
*材(cai)料(liao)實(shi)驗壹:壓電(dian)陶(tao)瓷D33系數的壓(ya)電(dian)性能(neng)測(ce)量
*材(cai)料(liao)實(shi)驗壹:壓電(dian)陶(tao)瓷D33系數的壓(ya)電(dian)性能(neng)測(ce)量
壹、實(shi)驗目(mu)的
1. 了(le)解(jie)壓(ya)電(dian)陶瓷元件的電(dian)性能(neng)參(can)數(shu)
2. 掌(zhang)握(wo)壓(ya)電(dian)應變常數d33測(ce)試儀原理和測(ce)試技(ji)術
3. 掌(zhang)握(wo)諧(xie)振(zhen)法測(ce)定壓(ya)電振(zhen)子(zi)的頻(pin)率(lv)響應(ying)曲(qu)線及壓電耦合系(xi)數(shu)的測(ce)試原(yuan)理的方(fang)法(fa)
二.實(shi)驗原(yuan)理(li)
壓(ya)電(dian)陶(tao)瓷元件在極(ji)化後的初(chu)始階段,壓電(dian)性能(neng)要(yao)發生壹些(xie)較明(ming)顯(xian)的變(bian)化,隨著(zhe)極(ji)化後時(shi)間(jian)的增(zeng)長,性能(neng)越(yue)來(lai)越(yue)穩(wen)定(ding),變化量也越(yue)來(lai)越(yue)小,所(suo)以(yi),試樣應存放壹定時(shi)間(jian)後再(zai)進行電(dian)性能(neng)的測(ce)試。壹般(ban)最(zui)好(hao)存放10天(tian)。
按壓(ya)電(dian)方程,其壓電(dian)材(cai)料(liao)的d33常數定義為:

此(ci)處,D3及E3分(fen)別為電位(wei)移(yi)和電(dian)場強(qiang)度(du);T3及S3分(fen)別為應力(li)和應(ying)變。對於儀器的具(ju)體(ti)情(qing)況(kuang),上式(shi)可簡化為:
,這時(shi),A為試樣(yang)的受(shou)力(li)面積(ji);C為與(yu)試(shi)樣並聯(lian)的比(bi)試(shi)樣大很(hen)多(duo)(如大100倍(bei))的大電(dian)容,以滿足(zu)測(ce)量d33常數時(shi)的恒(heng)定電(dian)場(chang)邊界條(tiao)件。
在(zai)儀器測(ce)量頭(tou)內,壹個(ge)約0.25N,頻率(lv)為110Hz的低(di)頻交(jiao)變力(li),通(tong)過(guo)上下(xia)探頭(tou)加(jia)到比(bi)較(jiao)樣(yang)品與(yu)被(bei)測(ce)試樣(yang)上,由正壓電效應產(chan)生(sheng)的兩(liang)個(ge)電信(xin)號經(jing)過放(fang)大、檢(jian)波、相(xiang)除等(deng)必(bi)要(yao)的處理後(hou),最(zui)後把代(dai)表(biao)試(shi)樣的d33常數的大小(xiao)及極(ji)性送(song)三位(wei)半數字面(mian)板(ban)表(biao)上直(zhi)接顯(xian)示(shi)。
準靜態法比通(tong)常的靜態法精(jing)確(que)。靜態法由於壓電非線性及熱釋電效應,測(ce)量誤差可達30%~50%。
三.準備儀器設備
中(zhong)科院聲(sheng)學所(suo)ZJ-3準靜態d33測(ce)量儀(的測(ce)量頭(tou)結(jie)構外(wai)觀見下(xia)圖(tu)。)

四(si)、實(shi)驗步(bu)驟
1.壹般(ban)操(cao)作
(1) 選(xuan)檔(dang):試(shi)樣(yang)電容值小於0.01μF對(dui)應(ying)×1檔,小(xiao)於0.001μF對應×0.1檔(dang)。
(2) 用(yong)兩(liang)根(gen)多(duo)芯電纜(lan)把測(ce)量頭(tou)和儀器本(ben)體(ti)連接(jie)好。
(3) 把(ba)附件盒內的塑(su)料(liao)片(pian)插於(yu)測(ce)量頭(tou)的上下(xia)兩探頭(tou)之(zhi)間(jian),調(tiao)節測(ce)量頭(tou)頂(ding)端的手(shou)輪(lun),使塑(su)料(liao)片(pian)剛好(hao)壓(ya)住(zhu)為止。
(4) 把(ba)儀器後面板(ban)上的“d33-力(li)"選擇開(kai)關(guan)置於“d33"壹側。
(5) 使(shi)儀器後面板(ban)上的d33量程選(xuan)擇開(kai)關(guan),按照(zhao)被(bei)測(ce)樣品(pin)的d33估(gu)計值,處於適(shi)當位置。
(6) 在(zai)儀器通(tong)電(dian)預熱(re)10min後(hou),調(tiao)節儀器前面板(ban)上的調(tiao)零(ling)旋(xuan)鈕,使面(mian)板表(biao)指示(shi)“0"與(yu)“-0"之(zhi)間(jian)。
