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          鐵(tie)電(dian)材料(liao)測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)的維護保(bao)養方法(fa)涉(she)及多(duo)個方面(mian)

          更新時(shi)間:2024-11-21  |  點(dian)擊(ji)率:1076
          鐵(tie)電(dian)材料(liao)測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)的維護保(bao)養方法(fa)涉(she)及多(duo)個方面(mian),旨(zhi)在確(que)保(bao)設備(bei)的準確(que)性(xing)、穩定性(xing)和長(chang)期有(you)效(xiao)運(yun)行(xing)。
            1.定期校準:
            -為了確(que)保(bao)測(ce)量(liang)結果(guo)的準確(que)性(xing),鐵(tie)電(dian)材料(liao)測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)應(ying)定(ding)期進行校準。這包(bao)括(kuo)檢(jian)查和調整設(she)備(bei)的精度(du),確(que)保(bao)所(suo)有測(ce)量(liang)參(can)數如(ru)介電(dian)常(chang)數、損(sun)耗(hao)因子(zi)、電(dian)阻率等均符(fu)合(he)標(biao)準要(yao)求(qiu)。
            -校準過(guo)程(cheng)中(zhong)應(ying)使(shi)用標(biao)準物(wu)質(zhi)或參考樣(yang)品(pin),以對比(bi)測(ce)試(shi)結果(guo),從而驗證(zheng)設(she)備(bei)的準確(que)性(xing)。
            2.清(qing)潔(jie)保(bao)養:
            -定期清(qing)潔(jie)測(ce)試(shi)夾(jia)具(ju)和其(qi)他(ta)關鍵(jian)部(bu)件,以防止(zhi)灰塵(chen)和汙垢(gou)積(ji)累(lei),這(zhe)些(xie)雜質(zhi)可能(neng)會(hui)影響測(ce)試(shi)結果(guo)的準確(que)性(xing)和設備(bei)的穩定性(xing)。
            -使(shi)用適當的清(qing)潔(jie)劑(ji)和方法(fa),避(bi)免對(dui)設(she)備(bei)造成(cheng)損害。
            3.環境控(kong)制(zhi):
            -保(bao)持(chi)測(ce)試(shi)環(huan)境的穩定性(xing),包(bao)括(kuo)溫度(du)、濕度和電(dian)磁幹(gan)擾(rao)的控(kong)制(zhi)。環境條件的波動可能(neng)會(hui)影響測(ce)試(shi)結果(guo)。
            -確(que)保(bao)測(ce)試(shi)區域遠(yuan)離強(qiang)磁場(chang)和電(dian)場,以免幹(gan)擾(rao)鐵(tie)電(dian)材料(liao)的測(ce)試(shi)數據。
            4.軟(ruan)件更新:
            -定期檢(jian)查並更(geng)新測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)的軟(ruan)件,以確(que)保(bao)使(shi)用新功能(neng)和安全(quan)補丁(ding)。軟(ruan)件的更新可能(neng)包(bao)含(han)性(xing)能(neng)改(gai)進和新特性(xing),有(you)助於(yu)提高(gao)測(ce)試(shi)效(xiao)率(lv)和準確(que)性(xing)。
            5.操作(zuo)培訓(xun):
            -確(que)保(bao)操作(zuo)人(ren)員接(jie)受(shou)適當的培訓(xun),了解如(ru)何(he)正(zheng)確(que)使(shi)用和維護測(ce)試(shi)設(she)備(bei)。錯(cuo)誤(wu)的操作(zuo)可能(neng)會(hui)導致設(she)備(bei)損(sun)壞或測(ce)試(shi)結果(guo)不準確(que)。
            6.預防性(xing)維(wei)護(hu):
            -制(zhi)定預(yu)防性(xing)維(wei)護(hu)計(ji)劃(hua),定(ding)期檢(jian)查設備(bei)的電(dian)氣連(lian)接(jie)、機(ji)械(xie)部(bu)件和傳感器(qi)等,及時(shi)發現(xian)並解決(jue)潛在(zai)的問題。

            通(tong)過(guo)上(shang)述(shu)維(wei)護保(bao)養方法(fa),可以有效(xiao)地延(yan)長(chang)鐵(tie)電(dian)材料(liao)測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)的使(shi)用壽(shou)命,保(bao)證(zheng)測(ce)試(shi)數據的準確(que)性(xing)和可靠性(xing),從(cong)而支持(chi)鐵(tie)電(dian)材料(liao)的研究(jiu)和應(ying)用(yong)開(kai)發。


          TDWFE-6000型鐵(tie)電(dian)溫譜測(ce)儀(yi)

           

          關鍵(jian)詞(ci):電(dian)滯(zhi)回(hui)線(xian) ,鐵(tie)電(dian)測(ce)試(shi)儀(yi),電(dian)壓(ya),頻(pin)率 ,電(dian)致應(ying)變(bian),蝴(hu)蝶(die)曲線

           

          鐵(tie)電(dian)材料(liao)測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)的維護保(bao)養方法(fa)涉(she)及多(duo)個方面(mian) 

            

          壹(yi)、產品(pin)介紹(shao):

