
當(dang)前(qian)位置(zhi):首(shou)頁 > 新(xin)聞(wen)資(zi)訊 > 2024星(xing)火計(ji)劃(hua):ZJ-3 D33測試儀六件(jian)套設備(bei)全(quan)新(xin)推(tui)出(chu)
2024星火計(ji)劃(hua):常溫(wen)ZJ-3 D33測試儀6件套設備(bei)全(quan)新(xin)推(tui)出(chu)(D33,極化(hua),鐵電(dian),阻(zu)抗)
2024年(nian),我(wo)們(men)將(jiang)推(tui)出(chu)星(xing)火計(ji)劃(hua),在先(xian)進(jin)材(cai)料(liao)室(shi)建(jian)設(she)上(shang)提供(gong)常溫(wen)D33測試儀四(si)件套設備(bei)全(quan)新(xin)推(tui)出(chu)(D33,極化(hua),鐵電(dian),阻(zu)抗,相變(bian),結晶(jing)),這(zhe)些(xie)設(she)備(bei)對於建立和完(wan)善(shan)材(cai)料(liao)室(shi)的(de)建(jian)設(she)進(jin)壹步提供(gong)有力(li)支持(chi)。
這些(xie)設(she)備(bei)包(bao)含(han)材(cai)料(liao)制樣(yang)到成(cheng)型(xing),測試的等多個階段(duan)。

近(jin)代(dai)物(wu)理(li)實(shi)驗室(shi)現有實(shi)驗室(shi)面(mian)積(ji)約(yue)800平方(fang)米,總資(zi)產(chan)達(da)1200多(duo)萬(wan)元(yuan),涉(she)及原(yuan)子(zi)物(wu)理(li)、原(yuan)子(zi)核物(wu)理(li)、固(gu)體(ti)物(wu)理(li)、凝(ning)聚(ju)態(tai)物(wu)理(li)、磁(ci)學、光學、真(zhen)空(kong)技(ji)術(shu)、當(dang)代(dai)新(xin)興(xing)物理(li)實(shi)驗技(ji)術(shu)等領域(yu)的綜合(he)設(she)計性(xing)項(xiang)目(mu)30個,為(wei)學(xue)生(sheng)開(kai)設80學(xue)時的(de)必修(xiu)課程。另(ling)有微(wei)結構(gou)材(cai)料(liao)設計(ji)與性能(neng)模(mo)擬平臺(tai)壹個,用於進(jin)行虛擬仿(fang)真實(shi)驗,共有35個項目,其中(zhong)課內(nei)安排了(le)2個項目共10學時。近(jin)代(dai)物(wu)理(li)中(zhong)的(de)壓(ya)電(dian)(D33測試儀,TDZT-0C4型(xing)鐵電(dian)測試儀,DLT-01型(xing)介(jie)電(dian)測試儀,PZT-JH10/4型(xing)壓電(dian)極化(hua)設備(bei),這(zhe)些(xie)都是(shi)目(mu)前近(jin)代(dai)物(wu)理(li)及材(cai)料(liao),機電(dian)學(xue)院(yuan)的重要設(she)備(bei)之(zhi)壹。
具(ju)體資(zi)料(liao)和技(ji)術(shu)如下(xia):
產(chan)品(pin)名稱 | 招(zhao)標技(ji)術(shu)參(can)數(shu) | ||||||||||||||||||||
ZJ-3型(xing)精密D333 測試儀 | ZJ-3型(xing)壓電(dian)測試儀(靜壓電(dian)系(xi)數(shu)d33測量(liang)儀(yi))是為(wei)測量(liang)壓(ya)電(dian)材(cai)料(liao)的d33常數(shu)而設(she)計的專(zhuan)用儀器(qi),它(ta)可用(yong)來測量(liang)具(ju)有大壓電(dian)常數(shu)的(de)壓(ya)電(dian)陶(tao)瓷,小(xiao)壓電(dian)常數(shu)的(de)壓(ya)電(dian)單(dan)晶(jing)及壓電(dian)高分子(zi)材(cai)料(liao)。