電(dian)滯(zhi)回(hui)線(xian)測試(shi)流(liu)程通常(chang)包括(kuo)以下(xia)步驟(zhou)

　　9.評(ping)估(gu)總(zong)結：對測試(shi)過程(cheng)進行(xing)總(zong)結評估，提(ti)出(chu)改進(jin)建(jian)議(yi)，為以後(hou)的(de)測(ce)試(shi)工作提(ti)供(gong)參考(kao)。

JKTD-1000型(xing)鐵電(dian)材料特(te)性測(ce)試(shi)系統

關(guan)鍵(jian)詞(ci)：電(dian)滯(zhi)回(hui)線(xian)，蝴蝶曲(qu)線，疲勞，脈沖(chong)

1.系(xi)統簡介(jie)：

鐵電(dian)體(ti)具有(you)介電(dian)壓電(dian)、熱(re)釋(shi)電(dian)、鐵電(dian)性質(zhi)以及(ji)與之(zhi)相關(guan)的(de)電(dian)致(zhi)伸(shen)縮性質(zhi)非(fei)線性光(guang)學性質(zhi)、電(dian)光(guang)性質(zhi)、聲光(guang)性質(zhi)、光(guang)折(zhe)變(bian)性質(zhi)、鐵電(dian)記(ji)憶(yi)存(cun)儲(chu)性能(neng)等等，都(dou)與其電(dian)極(ji)化性質(zhi)相關(guan)，特(te)別是(shi)電(dian)介(jie)質的(de)熱(re)釋(shi)電(dian)與鐵電(dian)性質(zhi)都(dou)與其白發(fa)極(ji)化相關，由於(yu)鐵電(dian)體(ti)具有(you)上述性質(zhi)，因(yin)而(er)在(zai)諸(zhu)多高技術(shu)中有(you)著(zhe)很重(zhong)要(yao)的(de)應(ying)用(yong)利(li)用其壓電(dian)性能(neng)可制作電(dian)聲換(huan)能(neng)器，用(yong)於超聲波(bo)探測，聲納，穩頻振(zhen)諧(xie)器，聲表面波(bo)器件等；利用(yong)其熱(re)釋(shi)電(dian)性質(zhi)可制作紅(hong)外探測器(qi),紅(hong)外監視器(qi),熱(re)成(cheng)像系(xi)統等利用(yong)線性光(guang)學效應(ying)可制作激(ji)光(guang)倍(bei)頻(pin)、三(san)倍(bei)額和頻(pin)；差頻器(qi)：利用電(dian)光(guang)性可制作激(ji)光(guang)電(dian)光(guang)開(kai)關(guan)，光(guang)偏(pian)轉(zhuan)器(qi)，光(guang)調器(qi)等：利用(yong)聲光(guang)效應(ying)可制作激(ji)光(guang)聲光(guang)開(kai)關(guan)，聲光(guang)偏(pian)轉(zhuan)器(qi)、聲光(guang)調制器等：利用(yong)光(guang)折(zhe)變(bian)效應(ying)可制作光(guang)存(cun)儲(chu)器(qi)件(jian)；鐵電(dian)材料的(de)鐵電(dian)性可制作鐵電(dian)記(ji)憶(yi)存(cun)器(qi)。

本測試(shi)系統用於(yu)鐵電(dian)體(ti)的(de)鐵電(dian)性能(neng)測量(liang)，可用(yong)於(yu)鐵電(dian)體(ti)的(de)科(ke)學研究及近(jin)代(dai)物理實(shi)驗中的(de)固(gu)體(ti)物理實(shi)驗以(yi)及(ji)工業化生產鐵電(dian)存(cun)儲(chu)器(qi)的(de)鐵電(dian)性能(neng)檢(jian)測中，本測試(shi)系統主(zhu)要(yao)由(you)信(xin)號源、高壓電(dian)源、電(dian)荷(he)放(fang)大器、積(ji)分(fen)器、示波(bo)器、計(ji)算(suan)機(ji)通訊(xun)接口(kou)、計(ji)算(suan)機(ji)和應(ying)用(yong)軟(ruan)件(jian)等部(bu)分(fen)組成(cheng)。

