介(jie)電(dian)測(ce)試(shi)儀使(shi)用方法

　　1.被測(ce)樣(yang)品(pin)的準備

　　被(bei)測(ce)樣(yang)品(pin)要求為園形，直(zhi)徑(jing)25.4～27mm，這(zhe)是(shi)減小(xiao)因樣品(pin)邊(bian)緣泄(xie)漏(lou)和邊(bian)緣電(dian)場(chang)引(yin)起(qi)的誤(wu)差(cha)的有(you)效辦(ban)法。樣(yang)品(pin)厚(hou)度(du)可在1～5mm之間(jian)，如(ru)太(tai)薄(bo)或(huo)太(tai)厚則(ze)測(ce)試(shi)精度(du)就會(hui)下(xia)降，樣(yang)品(pin)要盡(jin)可(ke)能平直。

　　下(xia)面(mian)推薦(jian)壹(yi)種(zhong)能(neng)提(ti)高(gao)測(ce)試(shi)性的方法：準備二(er)片(pian)厚0.05mm的園形(xing)錫膜，直(zhi)徑(jing)和平板電(dian)容(rong)器(qi)極片壹(yi)致(zhi)，錫膜兩(liang)面(mian)均勻地塗(tu)上(shang)壹(yi)層(ceng)薄(bo)薄(bo)的凡士林(lin)，它(ta)起(qi)粘(zhan)著(zhe)作(zuo)用，又能(neng)排除接(jie)觸(chu)面(mian)之間(jian)殘(can)余空氣(qi)，把錫膜再(zai)粘(zhan)在平板(ban)電(dian)容(rong)器(qi)兩(liang)個極片上(shang)，粘(zhan)好(hao)後(hou)，極片呈鏡面(mian)狀為(wei)佳，然(ran)後(hou)放(fang)上(shang)被(bei)測(ce)樣(yang)品(pin)。

　　2. 測(ce)試(shi)順序

　　先要詳細了解(jie)配(pei)用儀(yi)器的使(shi)用方法，操作(zuo)時，要避(bi)免人(ren)體感(gan)應(ying)的影響(xiang)。

　　a.把(ba)配(pei)用的儀器(qi)主(zhu)調諧(xie)電(dian)容(rong)置於zui小(xiao)電(dian)容(rong)量(liang)，微(wei)調電(dian)容(rong)置於－3pF。

　　b.把(ba)本夾具測(ce)試(shi)裝置插到儀(yi)器測(ce)試(shi)回路的“電(dian)容(rong)”兩(liang)個端(duan)子(zi)上(shang)，即(ji)插入到(dao)儀器上(shang)方接(jie)線(xian)銅柱(zhu)的右(you)邊(bian)兩(liang)個圓柱(zhu)內。

　　c.配(pei)上(shang)相適(shi)應(ying)的高Q值電(dian)感(gan)線(xian)圈，選(xuan)擇(ze)電(dian)感(gan)沒有(you)特別(bie)的方法，只有(you)試(shi)或憑(ping)經(jing)驗(yan)來選(xuan)擇(ze)合(he)適(shi)的那個，壹(yi)般(ban)選(xuan)擇(ze)使(shi)高頻(pin)儀器(qi)顯(xian)示Q值zui大(da)的電(dian)感(gan)zui為(wei)合(he)適(shi)。

　　註(zhu)：以(yi)上(shang)步(bu)驟(zhou)是(shi)為了使(shi)高頻(pin)儀器(qi)工作(zuo)起(qi)來（儀器(qi)是(shi)LC諧(xie)振(zhen)工(gong)作(zuo)原理(li)，所(suo)以(yi)要選(xuan)擇(ze)合(he)適(shi)的電(dian)感(gan)才(cai)能使(shi)儀器(qi)諧(xie)振(zhen)）

　　d.調節(jie)平板(ban)電(dian)容(rong)器(qi)測(ce)微(wei)桿(gan)，使(shi)二極片相接(jie)為(wei)止(zhi)，讀取刻(ke)度(du)值記(ji)為(wei)DO。

