
當(dang)前(qian)位置:首頁(ye) > 技術(shu)文(wen)章(zhang) > 關(guan)於(yu)全國範圍(wei)內提(ti)供高低(di)溫介電(dian)溫譜(pu)測試(shi)服務(wu)
因廣(guang)大(da)高校(xiao)研究(jiu)的需要,先(xian)我(wo)單位先(xian)在(zai)全(quan)國(guo)範(fan)圍(wei)內提(ti)供高低(di)溫介電(dian)溫譜(pu)測試(shi)服務(wu)。
高溫介電(dian)溫譜(pu)測量系統是(shi)為了(le)滿(man)足(zu)材(cai)料(liao)在(zai)高溫環境(jing)下的介電(dian)性(xing)能(neng)測量需求(qiu)而設(she)計的。它由(you)硬件(jian)設(she)備(bei)和測量軟件組成(cheng),包括(kuo)高溫測試(shi)平臺(tai)、高溫測試(shi)夾(jia)具、阻(zu)抗分(fen)析(xi)儀(yi)和(he)高溫介電(dian)測量系統軟件(jian)四(si)個組成(cheng)部(bu)分(fen)。
介電(dian)溫譜(pu)測試(shi)公(gong)司(si)提(ti)醒(xing)您(nin)可(ke)同(tong)時(shi)測量及輸(shu)出(chu)頻(pin)率(lv)譜(pu)、電壓(ya)譜(pu)、偏(pian)壓(ya)譜(pu)、溫度(du)譜(pu)、介電(dian)溫譜(pu)的測量數據(ju)與圖(tu)形(xing)。
高溫介電(dian)溫譜(pu)測量系統不僅(jin)僅(jin)測量樣品的介電(dian)常數和(he)介電(dian)損(sun)耗隨(sui)溫度(du)、時(shi)間、頻(pin)率(lv)變(bian)化的曲線,還(hai)可(ke)以(yi)測量阻抗譜(pu)隨(sui)溫度(du)、時(shi)間、頻(pin)率(lv)變(bian)化的曲線,同(tong)時(shi)還(hai)得(de)出(chu)COLE-COLE圖(tu),還可(ke)以(yi)測量壓(ya)電(dian)材(cai)料(liao)的機(ji)電耦合系數等(deng)。
主(zhu)要技術(shu)參數:
1、溫度(du)範(fan)圍(wei): -190℃-1000℃
2.頻(pin)率(lv):20HZ-120MHZ