
當(dang)前位(wei)置(zhi):首(shou)頁(ye) > 技(ji)術文章 > 壓電測(ce)試案(an)列(lie)二(環形壓電疊(die)堆(dui),彎(wan)曲(qu)D33測(ce)試)
ZJ-4 型(xing)壓電測(ce)試儀(靜壓電系(xi)數d33測(ce)量儀),薄(bo)膜PVDF壓電系(xi)數測(ce)試儀
關鍵詞(ci):壓電,陶(tao)瓷(ci)材(cai)料(liao),高分子(zi),d33/d15,D15圓(yuan)管夾(jia)具,

壹、產品(pin)介(jie)紹:
ZJ-4型壓電測(ce)試儀(靜壓電系(xi)數d33測(ce)量儀)是為測(ce)量壓電材(cai)料(liao)的d33常(chang)數(shu)而設計(ji)的專用(yong)儀器,它(ta)可(ke)用(yong)來測(ce)量具(ju)有大壓電常(chang)數(shu)的壓電陶(tao)瓷(ci),小壓電常(chang)數(shu)的壓電單(dan)晶(jing)及(ji)壓電高分子(zi)材(cai)料(liao),PVDF薄(bo)膜壓樣(yang)品(pin)。ZJ-4擴(kuo)展了D31塊(kuai)體,D31薄(bo)膜拉(la)伸夾(jia)具,D15條(tiao)狀(zhuang)夾(jia)具,D15圓(yuan)管夾(jia)具,本儀器是從事(shi)壓電材(cai)料(liao)及(ji)壓電元(yuan)件(jian)生(sheng)產、應用(yong)與(yu)研究(jiu)部門的儀器。
二、參考(kao)標(biao)準(zhun):
GB3389.4-82《壓電陶(tao)瓷(ci)材(cai)料(liao)性(xing)能(neng)測(ce)試方法 縱向壓電應變(bian)常(chang)數(shu)d33的靜(jing)態(tai)測(ce)試》
GB/T3389.5-1995《壓電陶(tao)瓷(ci)材(cai)料(liao)性(xing)能(neng)測(ce)試方法 圓(yuan)片(pian)厚(hou)度(du)伸縮(suo)振(zhen)動(dong)模式(shi)》
GB000?Tj1.1/T3389.4-1982《壓電陶(tao)瓷(ci)材(cai)料(liao)性(xing)能(neng)測(ce)試方法 柱體縱向長度(du)伸縮(suo)振(zhen)動(dong)模式(shi)》
GB/T 3389.7-1986《壓電陶(tao)瓷(ci)材(cai)料(liao)性(xing)能(neng)測(ce)試方法 強場(chang)介(jie)電性能(neng)的測(ce)試》
GB/T3389.8-1986《壓電陶(tao)瓷(ci)材(cai)料(liao)性(xing)能(neng)測(ce)試方法 熱釋電系(xi)數的測(ce)試
三(san)、產品(pin)主(zhu)要(yao)功(gong)能(neng):
測(ce)量壓電材(cai)料(liao)的d33常(chang)數(shu)
測(ce)量具(ju)有大壓電常(chang)數(shu)的壓電陶(tao)瓷(ci)
測(ce)量小壓電常(chang)數(shu)的壓電單(dan)晶(jing)及(ji)壓電高分子(zi)材(cai)料(liao)
測(ce)量任(ren)意取向壓電單(dan)晶(jing)以(yi)及(ji)某些壓電器(qi)件(jian)的等效(xiao)壓電d’33常(chang)數(shu)
薄(bo)膜PVDF壓電系(xi)數D33測(ce)試
D31塊(kuai)體,D31薄(bo)膜拉(la)伸夾(jia)具,D15條(tiao)狀(zhuang)夾(jia)具,D15圓(yuan)管夾(jia)具等八套夾(jia)具
四(si)、主(zhu)要(yao)技術指(zhi)標
d33測(ce)量範(fan)圍:
×1擋: 20 至6000pC/N 擴(kuo)展10000PC/N
×0.1擋: 2 至400pC/N。
可以(yi)配(pei)套(tao)PZT-JH10/4/8/12型壓電極(ji)化(hua)裝置使用(yong)
可(ke)以(yi)配(pei)套(tao)ZJ-D33-YP15壓電壓片(pian)機(ji)使用(yong)
誤(wu)差(cha):×1擋(dang):±2%±1個(ge)數字(zi),當(dang)d33在100到4000pC/N;
計(ji)量(liang)標定(ding)標準(zhun)樣(yang)尺(chi)寸(cun):18mm*0.8mm,老(lao)化(hua)時(shi)間:2-3年(評(ping)判壓電測(ce)試儀準(zhun)確性(xing)能(neng)的重(zhong)要(yao)依據(ju)之(zhi)壹(yi))
提供(gong)壓電薄(bo)膜標(biao)準(zhun)片(pian):20*20MM
電(dian)壓保護:放(fang)電(dian)保護功(gong)能(neng)
D31塊(kuai)體,D31薄(bo)膜拉(la)伸夾(jia)具,D15條(tiao)狀(zhuang)夾(jia)具,D15圓(yuan)管夾(jia)具D31塊(kuai)體夾(jia)具,薄(bo)膜拉(la)伸夾(jia)具(新(xin)增功(gong)能(neng)),共面(mian)電極(ji)功(gong)能(neng)(新增(zeng))
±5%±1個(ge)數字(zi),當(dang)d33在10到200pC/N;
×0.1擋(dang):±2%±1個(ge)數字(zi),(當(dang)d33在10到200pC/N)
±5%±1個(ge)數字(zi),當(dang)d33在10到20pC/N。
分(fen)辨率(lv): ×1擋(dang):1 pC/N; ×0.1擋:0.1 pC/N。
尺寸(cun):施(shi)力(li)裝(zhuang)置(zhi):Φ110×140mm;儀器本體:240×200×80mm。
重(zhong)量(liang):施力裝(zhuang)置(zhi):約(yue)4公斤;
儀器本體:2公斤。
電源(yuan):220伏(fu),50赫,20瓦(wa)。
經典案(an)列(lie):
1、環形壓電陶(tao)瓷(ci)片(pian)/疊(die)堆(dui)測(ce)試 D33測(ce)試儀 實(shi)際應用(yong)壹(yi):



2、環形壓電陶(tao)瓷(ci)彎(wan)曲(qu)片(pian)D33測(ce)試 實(shi)際應用(yong)二:
