shi)高校教(jiao)學(xue)中的重(zhong)要(yao)儀器(qi)。

主(zhu)要(yao)技術(shu)參(can)數(shu)：

1.測(ce)試(shi)原理(li)：範德堡(bao)法

2.溫度範(fan)圍(wei)： ≦100℃

3.控(kong)溫精(jing)度：±0.1℃

4.測(ce)試(shi)時(shi)間(jian)：霍(huo)爾系數(shu)：≦15min（變(bian)溫）；≦1min（常溫）

電阻率(lv)：≦10min（變(bian)溫）；≦1min（常溫）

5.相對誤差：5%

6.相對偏差：5%

7.樣品(pin)尺(chi)寸(cun)：(10*10)mm2

8.教(jiao)學(xue)標(biao)準樣品(pin)類(lei)型：n型(xing)半導體、p型半(ban)導體(ti)、金屬(shu)

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