GDPT-900A型(xing)變溫壓電d33測(ce)量系(xi)統(tong)主(zhu)要(yao)介紹(shao)

GDPT-900A型(xing)變溫壓電d33測(ce)量系(xi)統(tong)是我(wo)院(yuan)研(yan)制(zhi)的(de)即(ji)可(ke)低(di)溫測試(shi)D33系數(shu)，又可(ke)以高(gao)溫測試(shi)D33系數(shu)。主(zhu)要(yao)是針對高(gao)低(di)溫壓電陶瓷材(cai)料和薄(bo)膜材(cai)料的測(ce)試。

二(er)、主(zhu)要(yao)應用領(ling)域：無(wu)損(sun)檢(jian)測超(chao)聲(sheng)檢(jian)測，醫(yi)療(liao)超(chao)聲(sheng)檢(jian)測，航(hang)空航(hang)天，石(shi)油天(tian)然(ran)器(qi)，汽車物聯網(wang)，工業(ye)

GDPT-900A型(xing)變溫壓電d33測(ce)量系(xi)統(tong)主(zhu)要(yao)技術參數(shu)

1、d33測(ce)量範圍：1PC/N-6000PC/N(1.5PC-30000PC)

2、力(li)顯(xian)示：0.01-4N

3、電(dian)源：電壓220V

4、溫度(du)範圍：溫度(du)-100℃至(zhi)+500℃

5、溫控精(jing)度(du)：溫度(du)顯(xian)示精(jing)度(du)0.01℃，溫度(du)控制(zhi)精(jing)度(du)±0.1℃，溫度(du)漂移(yi)優於(yu)±0.1℃內，超(chao)調(tiao)≤0.1℃。

6、升溫斜率：0.00至(zhi)5.00℃/min，典(dian)型(xing)值(zhi)2.00℃/min。

7、間(jian)隔(ge)保(bao)溫：0.10至(zhi)50.00℃/點(dian)，保(bao)溫5分鐘(zhong)即(ji)可達(da)到(dao)溫度(du)穩定(ding)狀(zhuang)態。  

8、樣(yang)品(pin)夾具：夾持雙(shuang)面(mian)電極(ji)樣(yang)品(pin)，直(zhi)徑(jing)小於(yu)30mm，厚度(du)小於(yu)5mm。

9、測(ce)量環境(jing)：低溫、高溫、空氣等(deng)。

10、電(dian)極材(cai)料：耐(nai)高溫電極(ji)。

11、制(zhi)冷(leng)方式(shi)：液(ye)氮控制(zhi)系(xi)統(tong)

12、顯(xian)示：液(ye)晶(jing)顯(xian)示

13、采(cai)集方式(shi)：USB2.0高(gao)速(su)數(shu)據(ju)

14、總重(zhong)量: 15kg左右(you)。

15、軟(ruan)件(jian)：專用(yong)軟(ruan)件(jian)自動測試溫度(du)與壓電系(xi)數(shu)的關(guan)系變(bian)化(hua)

GWTF-300高溫鐵電(dian)材(cai)料測量系(xi)統(tong)

GWTF-300高溫鐵電(dian)材(cai)料測量系(xi)統(tong)是壹(yi)套(tao)建(jian)立(li)在(zai)高(gao)溫高壓下的(de)鐵(tie)電(dian)測量系(xi)統(tong)，旨(zhi)在(zai)針對壹(yi)些(xie)特殊的要(yao)求(qiu)材(cai)料需(xu)要在(zai)高(gao)溫下測(ce)量而(er)研(yan)發的(de)壹(yi)套(tao)鐵電(dian)測量系(xi)統(tong)。該(gai)系(xi)統(tong)不僅僅在(zai)溫度(du)上將實現(xian)了(le)高(gao)溫測試(shi)，而且(qie)在(zai)電(dian)壓和頻(pin)率上進行(xing)了(le)提(ti)高，對我(wo)們(men)的鐵(tie)電(dian)材(cai)料研(yan)究(jiu)和(he)測(ce)試(shi)帶來(lai)更(geng)加重要的幫助(zhu)，該(gai)系(xi)統(tong)可以(yi)測量鐵(tie)電材(cai)料的電(dian)滯回線，飽(bao)和極(ji)化(hua)Ps、剩(sheng)余(yu)極(ji)化(hua)Pr、矯(jiao)頑(wan)場Ec、漏(lou)電流(liu)、疲勞、保(bao)持、I-V和(he)開關(guan)特性(xing)等(deng)性(xing)能(neng)的(de)測(ce)試(shi)。

GWTF-300高溫鐵電(dian)材(cai)料測量系(xi)統(tong)技術指標(biao)

1.輸(shu)出信號電壓：：0-4000/5000/6000/10000多種可(ke)定(ding)制(zhi)

2.輸(shu)出信號頻率：0.2到100Hz（陶瓷、單晶(jing)），1到(dao)1kHz(薄(bo)膜）

3.電(dian)容範圍：電流(liu)0到±6mA（陶瓷、單晶(jing)），±50mA(薄(bo)膜）連續(xu)可調(tiao),精(jing)度(du): ≤1%。

