描(miao)述(shu)：JX-SBK50型(xing)教學(xue)便攜(xie)式澤貝(bei)克系(xi)數(shu)測試儀可(ke)用於(yu)熱(re)電(dian)材(cai)料(liao)初選(xuan)，快速篩選(xuan)薄膜、塊(kuai)體(ti)等(deng)熱(re)電(dian)材(cai)料(liao)樣品；能(neng)進(jin)行均(jun)勻(yun)性(xing)測試，對材料(liao)內外(wai)部(bu)均(jun)勻(yun)情(qing)況(kuang)作(zuo)初(chu)步定量評(ping)價；還適(shi)用於(yu)本(ben)科階段各(ge)類熱電(dian)材(cai)料(liao)相關原理教學(xue)、實(shi)驗(yan)講(jiang)解等(deng)教學(xue)環節(jie)。

JX-SBK50型(xing)教學(xue)便攜(xie)式澤貝(bei)克系(xi)數(shu)測試儀

JX-SBK50型(xing)教學(xue)便攜(xie)式澤貝(bei)克系(xi)數(shu)測試儀可(ke)用於(yu)熱(re)電(dian)材(cai)料(liao)初選(xuan)，快速篩選(xuan)薄膜、塊(kuai)體(ti)等(deng)熱(re)電(dian)材(cai)料(liao)樣品；能(neng)進(jin)行均(jun)勻(yun)性(xing)測試，對材料(liao)內外(wai)部(bu)均(jun)勻(yun)情(qing)況(kuang)作(zuo)初(chu)步定量評(ping)價；還適(shi)用於(yu)本(ben)科階段各(ge)類熱電(dian)材(cai)料(liao)相關原理教學(xue)、實(shi)驗(yan)講(jiang)解等(deng)教學(xue)環節(jie)。

主要(yao)技術參數(shu)：

1.探筆溫(wen)差：熱端(duan)固(gu)定50℃

2.樣品電(dian)阻：≤10kΩ

3.Seebeck量程：≦700μV/K

4.Seebeck分辨(bian)率(lv)：0.1μV/K

5.Seebeck系(xi)數(shu)最快(kuai)測試時間：11s

6.相對標準(zhun)偏(pian)差（重復性(xing)）：Seebeck＜5%

7.數(shu)據(ju)記錄：顯示12個(ge)測試結果(guo)

8.加熱(re)功率(lv)：6W

9.樣品尺寸(cun)：Seebeck系(xi)數(shu)

          方形樣(yang)品：長(chang)≥5mm，寬≥1mm

          圓形樣(yang)品：直徑≥5mm

          柱(zhu)形樣(yang)品：長(chang)≥5mm，直徑≥0.2mm