此(ci)外,也可(ke)測量(liang)任(ren)意(yi)取向壓電(dian)單(dan)晶(jing)以(yi)及某些(xie)壓(ya)電(dian)器(qi)件的等效壓電(dian)d’33常數(shu),儀(yi)器(qi)測量(liang)範(fan)圍寬,分辨(bian)率細,可靠性高,操作簡單(dan),對試(shi)樣(yang)大小及形狀無特殊(shu)要(yao)求(qiu),圓片、圓環、圓管、方(fang)塊、長條、柱形(xing)及半球(qiu)殼等均可(ke)測量(liang),測量(liang)結果(guo)和(he)極性在(zai)三(san)位半數(shu)字(zi)面(mian)板(ban)表(biao)上(shang)直接(jie)顯(xian)示。ZJ-3型(xing)增加(jia)了(le)對被測元(yuan)件(jian)的(de)放(fang)電(dian)保(bao)護、放(fang)電(dian)提示以(yi)及被測波形(xing)輸(shu)出等功能,使得(de)儀(yi)器在(zai)測量(liang)未(wei)放(fang)電(dian)(尤(you)其是(shi)較(jiao)大(da)尺寸)的壓(ya)電(dian)元(yuan)件(jian)時具(ju)備(bei)了(le)高電(dian)壓(ya)放(fang)電(dian)提示及保護功能,本儀器(qi)是從(cong)事(shi)壓(ya)電(dian)材(cai)料(liao)及壓電(dian)元(yuan)件(jian)生(sheng)產(chan)、應(ying)用(yong)與研究部門的(de)儀器(qi)。
d33測量(liang)範(fan)圍: ×1擋(dang):10到2000pC/N,20 至(zhi)4000pC/N,可以升級(ji)到10000PC/N. 可(ke)配D31塊(kuai)體(ti)夾具,D15塊(kuai)體(ti)夾具,D15圓管夾具,薄(bo)膜拉伸(shen)夾具 可(ke)以配套PZT-JH10/4/8/12型(xing)壓電(dian)極化(hua)裝置使用(yong) 可(ke)以配套ZJ-D33-YP15壓電(dian)壓(ya)片機使用(yong) 計(ji)量(liang)標(biao)定(ding)標(biao)準樣(yang)尺寸:18mm*0.8mm,老(lao)化(hua)時間(jian):2-3年(nian)(評(ping)判(pan)壓電(dian)測試儀準確(que)性(xing)能(neng)的重要依(yi)據(ju)之(zhi)壹) 補充(chong)參(can)數(shu):
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TDZT-04C鐵(tie)電(dian)性(xing)能綜合(he)測試系(xi)統(tong)
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TDZT-04C鐵(tie)電(dian)性(xing)能綜合(he)測試系(xi)統(tong)是最新(xin)壹(yi)代(dai)鐵(tie)電(dian)材(cai)料(liao)參數(shu)測試儀適用(yong)於鐵電(dian)薄(bo)膜、鐵電(dian)體(ti)材(cai)料(liao)(既可塊(kuai)體(ti)材(cai)料(liao))的電(dian)性(xing)能測量(liang),可(ke)測量(liang)鐵(tie)電(dian)薄(bo)膜電(dian)滯(zhi)回(hui)線、I—V特性(xing)及開(kai)關特性(xing),可(ke)精確(que)地測出具有非對稱(cheng)電(dian)滯(zhi)回(hui)線鐵電(dian)薄(bo)膜的Pr值。可測鐵電(dian)體(ti)材(cai)料(liao)的電(dian)滯(zhi)回(hui)線及I—V特性(xing)。
主(zhu)要技(ji)術(shu)指標(biao): 1.輸(shu)出信(xin)號電(dian)壓(ya)::薄(bo)膜:0~±10V 陶(tao)瓷、材(cai)料(liao):0~±2000V 2.輸(shu)出信(xin)號頻率:薄(bo)膜材(cai)料(liao)1-1000HZ,陶(tao)瓷:0-1Hz 3.電(dian)容範(fan)圍:1000nf~ 100nf, 精度(du): ≤1%。 4.電(dian)流(liu)範(fan)圍: 1nA~10A ,精度(du): ≤1%。 5、測試樣(yang)品:0-20mm 5個 6、高壓(ya)樣(yang)品池:開(kai)放(fang)式:8CM*5CM 7、三(san)維移(yi)動(dong)薄(bo)膜測試平臺(tai):直立式探針壹套 8、電(dian)流(liu):1-10倍(bei)放(fang)大(da),信(xin)號(hao):1-20倍。.