4.電(dian)流(liu)範圍: 1nA～10A ,精(jing)度(du): ≤1%。

5、溫度(du)測量範圍:0-200℃

6. 匹(pi)配(pei)高溫電致應(ying)變(bian)測試模(mo)塊、夾具及自動采(cai)集軟(ruan)件(jian)。

7.測(ce)試速(su)度(du)：測量時(shi)間(jian)《5秒(miao)/樣(yang)品(pin)•溫度(du)點

8. 樣(yang)品(pin)規格(ge)：塊(kuai)體(ti)材(cai)料尺寸(cun)：直(zhi)徑(jing)2-100mm，厚度(du)0.1-10mm，薄膜：直(zhi)徑(jing)：1-60mm

9. 數(shu)據(ju)采(cai)集分析軟(ruan)件(jian)： 能(neng)畫(hua)出鐵電薄(bo)膜的電滯回(hui)線(xian)，定(ding)量得(de)到鐵電(dian)薄(bo)膜材(cai)料的飽(bao)和極(ji)化(hua)Ps、剩(sheng)余(yu)極(ji)化(hua)Pr、矯(jiao)頑(wan)場Ec、漏(lou)電流(liu)等(deng)參數(shu);可以(yi)進行(xing)鐵電(dian)薄膜材(cai)料的鐵(tie)電疲勞性能(neng)、鐵(tie)電(dian)保(bao)持性(xing)能(neng)的(de)測(ce)試(shi)，電(dian)阻測量，漏(lou)電流(liu)測量。

10、控制(zhi)方式(shi)：計算(suan)機實(shi)時(shi)控制(zhi)、實(shi)時(shi)顯(xian)示、實(shi)時(shi)數(shu)據(ju)計算(suan)、分析(xi)與(yu)存(cun)儲

11、軟(ruan)件(jian)采(cai)集：自動采(cai)集軟(ruan)件(jian)，分析可(ke)以(yi)兼容其他相關主(zhu)流(liu)軟(ruan)件(jian)。

GWJDN-1000型(xing)寬(kuan)頻高(gao)溫介電測(ce)量系(xi)統(tong)主(zhu)要(yao)技術參數(shu)

         GWJDN-1000型(xing)寬(kuan)頻高(gao)溫介電測(ce)量系(xi)統(tong)

關(guan)鍵(jian)詞：高(gao)溫介電，

GWJDN-1000型(xing)高溫介電測(ce)量系(xi)統(tong)（2019款(kuan)）高溫介電測(ce)量系(xi)統(tong)應用(yong)於(yu)高溫環境(jing)下材(cai)料、器(qi)件的(de)導(dao)電(dian)、介電特(te)性測(ce)量與(yu)分析，通(tong)過(guo)配(pei)置不同的測試設(she)備(bei)，完成(cheng)不同參數(shu)的測(ce)試。是(shi)高(gao)溫介電測(ce)試系(xi)統(tong)測試(shi)裝置，是國家科(ke)研(yan)院(yuan)所(suo)和(he)高(gao)等(deng)學府的(de)重(zhong)要材(cai)料測試(shi)設備(bei)。

壹(yi)、主(zhu)要(yao)用途(tu)：

1、測(ce)量以(yi)下參數(shu)隨(sui)溫度(du)（T）、頻(pin)率（f）、電(dian)平（V）、偏(pian)壓（Vi）的(de)變化(hua)規律(lv)：

2、測(ce)量電(dian)容（C）、電(dian)感（L）、電(dian)阻（R）、電(dian)抗（X）、阻(zu)抗（Z）、相位角（￠）、電(dian)導(dao)（G）、電(dian)納（B）、導(dao)納(na)（Y）、損(sun)耗(hao)因(yin)子(zi)（D）、品(pin)質因素（Q）等(deng)參數(shu)，

3、同時計算(suan)獲(huo)得(de)反(fan)應(ying)材(cai)料導(dao)電(dian)、介電性(xing)能(neng)的(de)復介電常(chang)數(shu)（εr）和(he)介質損(sun)耗(hao)（D）參數(shu)。

4、可(ke)測試低(di)溫環境(jing)下材(cai)料、器(qi)件的(de)介電性(xing)能(neng)

5、可(ke)以根據(ju)用(yong)戶需(xu)求，定(ding)制(zhi)開(kai)發居(ju)裏(li)溫度(du)點Tc、機(ji)電耦合(he)系數(shu)Kp、機(ji)械(xie)品(pin)質(zhi)因素Qm及(ji)磁(ci)導(dao)率μ等(deng)參數(shu)的測(ce)量與(yu)分析。系(xi)統(tong)集低溫環境(jing)、溫度(du)控制(zhi)、樣(yang)品(pin)安(an)裝於(yu)壹體(ti)；具有體(ti)積(ji)小、操(cao)作(zuo)簡單控溫精(jing)度(du)高等(deng)特(te)點。

二(er)、主(zhu)要(yao)技術參數(shu)：

主(zhu)要(yao)技術參數(shu)：

1、溫度(du)範圍： 室(shi)溫-1000℃

2、測(ce)溫精(jing)度(du)：   0.1℃

3．升溫速(su)度(du)：   1—20℃/min

4、控溫模(mo)式(shi)： 程序(xu)控制(zhi)，提(ti)供(gong)常(chang)溫、變溫、恒溫、升溫、降溫等(deng)多(duo)種組(zu)合(he)方式(shi)

