010-61446422
總(zong)的(de)來(lai)說(shuo)，鐵電(dian)材料測(ce)試(shi)是(shi)壹個(ge)復(fu)雜(za)而精(jing)細(xi)的過程，涉(she)及多個(ge)方(fang)面(mian)的(de)考量(liang)。通(tong)過對(dui)這些材料的(de)深(shen)入了解和準確測(ce)試(shi)，人們能夠(gou)更(geng)好地利用其特(te)殊(shu)的(de)物理特(te)性(xing)，推動科(ke)技進步(bu)和工(gong)業發(fa)展。
TDWFE-6000型(xing)鐵(tie)電(dian)溫(wen)譜(pu)測(ce)儀(yi)
關(guan)鍵(jian)詞:電滯回線 ,鐵(tie)電測(ce)試(shi)儀(yi)，電(dian)壓，頻(pin)率 ，電致(zhi)應(ying)變(bian)，蝴蝶(die)曲線(xian)
壹、產(chan)品介紹：
TDWFE-6000型(xing)鐵(tie)電(dian)溫(wen)譜(pu)測(ce)儀(yi)是(shi)壹款(kuan)高量(liang)程(cheng)款(kuan)的鐵電(dian)性(xing)能(neng)材(cai)料測(ce)試(shi)裝(zhuang)置，這款(kuan)設備可以(yi)適用於鐵電薄(bo)膜、鐵(tie)電(dian)體(ti)材料（既(ji)可塊(kuai)體(ti)材料）的(de)電(dian)性(xing)能(neng)測(ce)量(liang)，可測(ce)量(liang)鐵(tie)電薄(bo)膜電(dian)滯(zhi)回線、可測(ce)出(chu)具(ju)有(you)非(fei)對(dui)稱(cheng)電滯回線鐵(tie)電薄(bo)膜值(zhi)。可以(yi)進行電(dian)致(zhi)應變(bian)測試(shi)，可以(yi)蝴蝶(die)曲線(xian)功能(neng)，設備還可以(yi)擴展(zhan)高溫(wen)電(dian)阻，高溫(wen)介電，電(dian)容-電壓(ya)曲線(xian)，TSC/TSDC等(deng)功能(neng)。本儀(yi)器(qi)是(shi)從事(shi)壓(ya)電材料及壓電(dian)元(yuan)件(jian)生(sheng)產(chan)、應用(yong)與(yu)研(yan)究部門(men)的重要(yao)設(she)備之壹，已(yi)經(jing)在(zai)各(ge)大高校(xiao)和科(ke)研(yan)院(yuan)所廣泛使用(yong)。
二(er)、主(zhu)要(yao)技術(shu)指標(biao)：
1、輸(shu)出(chu)信(xin)號電壓(ya)：：±10KV
2、溫(wen)度(du)；室溫(wen)-200℃，控(kong)溫(wen)精(jing)度(du)：±1℃
3、控(kong)制(zhi)施加(jia)頻(pin)率0.01到(dao)250KHz（陶瓷、單晶，薄(bo)膜）PC端(duan)軟件(jian)控(kong)制自定義(yi)設(she)置；
4、控(kong)制(zhi)輸(shu)出(chu)電(dian)流0到(dao)±50mA連續(xu)可調(tiao)，PC端(duan)軟件(jian)控(kong)制自定義(yi)設(she)置。
5、動態電(dian)滯回線測(ce)試(shi)頻(pin)率(lv)範圍 0.01Hz-5kHz
7、最小脈(mai)寬(kuan)保持(chi)時間(jian)為20us;最小上(shang)升沿時間(jian)為10us;
8、疲勞測試(shi)頻(pin)率(lv)500kHz（振(zhen)幅10 Vpp，負載電(dian)容1 nF）；使用(yong)高壓(ya)放大器後疲勞頻率最高5kHz;
9、測(ce)試(shi)速(su)度(du)：測量(liang)時間(jian)《5秒/樣品•溫(wen)度(du)點(dian)
10、樣(yang)品規格：塊(kuai)體(ti)材料尺(chi)寸：直(zhi)徑2-100mm，厚(hou)度(du)0.1-10mm
11、主(zhu)要(yao)功(gong)能： 動態電(dian)滯回線DHM，靜(jing)態電(dian)滯回線SHM，I-V特(te)性(xing)，脈(mai)沖PUND，疲勞Fatigue，電(dian)擊(ji)穿(chuan)強度(du)BDM，漏(lou)電(dian)流(liu)LM，電(dian)流(liu)-偏(pian)壓，保(bao)持(chi)力RM，
10. 電(dian)荷解析(xi)度(du)不(bu)小(xiao)於10 mC;
漏(lou)電(dian)流(liu)測量(liang)範圍:1pA~ 20 mA，分(fen)辨率不(bu)低於0.1pA;
12、薄(bo)膜測(ce)試(shi)功(gong)能(neng)：配(pei)置薄(bo)膜測(ce)試(shi)變(bian)溫(wen)探針臺(tai)壹套，電子(zi)顯微鏡壹套，高壓(ya)放大器±100V 壹臺(tai)，溫(wen)度(du)範圍：室溫(wen)~400度(du)。
13、 樣(yang)品厚度(du)：30nm~1mm，測試(shi)頻(pin)率(lv)0.01Hz~100kHz@0~±100V
連(lian)續(xu)可調(tiao)，及相應(ying)的電(dian)壓(ya)電(dian)路(lu)系統(tong)；
14、控(kong)制(zhi)方(fang)式：計算(suan)機實(shi)時控(kong)制、實時顯示、實時數(shu)據(ju)計算(suan)、分(fen)析(xi)與存儲
15、軟件(jian)采(cai)集：自動采集(ji)軟件(jian)，分(fen)析可以(yi)兼容其他相關主流(liu)軟件(jian)。
16、測(ce)試(shi)精(jing)度(du)：±0.05%
17、內(nei)置電(dian)壓(ya)：±20V
18、 可擴(kuo)展激(ji)光(guang)幹涉(she)儀(yi)，進(jin)行電(dian)致(zhi)應變(bian)測試(shi) 位移(yi)精(jing)度(du)50nm；
19、激(ji)光(guang)非(fei)接(jie)觸式(shi)測(ce)量(liang)；
20、實(shi)現應(ying)變(bian)曲線(xian)顯示與記(ji)錄；
21、 電(dian)壓(ya)範圍0到(dao)±5 kV；
22、最大量(liang)程(cheng)2mm；
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