數(shu)據(ju)結口(kou):USB或BNC接(jie)口(kou)。 9. 數(shu)據(ju)采集(ji)分析軟件(jian): 能(neng)畫(hua)出(chu)鐵(tie)電(dian)薄(bo)膜的電(dian)滯(zhi)回(hui)線,定(ding)量(liang)得(de)到鐵電(dian)薄(bo)膜材(cai)料(liao)的飽(bao)和(he)極化(hua)Ps、剩余(yu)極化(hua)Pr、矯頑場(chang)Ec、漏電(dian)流(liu)等參數(shu);可(ke)以(yi)進(jin)行鐵電(dian)薄(bo)膜材(cai)料(liao)的鐵(tie)電(dian)疲(pi)勞性能、鐵(tie)電(dian)保(bao)持(chi)性能(neng)的(de)測試,電(dian)阻(zu)測量(liang),漏電(dian)流(liu)測量(liang)。 10.可(ke)以配合(he)ZJ-3和(he)ZJ-6型(xing)壓電(dian)測試儀操作系(xi)統(tong)
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PZT-JH10/4壓(ya)電(dian)極化(hua)裝置(10KV以(yi)下(xia)壓電(dian)陶(tao)瓷同時極化(hua)1-4片)
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PZT-JH10/4壓(ya)電(dian)極化(hua)裝置(10KV以(yi)下(xia)壓電(dian)陶(tao)瓷同時極化(hua)1-4片) 關鍵(jian)詞:壓電(dian)極化(hua),壓電(dian)陶(tao)瓷材(cai)料(liao),1-4片
主(zhu)要特點: 1.能(neng)夠同時極化(hua)1-4片試樣(yang) 2.提供(gong)多(duo)套測試夾具(可(ke)以(yi)測試粉末,單(dan)樣(yang)品,及薄(bo)的壓(ya)電(dian)陶(tao)瓷片(pian)) 2. 安(an)全(quan)可靠,溫度(du)補償(chang)快、恒(heng)溫(wen)精度(du)高 3. 每(mei)路當(dang)漏電(dian)流(liu)超(chao)過規(gui)定(ding)值(zhi)時,都具(ju)有切斷保護功能,不(bu)影響(xiang)其它(ta)樣(yang)片的極化(hua),其它(ta)回(hui)路可(ke)按(an)正(zheng)常極化(hua)時間(jian)完成(cheng)極化(hua)。 4. 任(ren)意(yi)夾持(chi)樣(yang)品尺寸為(wei)0-40mm片(pian)方(fang)型(xing)或是(shi)圓型(xing)試樣(yang) 7、工(gong)作電(dian)源(yuan):AC220V 50/60HZ 8、額定(ding)功率:2.0kw 9、壓(ya)電(dian)材(cai)料(liao)極化(hua)或耐壓(ya)測試:DC:0-10KV(±5%+2個字)連續(xu)可(ke)調(tiao) 10、總(zong)電(dian)流(liu):10mA 11、每(mei)路切(qie)斷(duan)電(dian)流(liu):0.5mA 12、加(jia)熱(re)時間(jian):可以自(zi)動(dong)設(she)定(ding) 13、加(jia)熱(re)元(yuan)件(jian) :優(you)質電(dian)阻(zu)絲 14、1次測試試樣(yang)數(shu)量(liang):可(ke)加(jia)載(zai)1-4片(pian)試樣(yang) 15、額定(ding)溫(wen)度 :≤180℃ 16、最高溫(wen)度 :200℃ 17、控(kong)溫方(fang)式 :智能化(hua)恒溫控(kong)制(zhi)(進(jin)口表(biao)),多段程(cheng)序可控 18、樣(yang)片 :樣(yang)品尺寸為(wei)3-40mm片(pian)方(fang)型(xing)或是(shi)圓型(xing)試樣(yang) 19、外形尺(chi)寸(cun) : 875*470*400(mm) 20、極化(hua)探頭:優(you)質銅(tong)電(dian)極(0.2mm) 21、標(biao)準極化(hua)樣(yang)品:8片(10mm*1.5mm) 21、配套設備(bei)裝(zhuang)置(zhi):能(neng)夠配合(he)ZJ-3和(he)ZJ-6壓(ya)電(dian)測試儀進(jin)行測量(liang) 22、配套設備(bei)裝(zhuang)置(zhi):可(ke)以配置(zhi)10MM,20MM,30MM,40MM壓(ya)片(pian)夾具 | ||||||||||||||||||||