模式(shi)測量電(dian)路(lu)，與傳(chuan)統的(de) Sawyer-Tawer-模式(shi)相比(bi)，此電(dian)路(lu)取(qu)消(xiao)了外接電(dian)容，可減(jian)小(xiao)寄生(sheng)元(yuan)件的(de)影(ying)響(xiang)。此(ci)電(dian)路(lu)的(de)測(ce)試(shi)精(jing)度取(qu)決(jue)於(yu)積(ji)分(fen)器積(ji)分(fen)電(dian)容的(de)精(jing)度，減少(shao)了對測(ce)試(shi)的(de)影(ying)響(xiang)環(huan)節,比(bi)較容易(yi)定(ding)標和校(xiao)準(zhun)，且(qie)能(neng)實(shi)現較高(gao)的(de)測(ce)量(liang)準(zhun)確度它(ta)不(bu)僅能畫出(chu)鐵電(dian)薄(bo)膜的(de)電(dian)滯(zhi)回(hui)線(xian)還可以(yi)定(ding)量得(de)到(dao)鐵電(dian)薄(bo)膜材料的(de)和極(ji)化Ps、剩(sheng)余極化Pr、矯(jiao)頑(wan)場(chang)Ec、漏電(dian)流(liu)k等參數，以及對(dui)鐵電(dian)薄(bo)膜材料的(de)鐵電(dian)勞性能(neng)、鐵電(dian)保(bao)持性能(neng)的(de)測(ce)試(shi)，能夠(gou)較全(quan)面確(que)地(di)測(ce)量鐵電(dian)薄(bo)膜的(de)鐵電(dian)性能(neng)，儀器(qi)采(cai)儀器(qi)采(cai)用(yong)壹(yi)體(ti)化設計(ji)，實(shi)現(xian)測(ce)試(shi)結果全(quan)數字(zi)化，操作簡單(dan)方(fang)便(bian)。

壹(yi)、產(chan)品(pin)主(zhu)要(yao)用(yong)途(tu)：

1、可廣(guang)泛(fan)應(ying)用於薄膜、厚(hou)膜(mo)的(de)鐵電(dian)材料性能(neng)測試(shi)和研究

2、可廣(guang)泛(fan)應(ying)用於塊(kuai)狀陶(tao)瓷、鐵電(dian)器(qi)件及存(cun)儲(chu)器(qi)等鐵電(dian)材料領域的(de)研究。

二(er)、測(ce)試(shi)主(zhu)要(yao)技術(shu)參數：

1、電(dian)滯(zhi)回(hui)線(xian)（包含(han)飽(bao)和極(ji)化，剩(sheng)余極化，漏電(dian)流(liu)等參數）

2、鐵電(dian)材料疲勞測試(shi)，保(bao)持性能(neng)測試(shi)等

3、鐵電(dian)材料脈沖(chong)測試(shi), 印跡等參數

4、應(ying)變/位(wei)移曲(qu)線（蝴(hu)蝶曲(qu)線）

2、主(zhu)要(yao)技術(shu)指標

1)        輸(shu)出(chu)信(xin)號電(dian)壓：±10000V

2)        施(shi)加頻(pin)率：1Hz到(dao)1000Hz

3)        波(bo)形：正(zheng)弦波(bo)、三角(jiao)波、方(fang)波(bo)

4)        USB示(shi)波器：4CH；70MHz

5)        絕(jue)緣電(dian)阻/漏電(dian)流(liu)測量：10TΩ/1pA,1000V

6)        電(dian)滯(zhi)回(hui)線(xian)測試(shi)變溫(wen)範圍(wei)：RT~200℃

7)        變(bian)溫測量控制單(dan)元(yuan)：精(jing)度0.1℃；功(gong)率：500W；接口：RS485

8)        測(ce)試(shi)采(cai)樣(yang)速(su)度：<5秒(miao)/樣(yang)品(pin)•溫(wen)度點(dian)  

9)        樣(yang)品(pin)規(gui)格(ge)：陶(tao)瓷塊(kuai)體：Φ10-100mm，厚(hou)度0.1~10mm

             薄(bo)膜樣(yang)品(pin)：Φ10-100mm，厚(hou)度1~100μm

10)    控(kong)制方(fang)式(shi)：計(ji)算(suan)機(ji)實(shi)時(shi)控制、實時(shi)顯示、實時數據計(ji)算(suan)

11)    數據采(cai)集(ji)分(fen)析(xi)軟(ruan)件(jian)：

a)        運(yun)行(xing)環(huan)境(jing) windows 7；

b)        測(ce)量時實時顯示采(cai)集(ji)到(dao)的(de)電(dian)滯(zhi)回(hui)線(xian)，可定(ding)量得(de)到(dao)鐵電(dian)材料的(de)飽(bao)和極(ji)化Ps、剩(sheng)余極化Pr、矯(jiao)頑(wan)場(chang)Ec、漏電(dian)流(liu)等參數；可以(yi)進(jin)行(xing)鐵電(dian)材料的(de)鐵電(dian)疲勞性能(neng)、鐵電(dian)保(bao)持性能(neng)的(de)測(ce)試(shi)，可選(xuan)擇(ze)測(ce)量模式(shi)、掃描電(dian)場(chang)的(de)幅(fu)值(zhi)等；

c)        依(yi)據位(wei)移回(hui)歸法(fa)繪制樣(yang)品(pin)D33應(ying)變/位(wei)移曲(qu)線（蝴(hu)蝶曲(qu)線）

d)        測(ce)量結果可以(yi)保(bao)存(cun)為(wei)數據文(wen)件(jian)供(gong)Origin等數據處理軟(ruan)件(jian)調用(yong)處(chu)理，也(ye)可保(bao)存(cun)和打(da)印微機(ji)屏幕(mu)顯示結果界面；

e)        具有(you)數據平滑(hua)化、電(dian)滯(zhi)回(hui)線(xian)校正(zheng)等數據處理功(gong)能。