5、通(tong)訊接口(kou)：   RS-485

8、電(dian)極材(cai)質(zhi)： 鉑銥合(he)金

9、上(shang)電極： 直(zhi)徑(jing)1.6mm球(qiu)頭(tou)電(dian)極(ji)，引(yin)線帶同軸屏蔽層

10、下(xia)電極：直(zhi)徑(jing)26.8mm平面(mian)電極(ji)，引(yin)線帶同軸屏蔽層

11、保(bao)護電(dian)極：  帶保(bao)護電(dian)極，消除寄生(sheng)電(dian)容、邊界電(dian)容(rong)對測(ce)試(shi)的影響

12、電(dian)極幹擾(rao)屏(ping)蔽:電(dian)極引線(xian)帶同軸屏蔽，樣(yang)品(pin)平臺帶屏蔽罩(zhao)

13、夾具升降控制(zhi)： 帶程序(xu)和手(shou)動(dong)控制(zhi)，可(ke)更(geng)換夾具的電(dian)動(dong)升降裝置

14、熱(re)電偶(ou) ：熱(re)電偶(ou)探頭(tou)與(yu)樣(yang)品(pin)平臺為同壹熱沈(chen)，測控溫度(du)與樣(yang)品(pin)溫度(du)保(bao)持壹(yi)致

15、無(wu)電極樣(yang)品(pin)尺(chi)寸：直(zhi)徑(jing)小於(yu)40mm，厚度(du)小於(yu)8mm

16、帶電極(ji)樣(yang)品(pin)尺(chi)寸： 直(zhi)徑(jing)小於(yu)26mm，厚度(du)小於(yu)8mm

17、軟(ruan)件(jian)功能(neng)：自動分析數(shu)據(ju)，可(ke)以分類(lei)保(bao)存(cun)，樣(yang)品(pin)和(he)測量方案(an)結合(he)在(zai)壹(yi)起(qi)，生(sheng)成(cheng)系統(tong)所(suo)需(xu)的實(shi)驗方案(an)，輸出(chu)TXT、XLS、BMP等(deng)格(ge)式(shi)文件(jian)

18、測(ce)量方案(an)：    提(ti)供靈活(huo)、豐富(fu)的(de)測試(shi)設置功能(neng)，包(bao)括(kuo)頻率譜、阻(zu)抗譜(pu)、介電譜(pu)及其組(zu)合(he)

19、標(biao)準極化(hua)樣(yang)品(pin)：8片(pian)（10mm*1.5mm）

20、配(pei)套(tao)設備(bei)裝置：能(neng)夠(gou)配(pei)合(he)ZJ-3和(he)ZJ-6壓電測(ce)試(shi)儀(yi)進行(xing)測量

21、配(pei)套(tao)設備(bei)裝置：可以配(pei)置10MM，20MM，30MM，40MM壓片(pian)夾具

23、測(ce)試頻率：20HZ-10MHZ

24、測(ce)試電平:100mV—2V

25、分(fen)辨率：1MHZ

26、輸(shu)出阻抗:  100Ω

27、測(ce)試參數(shu)：Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、Vac、Iac、Rdc、Vdc、Idc

28、基(ji)本(ben)準確(que)度(du):   0.05%

29、顯(xian)示:液(ye)晶顯(xian)示

30、參數(shu)測量：多(duo)功能(neng)圖(tu)形和(he)參數(shu)測量

31、接(jie)口(kou)方式(shi):   RS232C或(huo)HANDLER

HTIM-600C型(xing)材(cai)料高溫電阻(zu)率測試(shi)儀(yi)主(zhu)要(yao)技術參數(shu)

HTIM-600C型(xing)材(cai)料高溫電阻(zu)率測試(shi)儀(yi)

關(guan)鍵(jian)詞：電(dian)阻率，體電(dian)阻(zu)，表面(mian)電阻(zu)，CNAS

HTIM-600高(gao)溫電阻(zu)率測試(shi)儀(yi)是壹款(kuan)針對於(yu)材(cai)料的測(ce)量設(she)備(bei)，可以(yi)出具CNAS整體(ti)認(ren)證的專業(ye)材(cai)料高溫測量設(she)備(bei)，該(gai)儀(yi)器(qi)采(cai)用使(shi)用方法(fa)多樣(yang)化(hua)，2000V，6.4ms的(de)采(cai)集系統(tong)，實現(xian)了(le)是(shi)以往(wang)產(chan)品(pin)300倍的(de)抗幹(gan)擾功(gong)能(neng)6.4ms的(de)高(gao)速(su)測量，作(zuo)為皮(pi)安(an)表(biao)使(shi)用(yong)進行(xing)低電(dian)容檢(jian)查，2×10^19 Ω顯(xian)示，0.1fA分(fen)辨率標配(pei)EXT I/O, RS-232C, GP-IB, USB，自行(xing)設計的(de)懸浮式(shi)電(dian)路，能(neng)不(bu)受測量環境(jing)影響進行(xing)穩定(ding)測(ce)量，並(bing)且(qie)運(yun)用(yong)在(zai)產(chan)線(xian)中實現(xian)高(gao)速(su)測量。可(ke)實現(xian)絕緣(yuan)材(cai)料在(zai)高(gao)溫下電(dian)阻和(he)電阻率試驗方法(fa)標準(zhun)設計開(kai)發，可(ke)以(yi)直(zhi)接測(ce)量高(gao)溫、真空、氣氛(fen)條件下(xia)樣(yang)品(pin)的(de)電阻和(he)體(ti)電(dian)阻(zu)率、漏(lou)電流(liu)等(deng)隨(sui)溫度(du)、時間(jian)變化(hua)的(de)曲(qu)線(xian)，高(gao)溫絕緣(yuan)材(cai)料電阻(zu)率測試(shi)儀(yi)系統(tong)已(yi)經(jing)在(zai)航(hang)天航(hang)空傳感器(qi)領(ling)域得(de)到很好(hao)的(de)應用。

