
當(dang)前(qian)位置(zhi):首(shou)頁 > 技(ji)術(shu)文(wen)章 > 鐵(tie)電(dian)材料(liao)測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)的維護保(bao)養方法(fa)涉(she)及多(duo)個方面(mian)
通(tong)過(guo)上(shang)述(shu)維(wei)護保(bao)養方法(fa),可以有效(xiao)地延(yan)長(chang)鐵(tie)電(dian)材料(liao)測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)的使(shi)用壽(shou)命,保(bao)證(zheng)測(ce)試(shi)數據的準確(que)性(xing)和可靠性(xing),從(cong)而支持(chi)鐵(tie)電(dian)材料(liao)的研究(jiu)和應(ying)用(yong)開(kai)發。
TDWFE-6000型鐵(tie)電(dian)溫譜測(ce)儀(yi)
關鍵(jian)詞(ci):電(dian)滯(zhi)回(hui)線(xian) ,鐵(tie)電(dian)測(ce)試(shi)儀(yi),電(dian)壓(ya),頻(pin)率 ,電(dian)致應(ying)變(bian),蝴(hu)蝶(die)曲線
壹(yi)、產品(pin)介紹(shao):
TDWFE-6000型鐵(tie)電(dian)溫譜測(ce)儀(yi)是(shi)壹(yi)款(kuan)高(gao)量程款(kuan)的鐵(tie)電(dian)性(xing)能(neng)材料(liao)測(ce)試(shi)裝(zhuang)置(zhi),這(zhe)款(kuan)設(she)備(bei)可以適用於(yu)鐵(tie)電(dian)薄膜(mo)、鐵(tie)電(dian)體材料(liao)(既(ji)可塊(kuai)體(ti)材料(liao))的電(dian)性(xing)能(neng)測(ce)量(liang),可測(ce)量(liang)鐵(tie)電(dian)薄膜(mo)電(dian)滯(zhi)回(hui)線(xian)、可測(ce)出具有(you)非(fei)對稱(cheng)電(dian)滯(zhi)回(hui)線(xian)鐵(tie)電(dian)薄膜(mo)值。可以進行電(dian)致應(ying)變(bian)測(ce)試(shi),可以蝴蝶(die)曲線功能(neng),設(she)備(bei)還(hai)可以擴(kuo)展(zhan)高(gao)溫(wen)電(dian)阻,高溫介電(dian),電(dian)容-電(dian)壓(ya)曲線(xian),TSC/TSDC等功能(neng)。本(ben)儀(yi)器(qi)是從(cong)事壓(ya)電(dian)材料(liao)及壓(ya)電(dian)元件生(sheng)產、應(ying)用(yong)與(yu)研(yan)究(jiu)部(bu)門的重要(yao)設(she)備(bei)之(zhi)壹(yi),已經(jing)在各(ge)大高(gao)校和科研院(yuan)所(suo)廣(guang)泛(fan)使(shi)用。
二(er)、主(zhu)要(yao)技(ji)術(shu)指(zhi)標(biao):
1、輸出信號電(dian)壓(ya)::±10KV
2、溫度;室(shi)溫(wen)-200℃,控(kong)溫精度(du):±1℃
3、控(kong)制(zhi)施加頻(pin)率0.01到(dao)250KHz(陶瓷、單晶(jing),薄(bo)膜(mo))PC端軟(ruan)件控(kong)制(zhi)自(zi)定義設(she)置(zhi);
4、控(kong)制(zhi)輸出電(dian)流(liu)0到(dao)±50mA連(lian)續(xu)可調,PC端軟(ruan)件控(kong)制(zhi)自(zi)定義設(she)置(zhi)。
5、動態電(dian)滯(zhi)回(hui)線(xian)測(ce)試(shi)頻(pin)率範圍(wei) 0.01Hz-5kHz
7、最(zui)小(xiao)脈寬保(bao)持(chi)時(shi)間為(wei)20us;最(zui)小(xiao)上(shang)升(sheng)沿(yan)時(shi)間為(wei)10us;
8、疲勞測(ce)試(shi)頻(pin)率500kHz(振幅(fu)10 Vpp,負(fu)載(zai)電(dian)容1 nF);使(shi)用高(gao)壓(ya)放大器(qi)後(hou)疲勞頻(pin)率最(zui)高(gao)5kHz;
9、測(ce)試(shi)速度:測(ce)量(liang)時(shi)間《5秒/樣品(pin)•溫(wen)度點(dian)
10、樣品規(gui)格:塊(kuai)體(ti)材料(liao)尺(chi)寸(cun):直(zhi)徑(jing)2-100mm,厚(hou)度0.1-10mm
11、主(zhu)要(yao)功能(neng): 動態電(dian)滯(zhi)回(hui)線(xian)DHM,靜(jing)態(tai)電(dian)滯(zhi)回(hui)線(xian)SHM,I-V特(te)性(xing),脈沖PUND,疲勞Fatigue,電(dian)擊穿強(qiang)度BDM,漏電(dian)流(liu)LM,電(dian)流(liu)-偏壓(ya),保(bao)持(chi)力(li)RM,
10. 電(dian)荷解析(xi)度不(bu)小(xiao)於(yu)10 mC;
漏(lou)電(dian)流(liu)測(ce)量(liang)範圍(wei):1pA~ 20 mA,分辨率(lv)不(bu)低(di)於(yu)0.1pA;
12、薄膜測(ce)試(shi)功能(neng):配(pei)置(zhi)薄(bo)膜(mo)測(ce)試(shi)變(bian)溫(wen)探(tan)針臺壹(yi)套(tao),電(dian)子顯微鏡壹(yi)套(tao),高(gao)壓(ya)放大器(qi)±100V 壹(yi)臺,溫(wen)度(du)範圍(wei):室(shi)溫(wen)~400度。
13、 樣品厚(hou)度:30nm~1mm,測(ce)試(shi)頻(pin)率0.01Hz~100kHz@0~±100V
連(lian)續(xu)可調,及相(xiang)應(ying)的電(dian)壓(ya)電(dian)路系(xi)統(tong);
14、控(kong)制(zhi)方式(shi):計(ji)算(suan)機(ji)實(shi)時(shi)控(kong)制(zhi)、實時(shi)顯示、實(shi)時(shi)數據計(ji)算(suan)、分(fen)析(xi)與存儲
15、軟(ruan)件采集:自(zi)動采集軟(ruan)件,分析(xi)可以兼容其(qi)他(ta)相(xiang)關主(zhu)流(liu)軟(ruan)件。
16、測(ce)試(shi)精度(du):±0.05%
17、內(nei)置(zhi)電(dian)壓(ya):±20V
18、 可擴(kuo)展(zhan)激(ji)光(guang)幹(gan)涉(she)儀(yi),進行電(dian)致應(ying)變(bian)測(ce)試(shi) 位移精度(du)50nm;
19、激光(guang)非接觸(chu)式(shi)測(ce)量(liang);
20、實現應(ying)變(bian)曲(qu)線(xian)顯示與(yu)記錄;
21、 電(dian)壓(ya)範圍(wei)0到(dao)±5 kV;
22、最(zui)大量(liang)程2mm;