(7) 去掉(diao)塑(su)料(liao)圓片(pian),插入(ru)待測(ce)試樣(yang)於上下(xia)兩探頭(tou)之(zhi)間(jian)調(tiao)節手輪(lun),使探頭(tou)與(yu)樣(yang)品剛(gang)好(hao)夾持住,靜應力(li)應盡量小,使面板(ban)表(biao)指示(shi)值不(bu)跳動即可。靜壓力(li)不(bu)宜過(guo)大,如力(li)過大,會引起(qi)壓(ya)電非線性,甚至(zhi)損壞(huai)測(ce)量頭(tou)。但(dan)也不(bu)能(neng)過(guo)小(xiao),以致試(shi)樣(yang)松動,指示(shi)值不(bu)穩(wen)定(ding)。指示(shi)值穩(wen)定(ding)後,即可讀出d33的數(shu)值和極(ji)性。當測(ce)量大量同(tong)樣厚(hou)度(du)的試(shi)樣(yang)時(shi),則(ze)可輕輕(qing)壓(ya)下(xia)測(ce)量頭(tou)的膠(jiao)木(mu)板(ban),取(qu)出已測(ce)試樣(yang),插入(ru)壹個(ge)待測(ce)樣品(pin)後,松(song)開(kai)膠(jiao)木(mu)板(ban)即可,不(bu)必(bi)再(zai)調(tiao)節測(ce)量頭(tou)上方(fang)的調(tiao)節手輪(lun),這樣(yang)既(ji)方(fang)便(bian),還(hai)可使靜壓力(li)保持壹致。
(8) 為減小(xiao)測(ce)量誤差,如有變(bian)化或(huo)換擋時(shi),需(xu)重(zhong)新(xin)調(tiao)零(ling)。
(9) 根(gen)據(ju)公式計算該試(shi)樣的壓(ya)電(dian)電壓(ya)常數g33值
ZJ-3主(zhu)要(yao)技(ji)術參(can)數如下(xia):
ZJ-3 d33測(ce)量範圍:
×1擋(dang):10到2000pC/N,20 至(zhi)4000pC/N;
×0.1擋: 1到200pC/N,2 至(zhi)400pC/N。
誤差:×1擋:±2%±1個(ge)數字,當d33在100到4000pC/N;
±5%±1個(ge)數字,當d33在10到200pC/N;
×0.1擋(dang):±2%±1個(ge)數字,(當d33在10到200pC/N)
±5%±1個(ge)數字,當d33在10到20pC/N。
分(fen)辨(bian)率: ×1擋:1 pC/N;×0.1擋:0.1 pC/N。
尺(chi)寸(cun):施(shi)力(li)裝置:Φ110×140mm;儀器本(ben)體(ti):240×200×80mm。
重(zhong)量:施力(li)裝置:約4公斤(jin);
儀器本(ben)體(ti):2公斤(jin)。
電(dian)源(yuan):220伏(fu),50赫,20瓦(wa)。
頻帶寬度(du) | DC~7MHz |
Y偏轉(zhuan)系(xi)數 | 10mV/div~5V/div, 分(fen)9檔 |
X偏轉(zhuan)系(xi)數 | 0.2μS/div~0.1S/div, 分(fen)18檔 |
X擴展(zhan) | ×2 |
觸發源(yuan) | 內、外(wai)、電(dian)視場 |
同(tong)步(bu)方式 | 自(zi)動、觸發 |
有效(xiao)顯(xian)示(shi)面 | 6div×10div(1div=0.6cm) |
使(shi)用電源(yuan) | AC 220V/50Hz |
外(wai)形(xing)尺(chi)寸(cun) | 240B×100H×300Dmm |
重(zhong)量 | 3kg |
五(wu)、註意事(shi)項
1.操(cao)作前必(bi)須(xu)仔(zai)細(xi)閱讀(du)使(shi)用(yong)說(shuo)明(ming)書。
2.進行正(zheng)式測(ce)量之前,儀器需預熱(re)10min,並且(qie)調(tiao)零(ling)。
六(liu)、實(shi)驗記錄(lu)
將實(shi)驗結(jie)果(guo)填(tian)入下(xia)表(biao)中(zhong)
試樣(yang)編(bian)號 | 試(shi)樣描(miao)述 | d33值 | g33值 |
七(qi)、實(shi)驗報(bao)告要(yao)求(qiu)
1. 實(shi)驗目(mu)的,測(ce)試原(yuan)理。
2. 試(shi)樣(yang)的記錄(lu)(形(xing)式(shi)、材(cai)料(liao)、性能(neng)、用(yong)途(tu)等)
3. 試(shi)樣(yang)結(jie)果(guo),討(tao)論,分(fen)析(xi)影(ying)響性能(neng)參(can)數(shu)的因(yin)素。
八、思考題
1.動態法和靜態法測(ce)量d33值有什(shen)麽不(bu)同(tong)?
2.如何(he)防止測(ce)量頭(tou)生(sheng)銹?