關於(yu)建立(li)高溫(wen)介(jie)電溫(wen)譜測(ce)試(shi)系統(tong)公共測(ce)試(shi)服務平臺

為了方便(bian)材料(liao)測(ce)試(shi)，我單(dan)位(wei)近(jin)日成立(li)了專門(men)的(de)對外(wai)關(guan)於(yu)建立(li)高溫(wen)介(jie)電溫(wen)譜測(ce)試(shi)系統(tong)公共測(ce)試(shi)服務平臺。

主要功能：

用於(yu)分(fen)析(xi)寬(kuan)頻(pin)、高(gao)低溫(wen)條(tiao)件(jian)下(xia)樣品(pin)的(de)介(jie)電系(xi)數、阻(zu)抗(kang)Z、電抗(kang)X、導(dao)納Y、電導(dao)G、電(dian)納B、電感(gan)L、介(jie)電損(sun)耗D、品(pin)質(zhi)因(yin)數Q等(deng)物(wu)理(li)量，得到這些變(bian)化曲線(xian)的頻(pin)率(lv)譜、溫度譜、介(jie)電譜曲線(xian)。可廣(guang)泛(fan)應(ying)用於(yu)鐵(tie)電壓電陶(tao)瓷(ci)材料(liao)、半(ban)導(dao)體(ti)器(qi)件(jian)及功能薄膜材(cai)料(liao)等(deng)研(yan)究。

溫度區(qu)間(jian)：-190℃~1000℃；

溫度精(jing)度：±0.5 ℃

升(sheng)溫速(su)率：1℃/min~10℃/min；

四通道(dao)測(ce)試(shi)夾具(ju)

測(ce)試(shi)頻(pin)率(lv)範圍(wei)：20Hz-1MHz

測(ce)試(shi)頻(pin)率(lv)數量：1~8個

測(ce)試(shi)樣品(pin)個(ge)數(shu)：4個

測(ce)試(shi)樣品(pin)直(zhi)徑(jing)：1.5 mm~20mm

測(ce)試(shi)樣品(pin)厚(hou)度(du)：0.02 mm~4mm

主要特點(dian)：

四通道(dao)同(tong)時測(ce)量,提高效(xiao)率(lv),增加(jia)對(dui)比(bi)測(ce)試(shi)的精度(du);

材料(liao)與(yu)結構(gou)匹(pi)配設計(ji)夾具(ju),高(gao)低溫(wen)穩定(ding)性好、精(jing)度(du)高;

變(bian)溫(wen)介(jie)電頻(pin)譜測(ce)試(shi)功能；變(bian)溫(wen)阻(zu)抗(kang)測(ce)試(shi)功能；掃頻(pin)測(ce)試(shi)功能；

軟件：采(cai)用C#語言編(bian)寫，可視化程(cheng)度高(gao)，自(zi)動測(ce)試(shi)，同(tong)時顯(xian)示四(si)通道的(de)測(ce)試(shi)數據，並圖形化。