DLT-01 Dielectric tester型(xing) 介(jie)電(dian) 測試儀
| DLT-01 Dielectric tester型(xing)介(jie)電(dian)測試儀 關鍵(jian)詞:介(jie)電(dian)常數(shu),諧(xie)振(zhen)頻率(lv)Fp,機電(dian)耦合(he)系(xi)數(shu)Keff,機械(xie)品質因素 Qm
DLT-01 Dielectric tester型(xing)介(jie)電(dian)測試儀是壹(yi)款(kuan)多(duo)功能的介(jie)電(dian)測試儀,即可測試包(bao)括介(jie)電(dian)常數(shu)、介(jie)電(dian)損(sun)耗(hao)、電(dian)容等參數(shu),又可(ke)以(yi)測量(liang)諧(xie)振(zhen)頻率(lv)Fs,反(fan)諧(xie)振(zhen)頻率(lv)Fp,機電(dian)耦合(he)系(xi)數(shu) Keff,機械(xie)品質因素 Qm,最大(da)導納(na)Gmax等材(cai)料(liao)參數(shu),為(wei)材(cai)料(liao)研究測試提供(gong)第(di)壹(yi)手(shou)原(yuan)始數(shu)據(ju),提供(gong)元(yuan)整(zheng)的數(shu)據(ju)圖,是(shi)高等院(yuan)校,科(ke)研院(yuan)所及材(cai)料(liao)研究生產(chan)的(de)重要工(gong)具(ju),同時還(hai)可以配合(he)高溫(wen)設備(bei),進(jin)行高溫(wen)設備(bei)測試。
壹(yi)、主要(yao)特點: 自(zi)動(dong)平衡(heng)技(ji)術(shu)電(dian)橋(qiao),測量(liang)準(zhun)確度高 4端(duan)對開(kai)爾文測試端(duan),測量(liang)範(fan)圍準確(que)度(du)高 提供(gong)內(nei)部直流(liu)偏壓-5V~+5V 可(ke)選配內(nei)部±40V偏置電(dian)壓(ya)源 簡(jian)體中(zhong)文、英(ying)文操作語言(yan) 分檔(dang)測量(liang)、列表(biao)掃描、繪(hui)圖掃(sao)描、開(kai)路、短路、負(fu)載(zai)校(xiao)正等等功能 配備(bei)電(dian)導率(lv)σ·介(jie)電(dian)常數(shu)ε的(de)運(yun)算(suan)功能 進(jin)行測試數(shu)據(ju)、測試條件保(bao)存(cun)(U盤或內(nei)部) 繪(hui)圖掃(sao)描圖像(xiang)直接(jie)拷(kao)屏(ping)到U盤功能 加(jia)強的測試端(duan)保(bao)護(hu)功能 USB、GPIB、RS232、LAN等上(shang)位機連接(jie)接(jie)口(kou) 二、主(zhu)要技(ji)術(shu)參(can)數(shu) 1、頻(pin)率:20HZ-1MHZ,5MHZ,10MHZ,15MHZ,30MHZ,50MHZ多(duo)種(zhong)可選 2、D33測試範圍:0-6000PC/N(選配ZJ-3型(xing)精密壓電(dian)系(xi)數(shu)測試儀) 5、基本精度(du) :0.05% 6、測試電(dian)平: 5mV—2Vrms 7、輸(shu)出阻(zu)抗: 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω 8、測試參數(shu):D33,電(dian)容,介(jie)電(dian)常數(shu),諧(xie)振(zhen)頻率(lv)Fs,反(fan)諧(xie)振(zhen)頻率(lv)Fp,機電(dian)耦合(he)系(xi)數(shu) Keff,機械(xie)品質因素 Qm,最大(da)導納(na)Gmax等 9、通道數(shu):1通道 10、電(dian)極: 雙面(mian)夾持(chi)探針 11、軟件(jian):自(zi)動(dong)計(ji)算(suan)並輸(shu)出數(shu)據(ju),軟件(jian)可(ke)根(gen)據(ju)實(shi)驗方(fang)案設計,通過測量(liang)C和(he)D值,自(zi)動(dong)完(wan)成(cheng)介(jie)電(dian)常數(shu)和(he)介(jie)電(dian)損(sun)耗(hao)隨頻率、電(dian)壓(ya)、偏壓多(duo)維(wei)變(bian)化(hua)的曲線。
