
壓(ya)電陶(tao)瓷(ci)的基本特(te)性(xing)

壓(ya)電陶(tao)瓷(ci)是(shi)壹(yi)類具有(you)壓(ya)電特(te)性(xing)的電子陶瓷(ci)材(cai)料. 與典型的不包(bao)含鐵(tie)電成(cheng)分(fen)的壓(ya)電石(shi)英(ying)晶體的主要(yao)區別(bie)是(shi): 構(gou)成(cheng)其(qi)主要(yao)成(cheng)分(fen)的晶相都(dou)是(shi)具有(you)鐵(tie)電性(xing)的晶粒(li)。由(you)於陶瓷(ci)是(shi)晶粒(li)隨(sui)機(ji)取向的多晶聚(ju)集體,因此(ci)其(qi)中各(ge)個(ge)鐵(tie)電晶粒(li)的自發極化(hua)矢(shi)量(liang)也(ye)是(shi)混亂(luan)取(qu)向(xiang)的. 為了(le)使陶瓷(ci)能(neng)表現(xian)出(chu)宏(hong)觀(guan)的壓(ya)電特(te)性(xing),就(jiu)必須在(zai)壓(ya)電陶(tao)瓷(ci)燒成(cheng)並(bing)於端面(mian)被(bei)復電極之後(hou),將(jiang)其(qi)置於強直(zhi)流電場下(xia)進(jin)行(xing)極化(hua)處(chu)理(li),以(yi)使原來(lai)混亂(luan)取(qu)向(xiang)的各(ge)自發(fa)極化(hua)矢(shi)量(liang)沿(yan)電(dian)場方(fang)向(xiang)擇(ze)優(you)取(qu)向, 經過極(ji)化(hua)處(chu)理(li)後(hou)的壓(ya)電陶(tao)瓷(ci),在(zai)電(dian)場取(qu)消之後,會(hui)保留(liu)壹定(ding)的宏觀剩余極化(hua)強(qiang)度(du),從(cong)而(er)使陶瓷(ci)具有(you)了(le)壹定(ding)的壓(ya)電性(xing)質(zhi)。壓(ya)電陶(tao)瓷(ci)的特(te)性(xing)是(shi)具有(you)壓(ya)電性(xing), 包(bao)括(kuo)正壓(ya)電性(xing)和(he)逆壓(ya)電性(xing)。正(zheng)壓(ya)電性(xing)是(shi)指(zhi)某些(xie)電(dian)介質(zhi)在(zai)機(ji)械(xie)外力(li)作用下(xia),介(jie)質(zhi)內部正(zheng)負(fu)電荷(he)中心發生相對(dui)位(wei)移而(er)引(yin)起極化(hua), 從(cong)而(er)導致電介質(zhi)兩端表(biao)面(mian)內出(chu)現(xian)符號(hao)相反的束縛(fu)電(dian)荷(he)。
我(wo)們(men)專(zhuan)業(ye)提供(gong)功能(neng)材(cai)料測(ce)試設備(bei)及測(ce)試服務:
二(er)、壓(ya)電材(cai)料制樣設備(bei):PZT-JH10/4型壓(ya)電陶(tao)瓷(ci)極(ji)化(hua)裝(zhuang)置(zhi),PZT-JH20/1型(xing)粉末極(ji)化(hua)裝(zhuang)置(zhi),PZT-JH30/3型(xing)壓(ya)電陶(tao)瓷(ci)及(ji)薄(bo)膜綜(zong)合極(ji)化(hua)裝(zhuang)置(zhi),ZJ-D33-YP15型(xing)壓(ya)片(pian)機(ji)
三、介電(dian)材(cai)料測(ce)試裝置(zhi):GWJDN-600型四(si)通道(dao)高溫(wen)介電測(ce)試儀(yi),GWJDN-1000型(xing)四(si)通道(dao)高溫(wen)介電測(ce)試儀(yi)
四(si):鐵(tie)電材(cai)料測(ce)測(ce)試儀(yi):ZT-4A鐵(tie)電測(ce)試儀(yi) ,FE-5000型(xing)變(bian)溫鐵(tie)電測(ce)試系統(tong),ECM -150型電(dian)卡(ka)效(xiao)應測(ce)試系,DCD-100型(xing)儲能(neng)電介(jie)質(zhi)充(chong)放(fang)電(dian)測(ce)試系統(tong),