壹(yi)、主(zhu)要(yao)用途(tu)：適用(yong)於(yu)新材(cai)料評估的特性:

1、用(yong)於(yu)陶瓷元件的(de)絶(絶)縁劣(lie)化(hua)試(shi)驗

2、貼(tie)片(pian)電(dian)容(rong)的(de)IR測(ce)量

3、MLCC（多(duo)層陶瓷電容器(qi)）的絕緣(yuan)測(ce)量

4、光伏電池(chi)薄膜的絕緣(yuan)測(ce)量

5、噪(zao)音(yin)濾波(bo)器(qi)的絕緣(yuan)（高(gao)阻(zu)）測量

6、液(ye)晶設備(bei)的絕緣(yuan)測(ce)量

7、塗(tu)層（塗(tu)料）的表(biao)面(mian)電阻(zu)率測量

8、外殼(ke)的帶電度(du)的測(ce)量

9、二(er)極(ji)管(guan)的微笑(xiao)泄漏(lou)電流(liu)測量

10、光電耦(ou)合(he)器(qi)的初(chu)級/次(ci)級絕緣(yuan)（高(gao)電(dian)阻）測(ce)量

11、打印機(ji)墨粉輥軸的(de)絕緣(yuan)測(ce)量

12、用(yong)於(yu)針對半(ban)導(dao)體(ti)廠(chang)家的(de)絕緣(yuan)密(mi)封(feng)件的(de)評(ping)估試驗

13、用(yong)於(yu)組(zu)裝在(zai)貼(tie)片(pian)機(ji)、分(fen)選(xuan)機(ji)、自動化(hua)設(she)備(bei)中

壹(yi)、產(chan)品(pin)特點：

1、多(duo)種使(shi)用(yong)方法(fa)的超(chao)絕緣(yuan)計,提(ti)供(gong)CNAS計量合(he)格證(zheng)書

2、能(neng)夠(gou)作(zuo)為IR表、靜電計等(deng)高(gao)電阻計，以(yi)及(ji)作(zuo)為皮(pi)安(an)表(biao)這(zhe)種微小電(dian)流(liu)計來(lai)使用(yong)，使用(yong)方法(fa)非(fei)常(chang)豐富(fu)的(de)測量儀(yi)器(qi)。

2、能(neng)不(bu)受測量環境(jing)影響進行(xing)穩定(ding)測(ce)量，並(bing)且(qie)運(yun)用(yong)在(zai)產(chan)線(xian)中實現(xian)高(gao)速(su)測量2000V輸(shu)出

3、偏(pian)差(cha)1/60，抗噪(zao)音(yin)性能(neng)300倍, 通(tong)過(guo)全(quan)新的(de)SM懸浮式(shi)電(dian)路和三軸連接器(qi)的組(zu)合(he)，大幅(fu)提(ti)高抗噪(zao)音(yin)性能(neng)。

4、輸(shu)出電壓從0.1V到(dao)1000V，能(neng)夠(gou)以(yi)0.1V為單位(wei)任(ren)意(yi)設置

5、6.4ms的(de)高速(su)檢(jian)查, 高(gao)速(su)檢(jian)查和(he)50mA的預(yu)充電(dian)功(gong)能(neng)的(de)組(zu)合(he)可以(yi)實現(xian)高(gao)產(chan)量的(de)MLCC檢(jian)查。

5、高(gao)溫爐膛(tang)，耐(nai)高溫、抗氧化(hua)的(de)測(ce)試夾具,提供(gong)CNAS計量合(he)格證(zheng)書

二(er)、主(zhu)要(yao)技術參數(shu)：

1、體(ti)積電阻(zu)率和表(biao)面(mian)電阻(zu)率測試(shi)範圍10的4次(ci)方Ω.cm~10的15次(ci)方Ω.cm；

2、測(ce)試電壓：10V、50V、100V、250V、500V、1000V

3、電(dian)極材(cai)質(zhi)：600℃不(bu)氧化(hua)，三電極尺寸(cun)為25mm（被保(bao)護電(dian)極直(zhi)徑(jing)）、38mm（保(bao)護電(dian)極內(nei)徑(jing)）、50mm（保(bao)護電(dian)極外徑(jing)），樣(yang)品(pin)厚度(du)在(zai)3mm以(yi)內(nei)；