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PBS-800型(xing)淬冷法相平衡(heng)實(shi)驗儀
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PBS-800型(xing)淬冷法相平衡(heng)實(shi)驗儀 關鍵(jian)詞:淬冷(leng)法(fa),相平衡(heng),顯(xian)微(wei)鏡Na,o -SiO
壹(yi)、產(chan)品(pin)介(jie)紹(shao) 在(zai)實(shi)際生產(chan)過程中(zhong),材(cai)料(liao)的燒(shao)成(cheng)溫(wen)度範(fan)圍、升降(jiang)溫(wen)制度、材(cai)料(liao)的熱(re)處(chu)理(li)等工藝參數(shu)的(de)確(que)定(ding)經常要(yao)用到專(zhuan)業相圖。相圖的(de)制(zhi)作是壹(yi)項(xiang)十分嚴(yan)謹且非常耗(hao)時的(de)工作。淬冷(leng)法(fa)是靜態(tai)條件下(xia)研究系(xi)統(tong)狀態(tai)圖《相圖)的(de)方(fang)法之(zhi)壹。掌(zhang)握(wo)該(gai)方(fang)法對材(cai)料(liao)工藝過程的管理(li)及新(xin)材(cai)料(liao)的開(kai)發非(fei)常有用。 二、設(she)備(bei)應(ying)用(yong): 1、從(cong)熱(re)力(li)學(xue)角度(du)建立系(xi)統(tong)狀態(tai)、熱(re)力(li)學(xue)條件、動(dong)力(li)學(xue)條件之(zhi)間的關系(xi)。 2、掌(zhang)握(wo)淬冷法研究相平衡(heng)的(de)實(shi)驗方(fang)法及其優(you)缺(que)點。 3、掌(zhang)握(wo)浸油試片的(de)制作方(fang)法及顯微(wei)鏡的使用(yong),驗證Na,o -SiO,系(xi)統(tong)相圖. 4、用(yong)於無機非金(jin)屬(shu)材(cai)料(liao)領域(yu)相圖的(de)研究,主要(yao)是通過加(jia)熱(re)樣(yang)品,使其結構(gou)達(da)到平衡(heng)狀(zhuang)態(tai),然(ran)後在(zai)水(shui)中(zhong)快(kuai)速(su)冷卻(que),保持(chi)試樣(yang)的高溫(wen)結構(gou),再(zai)通過顯微(wei)鏡觀(guan)察(cha)試樣(yang)是否有晶(jing)體(ti)的(de)析出(chu)。
三(san)、主要(yao)技(ji)術(shu)參(can)數(shu): 1、溫(wen)度範(fan)圍:室(shi)溫(wen)-1000℃。 2、控(kong)溫精度(du):士1℃ 3、控(kong)溫方(fang)式:PID 調(tiao)節(jie)自(zi)動(dong)恒(heng)溫(wen)。 4、控(kong)制方(fang)式:加(jia)熱(re)+電(dian)路雙控制(zhi) 5、爐(lu)體結構(gou):碳(tan)化(hua)矽(gui)爐(lu)膛 6、工(gong)作電(dian)源(yuan):AC220V士10%50HZ。 7、工(gong)作環境:相對濕(shi)度(du):≤80%;溫(wen)度(du):0~45℃。 8、顯(xian)示:液(ye)晶(jing)顯(xian)示(shi) 9、鉑(bo)金料(liao)鬥:2個 10、可(ke)配合(he)ZJ-3型(xing)D33測試儀,TDZT-04C型(xing)鐵電(dian)測試儀做其他(ta)參數(shu)測試 | ||||||||||||||||||||
SPRE-1000型(xing)固(gu)相反應(ying)實(shi)驗儀
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SPRE-1000型(xing)固(gu)相反應(ying)實(shi)驗儀 關鍵(jian)詞:固(gu)體(ti)材(cai)料(liao), 固(gu)相反應(ying), 動(dong)力(li)學(xue)規(gui)律(lv)