　　e.再松(song)開(kai)二(er)極片，把(ba)被測(ce)樣(yang)品(pin)插入二(er)極片之間(jian)，調節(jie)平板(ban)電(dian)容(rong)器(qi)，到(dao)二(er)極片夾住樣(yang)品(pin)止(zhi)（註意調節(jie)時要用測(ce)微(wei)桿(gan)，以(yi)免夾得過(guo)緊(jin)或(huo)過松(song)），這(zhe)時能讀取新(xin)的刻(ke)度(du)值，記(ji)為(wei)D1，這(zhe)時樣品(pin)厚(hou)度(du)D2= D1－D0。

　　註：以(yi)上(shang)d和e兩(liang)步(bu)是(shi)測(ce)出(chu)被(bei)測(ce)樣(yang)片(pian)的厚度(du)，方便(bian)後面(mian)計算(suan)介(jie)電(dian)常(chang)數(shu)時(shi)用(yong)。

　　f.把園(yuan)筒電(dian)容(rong)器(qi)置於7mm處(chu)（該(gai)值不(bu)是(shi)的，我們(men)壹(yi)般(ban)在測(ce)的時候放(fang)到7mm處(chu)就(jiu)可(ke)以(yi)測(ce)了，不(bu)過(guo)有(you)的時候在做到(dao)h步(bu)0驟(zhou)時(shi)順時針旋轉完刻(ke)度(du)了Q值還(hai)沒有(you)達到(dao)壹(yi)半，這(zhe)時就要適當的把7mm刻(ke)度(du)調整到9mm或(huo)更(geng)大(da)了）。

　　g.改(gai)變配(pei)合(he)儀(yi)器(qi)頻(pin)率，使(shi)之諧(xie)振(zhen)，讀得Q值。（如(ru)果測(ce)試(shi)材料樣(yang)片(pian)有(you)“要求的測(ce)試(shi)頻(pin)率”，那麽就先把頻(pin)率定(ding)位(wei)到該(gai)頻(pin)率，然後(hou)再(zai)調節(jie)儀器(qi)的主調電(dian)容(rong)，使(shi)儀器(qi)諧(xie)振(zhen)（即(ji)儀器的Q值顯(xian)示為(wei)zui大(da)）；如(ru)果不知(zhi)道在頻(pin)率下(xia)測(ce)試(shi)的話，我(wo)們(men)壹(yi)般(ban)把(ba)頻(pin)率放(fang)在1MHz下(xia)來調試(shi)，然後(hou)再(zai)調節(jie)主調電(dian)容(rong)使(shi)儀器(qi)工(gong)作(zuo)）。

　　h.先順時針方向(xiang)，後逆(ni)時針(zhen)方向(xiang)，調節(jie)園筒(tong)電(dian)容(rong)器(qi)，讀取當(dang)儀器指(zhi)示Q值為(wei)原(yuan)值的壹(yi)半時(shi)測(ce)微(wei)桿(gan)上(shang)二(er)個(ge)刻(ke)度(du)值，取這(zhe)二個值之差(cha)，記為(wei)M1。（先記下(xia)園筒(tong)電(dian)容(rong)在7mm時儀(yi)器(qi)諧(xie)振(zhen)時(shi)的zui大(da)Q值，即(ji)d步(bu)驟(zhou)測(ce)得(de)的Q值；然(ran)後(hou)調節(jie)園筒(tong)電(dian)容(rong)器(qi)，看儀器(qi)的Q值顯(xian)示為(wei)原(yuan)來的壹(yi)半時(shi)，讀取園(yuan)筒電(dian)容(rong)器(qi)上(shang)邊(bian)的刻(ke)度(du)為多(duo)少，要順時針和逆時針旋轉兩(liang)次取兩(liang)個刻(ke)度(du)值；如(ru)果園筒(tong)電(dian)容(rong)器(qi)順時針轉到0刻(ke)度(du)時Q值還(hai)沒有(you)到壹(yi)半，那麽就要返回到第(di)f步(bu)驟(zhou)把(ba)園(yuan)筒(tong)電(dian)容(rong)器(qi)置於9mm處(chu)或(huo)更(geng)大(da)，重(zhong)新(xin)操作(zuo)）。