3、測(ce)量精(jing)度(du)：①電阻(zu)≤1010Ω時，精(jing)度(du)±5％；電阻(zu)>1010Ω時，精(jing)度(du)±10%；②電壓＜100V時，精(jing)度(du)±5%，電壓≥100V時，精(jing)度(du)±2％；

2、溫度(du)範圍;室溫~600℃；

3、控溫精(jing)度(du)：溫度(du)≤300℃，精(jing)度(du)±1℃，溫度(du)＞300℃，精(jing)度(du)±2℃；控溫設備(bei)需(xu)有測(ce)溫口(kou)；（能(neng)夠(gou)通(tong)過(guo)計量CNAS認(ren)證）

4、測(ce)試軟(ruan)件(jian)：①可設置連續(xu)升溫測試(shi)，得到(dao)不同溫度(du)下體(ti)積電(dian)阻率、表面(mian)電阻(zu)率具體值(zhi)，直(zhi)接得(de)到體積電阻率-溫度(du)曲(qu)線(xian)、表(biao)面(mian)電阻(zu)率-溫度(du)曲(qu)線(xian)；

5、溫度(du)精(jing)度(du)：可設(she)置在(zai)某(mou)壹具體溫度(du)點測(ce)試，得(de)到體積電(dian)阻(zu)率、表面(mian)電阻(zu)率在(zai)不(bu)同時間(jian)點的(de)具體值(zhi)，直(zhi)接得(de)到體積電阻率-時間(jian)曲(qu)線(xian)、表(biao)面(mian)電阻(zu)率-時間(jian)曲(qu)線(xian)；

5、電(dian)腦要求：windows10 系統(tong)，內存(cun)16G以(yi)上(shang)，CPU四核；

6、升溫速(su)率0℃/min~ 10℃/min（不做(zuo)計量要(yao)求）；

7、能(neng)通(tong)氮氣(qi)，測(ce)試(shi)時(shi)在(zai)高(gao)溫和氮氣(qi)環境(jing)下測(ce)試(shi)；

9、符(fu)合(he)GB/T31838、GB/T10581、GB/T1410標準(zhun)；

10、排氣口(kou)有過(guo)濾裝置；

HTRT-1000型(xing)導(dao)電(dian)材(cai)料高溫電阻(zu)率測試(shi)儀(yi)技術參數(shu)

HTRT-1000型(xing)導(dao)電(dian)材(cai)料高溫電阻(zu)率測試(shi)儀(yi)

關(guan)鍵(jian)詞：電(dian)阻率，導(dao)電(dian)，合(he)金高溫

電(dian)阻率表征技術是典(dian)型(xing)的金屬、合(he)金相變行(xing)為研(yan)究(jiu)手(shou)段(duan)，比如(ru)在(zai)先進鋼(gang)中(zhong)的碳運(yun)動(dong)行(xing)為分析、或是(shi)合(he)金析出(chu)動力(li)學研(yan)究(jiu)、以(yi)及(ji)形(xing)狀記憶合(he)金的預(yu)相變行(xing)為表征的(de)方面(mian)。電阻(zu)率對這(zhe)些(xie)相變行(xing)為則非(fei)常(chang)敏(min)感，應(ying)用電(dian)阻率手(shou)段(duan)研(yan)究(jiu)合(he)金析出(chu)動力(li)學行(xing)為也是非(fei)常(chang)重要的(de)手(shou)段(duan)，是壹種可(ke)以(yi)對合(he)金時效析(xi)出過(guo)程全(quan)時(shi)段(duan)實現(xian)監(jian)控的(de)手(shou)段(duan)。同時，通過(guo)電阻(zu)率的演(yan)化(hua)規律(lv)，可(ke)以(yi)清(qing)晰(xi)的判(pan)斷(duan)GP區(qu)、析(xi)出孕育(yu)時間(jian)、析出(chu)結束（析出(chu)量大）和熟化(hua)過(guo)程等(deng)不(bu)同的階段(duan)。對於(yu)所(suo)有(you)析(xi)出(chu)強(qiang)化(hua)合(he)金，電阻(zu)率數(shu)據(ju)都(dou)可(ke)以(yi)提(ti)供(gong)重要(yao)的工(gong)藝指導(dao)。此(ci)外，預(yu)相變過(guo)程中出(chu)現(xian)納(na)米疇(chou)並(bing)導(dao)致模(mo)量軟(ruan)化(hua)和(he)弛(chi)豫內耗(hao)行(xing)為，特別是在(zai)相變初(chu)期，用電(dian)鏡(jing)觀(guan)察很難實現(xian)，而(er)納米疇(chou)的(de)出(chu)現(xian)卻(que)表現(xian)為電阻率的升高，因此(ci)通(tong)過(guo)電阻(zu)率演化(hua)可(ke)以(yi)清晰(xi)的表(biao)征納(na)米疇(chou)出(chu)現(xian)的(de)溫度(du)和疇(chou)面(mian)積的(de)演(yan)化(hua)過(guo)程。