壹(yi)、主要(yao)用(yong)途(tu) SPRE-1000型(xing)固(gu)相反應(ying)實(shi)驗儀是(shi)壹款(kuan)針對固(gu)體(ti)材(cai)料(liao)在高溫(wen)加(jia)熱(re)時,固(gu)體(ti)物(wu)系(xi)的質量(liang)會(hui)發生(sheng)變(bian)化(hua),測量(liang)物(wu)質的(de)質量(liang)隨溫度發生(sheng)變(bian)化(hua)的方(fang)法稱(cheng)為(wei)熱(re)重分析法(fa)。SPRE-1000型(xing)固(gu)相反應(ying)實(shi)驗儀用(yong)於固(gu)相反應(ying)實(shi)驗,即將(jiang)反(fan)應(ying)物(wu)在(zai)恒定(ding)溫(wen)度下(xia)保(bao)溫,記錄(lu)質量(liang)隨時間(jian)的變(bian)化(hua),驗證固(gu)相反應(ying)的(de)動(dong)力(li)學(xue)規(gui)律(lv)。是目(mu)前(qian)壹(yi)款新(xin)型(xing)的升級(ji)版固(gu)相反應(ying)實(shi)驗儀。 二、儀(yi)器特點 結構(gou)優(you)勢(shi) 1. 爐(lu)體加(jia)熱(re)采用貴金(jin)屬(shu)合(he)金(jin)絲(si)雙排繞制,減少幹擾(rao),更(geng)耐高溫(wen)。 2. 托盤傳感器,采用貴金(jin)屬(shu)合(he)金(jin)盤精工(gong)打造(zao),具有耐高溫(wen),抗氧(yang)化(hua),耐腐蝕(shi)等 優(you)點。 3. 供(gong)電(dian),循(xun)環散(san)熱(re)部分和(he)主機分開(kai),減少熱(re)量(liang)和(he)振(zhen)動(dong)對微(wei)熱(re)天(tian)平的(de)影(ying)響。 4. 采用上(shang)開(kai)蓋式結構(gou),操作方(fang)便(bian),留有尾氣輸(shu)出端(duan)口(kou),便(bian)於拓(tuo)展連(lian)接(jie)紅(hong)外等設 備(bei)。 5. 主(zhu)機采用隔絕加(jia)熱(re)爐(lu)體對機箱及微(wei)熱(re)天(tian)平的(de)熱(re)影(ying)響。 6. 爐(lu)體采用雙保溫(wen),線(xian)性更好(hao) 三(san)、主要(yao)技(ji)術(shu)參(can)數(shu): 1、溫(wen)度範(fan)圍:常溫(wen)-1000℃任(ren)意(yi)設置 2、控(kong)溫精度(du):±0.01℃ 3、控(kong)溫方(fang)式:進(jin)口數(shu)顯(xian) PID,恒(heng)溫(wen)控制 4、裝(zhuang)樣(yang)品稱樣(yang)最大(da)質量(liang): 0.01mg~3g 5、稱(cheng)重系(xi)統(tong)精度(du):0.01mg 6、氣(qi)氛裝(zhuang)置(zhi):內(nei)置氣體流(liu)量(liang)計(ji),包(bao)含(han)兩(liang)路氣(qi)體(ti)切(qie)換和流(liu)量(liang)大(da)小控制 氣(qi)氛:惰(duo)性、氧(yang)化(hua)性、還(hai)原(yuan)性,靜態(tai)、動(dong)態(tai);氣(qi)體通入時間(jian)可以程序設置,試驗過程中(zhong),可(ke)以(yi)程(cheng)序切換氣氛(fen) 7、軟件(jian): 智(zhi)能(neng)軟件(jian)可(ke)自(zi)動(dong)記錄(lu) TG 曲線進(jin)行數(shu)據(ju)處(chu)理(li)、打(da)印實(shi)驗報表(biao) 曲線掃(sao)描: 曲線掃(sao)描: 升溫(wen)掃描、降溫(wen)掃描 8、功率:1KW 6、工(gong)作電(dian)源(yuan):AC220V+10% 50HZ 7、工(gong)作環境:相對濕(shi)度(du):≤80%:溫(wen)度(du) 0-45℃ 8、顯(xian)示方(fang)式:液(ye)晶(jing)顯(xian)示(shi)
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