　　i.再調節(jie)園筒(tong)電(dian)容(rong)器(qi)，使(shi)儀器(qi)再(zai)次(ci)諧(xie)振(zhen)（即(ji)把園筒電(dian)容(rong)器(qi)調回到7mm處(chu)）。

　　j.取出(chu)平板電(dian)容(rong)器(qi)中(zhong)的樣品(pin)，這(zhe)時儀器又失(shi)諧(xie)，調節(jie)平

　　板(ban)電(dian)容(rong)器(qi)，使(shi)再諧(xie)振(zhen)，讀取測(ce)微(wei)桿(gan)上(shang)的讀值D3，其(qi)變化值為(wei)

　　D4= D3－D0。

　　k.和h款操作(zuo)壹(yi)樣，得(de)到新的二個(ge)值之差(cha)，記為(wei)M2。

　　3.  計算(suan)測(ce)試(shi)結果

　　被測(ce)樣(yang)品(pin)的介(jie)電(dian)常(chang)數(shu)：

　　Σ＝D2 / D4

　　被(bei)測(ce)樣(yang)品(pin)的損耗角(jiao)正切值：

　　tgδ＝K（M1－M2 ）/ 15.5

　　式(shi)中(zhong)：K為園筒電(dian)容(rong)器(qi)線(xian)性(xing)變化率，壹(yi)般(ban)為(wei)0.33。

　　4.  其(qi)他應(ying)用(yong)使(shi)用方法

　　使(shi)用本(ben)測(ce)試(shi)裝置和儀器配(pei)用，對(dui)絕(jue)緣(yuan)材(cai)料以(yi)及其(qi)他高阻(zu)性(xing)能(neng)的薄(bo)材(cai)，列如(ru)：紙(zhi)張、木材、粉(fen)壓(ya)片(pian)料等(deng)，進(jin)行(xing)相對(dui)測(ce)量(liang)，其(qi)測(ce)試(shi)方法就非常(chang)簡(jian)便(bian)、實(shi)用，采取被(bei)測(ce)樣(yang)品(pin)和標準樣品(pin)相比(bi)較(jiao)方法，就能靈(ling)敏(min)地區(qu)別(bie)二(er)者(zhe)之間(jian)的輕微(wei)差(cha)別(bie)，例如(ru)含(han)水(shui)量、配(pei)用原(yuan)料變動等(deng)等。

　　測(ce)試(shi)時先把標(biao)準(zhun)樣(yang)品(pin)放(fang)入平(ping)板(ban)電(dian)容(rong)器(qi)，調節(jie)儀器(qi)頻(pin)率，諧(xie)振(zhen)後(hou)讀得Q值，再(zai)換(huan)上(shang)被(bei)測(ce)樣(yang)品(pin)，調節(jie)園筒(tong)電(dian)位(wei)器，再(zai)諧(xie)振(zhen)，看Q值變化，如(ru)Q值變化很小(xiao)，說(shuo)明標準(zhun)樣品(pin)和被測(ce)樣(yang)品(pin)高(gao)頻(pin)損耗值壹(yi)致(zhi)，反(fan)之說(shuo)明二者(zhe)性(xing)能(neng)有(you)區別(bie)，如(ru)園(yuan)筒(tong)電(dian)容(rong)器(qi)調節(jie)不能(neng)再諧(xie)振(zhen)，通(tong)過(guo)調節(jie)儀器(qi)頻(pin)率才(cai)能諧(xie)振(zhen)，且(qie)頻(pin)率變化較(jiao)大(da)，說(shuo)明被測(ce)樣(yang)品(pin)和標準樣品(pin)的配(pei)用原(yuan)材料相差(cha)較(jiao)大(da)。