HTRT-1000本(ben)系統(tong)主(zhu)要(yao)由高精(jing)度(du)高穩定(ding)度(du)的小(xiao)電流(liu)源、高(gao)精(jing)度(du)AD采(cai)樣(yang)芯(xin)片(pian)以(yi)及(ji)嵌入式(shi)芯(xin)片(pian)，上(shang)位(wei)機(ji)智(zhi)能(neng)管(guan)理分(fen)析(xi)軟(ruan)件(jian)、真空多段(duan)溫控加熱設備(bei)組(zu)成(cheng)的金屬電阻(zu)率智能(neng)存(cun)儲分(fen)析儀器(qi)。測試(shi)金屬樣(yang)品(pin)根據(ju)測(ce)試工藝要求任意(yi)設定(ding)加熱、降溫曲(qu)線(xian)，通(tong)過(guo)過(guo)程中電(dian)阻(zu)率的精(jing)密測量，完(wan)成(cheng)對金屬內部(bu)結構(gou)變(bian)化(hua)如(ru)相變、碳化(hua)物、固(gu)溶度(du)等(deng)特(te)性的分析(xi)。

壹(yi)、用途(tu)：

1、棒材(cai)、管(guan)材(cai)、異(yi)型(xing)材(cai)金屬導(dao)電(dian)性(xing)能(neng)測(ce)量

2、金屬材(cai)料研(yan)究(jiu)

3、碳系(xi)導(dao)電(dian)材(cai)料的電(dian)阻率和電(dian)導(dao)率測量

4、金屬氧化(hua)物系導(dao)電(dian)材(cai)料的電(dian)阻率和電(dian)導(dao)率測量

5、石(shi)墨烯金屬材(cai)料的導(dao)電(dian)性(xing)能(neng)測(ce)試(shi)

二(er)、器(qi)成(cheng)套(tao)組(zu)成(cheng)： 

1.溫度(du)控制(zhi)箱：任意(yi)設定(ding)多(duo)段(duan)加熱、保(bao)溫曲(qu)線(xian)，加熱範圍:室(shi)溫至(zhi)1000℃。控溫精(jing)度(du)±1oC。

2.真空加熱爐管：采(cai)用石(shi)英真空管實現(xian)真空密閉狀(zhuang)態，達(da)到(dao)6*10-2Pa。

3.控制(zhi)信號盒(he)：高(gao)精(jing)度(du)的恒流(liu)源200uA-10mA,通(tong)過(guo)計算(suan)機通(tong)信控制(zhi)實(shi)現(xian)連續(xu)可調(tiao)（或定制(zhi)），測(ce)量到(dao)1uΩ。

4.計算(suan)機：通(tong)信控制(zhi)溫控儀(yi)加熱曲(qu)線(xian)，實(shi)時(shi)接收當前溫度(du)值(zhi)並(bing)存(cun)儲顯(xian)示。結合(he)溫度(du)值(zhi)顯(xian)示電(dian)阻(zu)率-溫度(du)曲(qu)線(xian)。同時存(cun)儲過(guo)程的測(ce)試(shi)條件信息，測試過(guo)程的數(shu)據(ju)。完(wan)成(cheng)數(shu)據(ju)庫(ku)的基(ji)本(ben)管理、查(zha)詢、打印等(deng)功(gong)能(neng)。

5.   低(di)溫裝置：低溫實驗可(ke)延(yan)伸-150℃，完(wan)成(cheng)高低(di)溫實驗功(gong)能(neng)。

6.   app遠(yuan)程監控：手(shou)機(ji)app完(wan)成(cheng)對實(shi)驗設(she)備(bei)主(zhu)要(yao)參數(shu)的監(jian)控，不(bu)必(bi)守(shou)在(zai)爐(lu)子(zi)旁邊也能(neng)了(le)解(jie)實驗目前的狀(zhuang)態。 

7.適(shi)用於(yu)科(ke)研(yan)單位(wei)、高(gao)等(deng)院(yuan)校(xiao)對金屬材(cai)料的導(dao)電(dian)性(xing)能(neng)、微結構(gou)變(bian)化(hua)、相變信息等(deng)測(ce)試。

三、基(ji)本(ben)技術參數(shu)

1、控溫範圍；-150 ℃-1000 ℃，精(jing)度(du)：-150 ℃-1000 ℃，精(jing)度(du)±1 ℃

2、測(ce)量範圍：電  阻(zu)：1×10-6～1×10-1 Ω   ， 分(fen)辨率：1×10-7Ω

電(dian)阻率：1×10-7～1×10-2 Ω-mm， 分(fen)辨率：1×10-8

3、 材(cai)料尺寸(cun)：200mm*5mm*1mm,500mm*5mm*1mm,1000mm*5mm*1mm

4、 四線探針；0.5 mm-0.7mm   

5、夾具：針對不(bu)同的樣(yang)品(pin)可(ke)以設計不(bu)同的夾具

6、外形尺寸：主(zhu)   機(ji)  1300mm（長(chang)）×800 mm（寬(kuan)）×500mm（高(gao)）

7、凈(jing)   重(zhong)：≤60kg

BKTEM-T1型(xing)熱電(dian)賽貝系數(shu)測試(shi)儀

BKTEM-T1型(xing)熱電賽(sai)貝(bei)系數(shu)測試(shi)儀以(yi)測定半(ban)導(dao)體(ti)材(cai)料、金屬材(cai)料及其他熱(re)電(dian)材(cai)料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等(deng))的(de)Seebeck系數(shu)及電(dian)導(dao)率.