              TDWFE-6000型鐵(tie)電(dian)溫譜測(ce)儀(yi)是(shi)壹(yi)款(kuan)高(gao)量程款(kuan)的鐵(tie)電(dian)性(xing)能(neng)材料(liao)測(ce)試(shi)裝(zhuang)置(zhi),這(zhe)款(kuan)設(she)備(bei)可以適用於(yu)鐵(tie)電(dian)薄膜(mo)、鐵(tie)電(dian)體材料(liao)(既(ji)可塊(kuai)體(ti)材料(liao))的電(dian)性(xing)能(neng)測(ce)量(liang),可測(ce)量(liang)鐵(tie)電(dian)薄膜(mo)電(dian)滯(zhi)回(hui)線(xian)、可測(ce)出具有(you)非(fei)對稱(cheng)電(dian)滯(zhi)回(hui)線(xian)鐵(tie)電(dian)薄膜(mo)值。可以進行電(dian)致應(ying)變(bian)測(ce)試(shi),可以蝴蝶(die)曲線功能(neng),設(she)備(bei)還(hai)可以擴(kuo)展(zhan)高(gao)溫(wen)電(dian)阻,高溫介電(dian),電(dian)容-電(dian)壓(ya)曲線(xian),TSC/TSDC等功能(neng)。本(ben)儀(yi)器(qi)是從(cong)事壓(ya)電(dian)材料(liao)及壓(ya)電(dian)元件生(sheng)產、應(ying)用(yong)與(yu)研(yan)究(jiu)部(bu)門的重要(yao)設(she)備(bei)之(zhi)壹(yi),已經(jing)在各(ge)大高(gao)校和科研院(yuan)所(suo)廣(guang)泛(fan)使(shi)用。

          二(er)、主(zhu)要(yao)技(ji)術(shu)指(zhi)標(biao):

          1、輸出信號電(dian)壓(ya)::±10KV

          2、溫度;室(shi)溫(wen)-200℃,控(kong)溫精度(du):±1℃

          3、控(kong)制(zhi)施加頻(pin)率0.01到(dao)250KHz(陶瓷、單晶(jing),薄(bo)膜(mo))PC端軟(ruan)件控(kong)制(zhi)自(zi)定義設(she)置(zhi);

          4、控(kong)制(zhi)輸出電(dian)流(liu)0到(dao)±50mA連(lian)續(xu)可調,PC端軟(ruan)件控(kong)制(zhi)自(zi)定義設(she)置(zhi)。

          5、動態電(dian)滯(zhi)回(hui)線(xian)測(ce)試(shi)頻(pin)率範圍(wei) 0.01Hz-5kHz

          7、最(zui)小(xiao)脈寬保(bao)持(chi)時(shi)間為(wei)20us;最(zui)小(xiao)上(shang)升(sheng)沿(yan)時(shi)間為(wei)10us;

          8、疲勞測(ce)試(shi)頻(pin)率500kHz(振幅(fu)10 Vpp,負(fu)載(zai)電(dian)容1 nF);使(shi)用高(gao)壓(ya)放大器(qi)後(hou)疲勞頻(pin)率最(zui)高(gao)5kHz; 

          9、測(ce)試(shi)速度:測(ce)量(liang)時(shi)間《5秒/樣品(pin)•溫(wen)度點(dian)

          10、樣品規(gui)格:塊(kuai)體(ti)材料(liao)尺(chi)寸(cun):直(zhi)徑(jing)2-100mm,厚(hou)度0.1-10mm

          11、主(zhu)要(yao)功能(neng): 動態電(dian)滯(zhi)回(hui)線(xian)DHM靜(jing)態(tai)電(dian)滯(zhi)回(hui)線(xian)SHMI-V特(te)性(xing)脈沖PUND疲勞Fatigue電(dian)擊穿強(qiang)度BDM漏電(dian)流(liu)LM電(dian)流(liu)-偏壓(ya)保(bao)持(chi)力(li)RM

          10. 電(dian)荷解析(xi)度不(bu)小(xiao)於(yu)10 mC;

          漏(lou)電(dian)流(liu)測(ce)量(liang)範圍(wei):1pA~ 20 mA,分辨率(lv)不(bu)低(di)於(yu)0.1pA;

          12、薄膜測(ce)試(shi)功能(neng):配(pei)置(zhi)薄(bo)膜(mo)測(ce)試(shi)變(bian)溫(wen)探(tan)針臺壹(yi)套(tao),電(dian)子顯微鏡壹(yi)套(tao),高(gao)壓(ya)放大器(qi)±100V 壹(yi)臺,溫(wen)度(du)範圍(wei):室(shi)溫(wen)~400度。

          13、 樣品厚(hou)度:30nm~1mm,測(ce)試(shi)頻(pin)率0.01Hz~100kHz@0~±100V

          連(lian)續(xu)可調,及相(xiang)應(ying)的電(dian)壓(ya)電(dian)路系(xi)統(tong);

          14、控(kong)制(zhi)方式(shi):計(ji)算(suan)機(ji)實(shi)時(shi)控(kong)制(zhi)、實時(shi)顯示、實(shi)時(shi)數據計(ji)算(suan)、分(fen)析(xi)與存儲

          15、軟(ruan)件采集:自(zi)動采集軟(ruan)件,分析(xi)可以兼容其(qi)他(ta)相(xiang)關主(zhu)流(liu)軟(ruan)件。

          16、測(ce)試(shi)精度(du):±0.05%

          17、內(nei)置(zhi)電(dian)壓(ya):±20V

          18、 可擴(kuo)展(zhan)激(ji)光(guang)幹(gan)涉(she)儀(yi),進行電(dian)致應(ying)變(bian)測(ce)試(shi) 位移精度(du)50nm;

          19、激光(guang)非接觸(chu)式(shi)測(ce)量(liang);

          20、實現應(ying)變(bian)曲(qu)線(xian)顯示與(yu)記錄;

          21、 電(dian)壓(ya)範圍(wei)0到(dao)±5 kV;

          22、最(zui)大量(liang)程2mm;

           

          鐵(tie)電(dian)材料(liao)測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)的維護保(bao)養方法(fa)涉(she)及多(duo)個方面(mian)


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