FE-5000型(xing)鐵電測試儀操(cao)作(zuo)視頻

FE-5000C型(xing)擴展型(xing)鐵電性能(neng)綜合測試儀

關鍵詞:電(dian)滯(zhi)回(hui)線(xian) ,鐵電測試儀，電(dian)壓(ya)，頻率(lv) ，電(dian)致(zhi)應(ying)變

壹(yi)、產品(pin)介紹：

  FE-5000A擴展型(xing)鐵電性能(neng)測試儀是壹(yi)款高量(liang)程款的鐵電性能(neng)材(cai)料(liao)測試裝置，這(zhe)款(kuan)設備(bei)可以適(shi)用(yong)於鐵電薄膜(mo)、鐵電體材料(liao)（既(ji)可塊體材料(liao)）的電(dian)性能(neng)測量(liang)，可測量(liang)鐵電薄膜(mo)電滯(zhi)回(hui)線、可測出(chu)具(ju)有(you)非對稱(cheng)電(dian)滯回(hui)線鐵電薄膜(mo)值。設備(bei)可以擴(kuo)展高(gao)溫電阻(zu)，高(gao)溫介電(dian)，電(dian)容-電壓(ya)曲線(xian)，TSC/TSDC等功能(neng)。

二(er)、主要技術(shu)指標：

1.輸出信(xin)號(hao)電壓：：±5000V（可擴展）。

2、控制(zhi)施(shi)加(jia)頻(pin)率(lv)0.2到(dao)1000Hz（陶瓷(ci)、單(dan)晶(jing)，薄膜(mo)）PC端(duan)軟(ruan)件(jian)控(kong)制(zhi)自(zi)定義設置；

3、控制(zhi)輸出電(dian)流(liu)0到±50mA連續(xu)可調，PC端(duan)軟(ruan)件(jian)控(kong)制(zhi)自(zi)定義設置。

5、動態(tai)電滯(zhi)回線(xian)測試頻(pin)率(lv)範(fan)圍(wei) 0.01Hz-5kHz

6、疲(pi)勞(lao)測試頻(pin)率(lv)300kHz（振幅(fu)10 Vpp，負(fu)載電(dian)容(rong)1 nF）；

7.測試速(su)度：測量(liang)時(shi)間《5秒(miao)/樣(yang)品(pin)•溫度點(dian)          

8. 樣(yang)品(pin)規(gui)格：塊(kuai)體材料(liao)尺(chi)寸：直徑(jing)2-100mm，厚度0.1-10mm

9.主要功(gong)能(neng)： 動態(tai)電滯(zhi)回線(xian)DHM，靜態(tai)電滯(zhi)回線(xian)SHM，I-V特(te)性，脈沖(chong)PUND，疲(pi)勞(lao)Fatigue，電擊穿強(qiang)度BDM，漏(lou)電流(liu)LM，電流-偏壓，保持(chi)力RM，

10、控制(zhi)方(fang)式：計算機實時(shi)控制(zhi)、實時(shi)顯示(shi)、實時(shi)數據計算、分析(xi)與存儲

11、軟(ruan)件(jian)采(cai)集：自(zi)動(dong)采(cai)集軟(ruan)件(jian)，分(fen)析(xi)可以兼(jian)容(rong)其他相(xiang)關主流軟(ruan)件(jian)。

14、測試精(jing)度：±0.05%

16、電     壓：±12 V

二(er)、擴展可選的模(mo)塊：

印(yin)跡印(yin)痕(hen)IM

變溫測試THM

POM 模塊實現(xian)極(ji)化測量(liang)功(gong)能(neng)

CVM模塊實現(xian)小信(xin)號(hao)電容(rong)測試，獲(huo)得(de)C-V曲線(xian)

PZM模塊實現(xian)壓電(dian)特(te)性測試

DPM模塊測試介(jie)電性能(neng)

RTM模塊測試電(dian)阻/電(dian)阻率(lv)性能(neng)

CCDM模塊實現(xian)電容(rong)充(chong)放電(dian)測試。