應用(yong)範圍：1、可測定(ding)半(ban)導(dao)體(ti)材(cai)料、金屬材(cai)料及其他熱(re)電(dian)(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康銅(tong)、鎳、鎢等(deng)金屬，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等(deng))的(de)Seebeck系數(shu)及電(dian)導(dao)率、電阻(zu)率。

3、塊體(ti)和(he)薄膜材(cai)料測均(jun)可以(yi)測(ce)試。

4、試樣(yang)與(yu)引(yin)線的接(jie)觸(chu)是否正(zheng)常(chang)V-1裝置可以自動檢(jian)出。

5、擁(yong)有自分析軟(ruan)件(jian)，獨立(li)分(fen)析(xi)，過(guo)程自動控制(zhi)，界面(mian)友好(hao)。

6、國(guo)內高等(deng)院(yuan)校(xiao)材(cai)料系研(yan)究(jiu)或(huo)是(shi)熱(re)電材(cai)料生產(chan)單位(wei)。

7、汽(qi)車和(he)燃油、能(neng)源(yuan)利用(yong)效率、替(ti)代(dai)能(neng)源(yuan)領(ling)域、熱(re)電制(zhi)冷(leng).
  8、很(hen)多(duo)其他工(gong)業(ye)和研(yan)究(jiu)領(ling)域-每(mei)年(nian)都(dou)會(hui)誕生(sheng)新的(de)應(ying)用(yong)領(ling)域

技術指標(biao)要(yao)求

測(ce)量溫度(du)：   室溫-600℃

同時測試樣(yang)品(pin)數(shu)量：  1個

測(ce)量功(gong)能(neng)：   材(cai)料賽貝(bei)克(ke)系數(shu)和電(dian)阻率Seebeck系數(shu)及電(dian)導(dao)率

控溫精(jing)度(du)：   0.5K

測(ce)量原理：   塞(sai)貝克(ke)系數(shu)：靜態(tai)直(zhi)流(liu)電；電(dian)阻(zu)系(xi)數(shu)：四端法(fa)

測(ce)量精(jing)度(du)：   塞(sai)貝克(ke)系數(shu)：＜±7％；電阻(zu)系數(shu)：＜±10％

樣(yang)品(pin)尺(chi)寸; 塊體(ti)方條形：2-3×2-3 mm×10-23mm長(chang)，薄膜材(cai)料：≥50 nm

熱(re)電偶(ou)導(dao)距(ju):  ≥6 mm

電(dian)   流(liu)； 0 to 160 mA

加熱電極相數(shu)/電壓：        單相，220V，

 WLDR-1000型(xing)激光導(dao)熱(re)測(ce)試(shi)儀

WLDR-1000型(xing)激光導(dao)熱(re)測(ce)試(shi)儀是中科(ke)院(yuan)物理所(suo)研(yan)發的(de)壹(yi)款(kuan)采(cai)用(yong)壹束激光照射(she)樣(yang)品(pin)，用(yong)紅外檢(jian)測器(qi)測量樣(yang)品(pin)背(bei)面(mian)溫度(du)的升高，是壹(yi)種快(kuai)速(su)的非(fei)接(jie)觸(chu)式(shi)測(ce)量熱(re)導(dao)率的儀(yi)器(qi)。來(lai)計算(suan)樣(yang)品(pin)的(de)熱擴散(san)系數(shu)。具有快(kuai)速(su)、方便(bian)的特(te)點。其測量熱(re)擴散(san)系數(shu)為0.001...10cm2/sec, 並可測量樣(yang)品(pin)的(de)比熱，進壹(yi)步計算(suan)導(dao)熱(re)系(xi)數(shu)。激光導(dao)熱(re)儀(yi)適(shi)用於(yu)絕大多數(shu)材(cai)料導(dao)熱(re)性(xing)能(neng)的(de)測(ce)試(shi)，絕熱(re)材(cai)料除外。激光導(dao)熱(re)儀(yi)尤(you)其適用(yong)於(yu)高導(dao)熱(re)材(cai)料和高(gao)溫下的(de)導(dao)熱(re)性(xing)能(neng)的(de)測(ce)試(shi)，廣泛應(ying)用(yong)於(yu)材(cai)料、汽車、航(hang)天、電(dian)子、化(hua)工(gong)、能(neng)源(yuan)等(deng)領(ling)域，是(shi)目前生產(chan)單位(wei)和(he)高(gao)等(deng)院(yuan)校(xiao)的(de)重(zhong)要科(ke)研(yan)設(she)備(bei)。

壹(yi)、產(chan)品(pin)符(fu)合(he)：GJB 1201.1-91固(gu)體材(cai)料高溫熱擴(kuo)散(san)率試驗方法(fa)激光脈沖法(fa)

ASTMD   1461 閃(shan)光法(fa)測定(ding)熱擴(kuo)散(san)系數(shu)

ASTM   E2585 用(yong)閃光法(fa)測量熱(re)擴散(san)率

GBT   22588 閃(shan)光法(fa)測量熱(re)擴散(san)系數(shu)或導(dao)熱(re)系(xi)數(shu)

二(er)、主(zhu)要(yao)特點：

1、消除了(le)樣(yang)品(pin)外緣的幹擾(rao)信號，可大大提高測量結果(guo)的(de)準確(que)度(du)。

2、數(shu)據(ju)采(cai)集速(su)率，極窄(zhai)的(de)光脈沖寬(kuan)度(du)，允許(xu)測量薄(bo)的高導(dao)熱(re)的(de)材(cai)料

3、多(duo)種數(shu)學模(mo)型擬(ni)合(he)，精(jing)確的脈沖寬(kuan)度(du)修正(zheng)與(yu)脈沖能(neng)量積(ji)分，熱損(sun)耗(hao)修(xiu)正(zheng)，內(nei)置數(shu)據(ju)庫(ku)

4、能(neng)實(shi)現(xian)真空測量和(he)保(bao)護氣(qi)氛(fen)測(ce)量兩(liang)種模(mo)式(shi)

5、使(shi)用紅外檢(jian)測器(qi)，進行(xing)非(fei)接(jie)觸(chu)式(shi)的(de)樣(yang)品(pin)表(biao)面(mian)溫升信號測試(shi)

6、可(ke)進行(xing)多層接觸(chu)熱阻分析，並計算(suan)熱阻(zu)、熱(re)擴(kuo)散(san)速(su)率等(deng)參數(shu)，使用(yong)已(yi)知(zhi)比(bi)熱的(de)標樣(yang)、通(tong)過(guo)比較(jiao)法(fa)可計算(suan)比熱(re)；

二(er)、主(zhu)要(yao)技術性能(neng)

1、溫度(du)範圍：室溫~500℃，600℃，1000℃。（超(chao)低(di)溫需(xu)要定(ding)制(zhi)）

2、導(dao)熱(re)系(xi)數(shu)測試(shi)範圍：0.1～300W/mK， 1～500W/mK，10～1000W/mK；

3、熱(re)擴散(san)系數(shu)範圍：0.01～1000mm2/s；

4、Cp重(zhong)復性(xing)：±3% (多(duo)數(shu)材(cai)料)

5、熱(re)擴散(san)系數(shu)重復性(xing)：±2 (多(duo)數(shu)材(cai)料)

6、試(shi)樣(yang)測(ce)試(shi)範圍：方形≥10×10mm，圓(yuan)形：φ12～20（另(ling)可選(xuan)20特(te)殊規格(ge)），厚度(du)0.1～10mm；（最佳厚度(du)：3mm）

7、脈沖能(neng)量：15J/次(ci)，脈沖能(neng)量及(ji)間(jian)隔(ge)可(ke)調

8、傳(chuan)感器(qi)類(lei)型：Insb/MCT,風冷(leng)

9、信號探測(ce)方式(shi)：紅(hong)外檢(jian)測器(qi)進行(xing)非(fei)接(jie)觸(chu)式(shi)的(de)樣(yang)品(pin)表(biao)面(mian)溫升信號測試(shi)；

10、試(shi)樣(yang)測(ce)試(shi)範圍：方形不小於(yu)10×10mm，圓(yuan)形φ12～20（另(ling)可選(xuan)20特(te)殊規格(ge)），厚度(du)0.1～10mm；盡量選(xuan)3mm厚的(de)樣(yang)；

11、測(ce)試樣(yang)品(pin)種類(lei)：固(gu)體塊(kuai)狀、低(di)粘度(du)液體(ti)、高粘(zhan)度(du)液體(ti)、粘性(xing)半固(gu)體、彈(dan)性固(gu)體、薄(bo)膜等(deng)均(jun)可適(shi)應(ying)，固(gu)體粉(fen)末需(xu)特需(xu)定制(zhi)；

12、測(ce)試樣(yang)品(pin)通(tong)道：單通(tong)道(dao)

13、氣(qi)氛(fen)：能(neng)實(shi)現(xian)真空測量和(he)保(bao)護氣(qi)氛(fen)測(ce)量兩(liang)種模(mo)式(shi)（氣(qi)氛(fen)：惰(duo)性、氧化(hua)、還(hai)原、靜態(tai)、動(dong)態），標配(pei)為常(chang)溫常(chang)壓空氣環境(jing)；

14、軟(ruan)件(jian)功能(neng)：可(ke)進行(xing)多層接觸(chu)熱阻分析，並計算(suan)熱阻(zu)、熱(re)擴(kuo)散(san)速(su)率等(deng)參數(shu)，使用(yong)已(yi)知(zhi)比(bi)熱的(de)標樣(yang)、通(tong)過(guo)比較(jiao)法(fa)可計算(suan)比熱(re)；

15、可(ke)連接計算(suan)機實(shi)現(xian)全(quan)自動控制(zhi)，中(zhong)文操(cao)作(zuo)界面(mian)，自動打印試(shi)驗報(bao)告(gao)；

16、多(duo)種數(shu)學模(mo)型擬(ni)合(he)，精(jing)確的脈沖寬(kuan)度(du)修正(zheng)與(yu)脈沖能(neng)量積(ji)分，熱損(sun)耗(hao)修(xiu)正(zheng)，內(nei)置數(shu)據(ju)庫(ku)。

17、設(she)備(bei)尺寸(cun)：120*110*125CM

18、重(zhong)量：80KG