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廠(chang)商(shang)性(xing)質
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2025-12-01訪問(wen)量(liang)
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詳(xiang)細介(jie)紹(shao)
| 品牌(pai) | 其(qi)他(ta)品牌(pai) | 產地(di)類別(bie) | 國(guo)產 |
|---|---|---|---|
| 應用領(ling)域 | 環保,能(neng)源,電子/電池,電氣,綜(zong)合 |
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探(tan)針(zhen)熱臺(tai)JK-600S是(shi)壹款針(zhen)對研(yan)究(jiu)樣品變溫(wen)電學性(xing)能(neng)測試而(er)設計的(de)產品,可表(biao)征(zheng)樣品電學性(xing)能(neng)隨溫(wen)度(du)變化(hua)的(de)特征。產品采(cai)用(yong)電阻加(jia)熱的(de)方式,實現(xian)RT~600℃範(fan)圍(wei)內(nei)精(jing)準(zhun)控(kong)制(zhi),與(yu)其(qi)他(ta)電學儀表(如電橋、源表(biao)、萬用(yong)表(biao)等(deng))搭(da)配集成(cheng),進行(xing)變溫(wen)原(yuan)位(wei)測試。產品需要與(yu)溫(wen)度(du)控(kong)制(zhi)器配套使(shi)用(yong),配套的(de)上位機(ji)溫(wen)控(kong)軟(ruan)件(jian)方便進行(xing)溫(wen)度(du)設置及(ji)采(cai)集(ji),提(ti)供的(de)Labview Vis/C# SDK方便客戶(hu)進(jin)行(xing)定(ding)制(zhi)化編(bian)程(cheng)。
1、 可(ke)以(yi)搭(da)配阻抗(kang)分(fen)析儀,高(gao)阻計,電化學(xue)工作(zuo)站,數(shu)字源表進行(xing)功能(neng)材(cai)料電學的(de)相關測試
2、 軟(ruan)件(jian)開(kai)發(fa)可以(yi)進行(xing)高(gao)溫介(jie)電溫譜測試、電阻,電阻率(lv)測試,熱電,熱釋電,TSDC等(deng)測量功能(neng)。
產品特點:
溫(wen)度(du)範(fan)圍(wei):RT~600℃
溫(wen)度(du)穩定(ding)性:±0.1℃
升降溫(wen)速(su)度(du):0~30℃/min
氣(qi)密(mi)腔室(shi)設(she)計,可升級(ji)真(zhen)空
詳(xiang)細參(can)數(shu)壹(yi)覽表:
探(tan)針(zhen)熱臺(tai) | JK-600S | |
溫(wen)控(kong)模(mo)塊(kuai) | 冷(leng)熱方(fang)式(shi) | 電阻加(jia)熱 |
溫(wen)控(kong)範(fan)圍(wei) | RT~600℃ * | |
溫(wen)度(du)穩定(ding)性 | ±0.1℃ * | |
溫(wen)度(du)分(fen)辨(bian)率(lv) | 0.1℃ | |
升降溫(wen)速(su)率(lv) | 0~30℃/min(可(ke)定(ding)點 / 程(cheng)序(xu)段(duan)控(kong)溫(wen)),最(zui)大150℃/min | |
溫(wen)控(kong)方(fang)式(shi) | PID | |
溫(wen)度(du)傳感器 | PT100 | |
光學(xue)特性 | 光路(lu) | 透(tou)射(she)光路(lu) *可(ke)選反(fan)射(she)光路(lu) |
視(shi)窗(chuang)材(cai)質(zhi) | 石(shi)英(ying)玻(bo)璃(li)(可(ke)手動(dong)拆卸(xie)更換(huan)) * | |
視(shi)窗(chuang)尺(chi)寸(cun) | Φ25mm * | |
物(wu)鏡工作(zuo)距(ju)離(li) | 7mm * | |
透(tou)光孔 | 默(mo)認(ren)透(tou)光孔 *可選無透(tou)光孔 | |
電學特性 | 探(tan)針(zhen) | 2個磁吸式(shi)探(tan)針(zhen)/4個磁吸式(shi)探(tan)針(zhen) 手(shou)動(dong)定(ding)位(wei) * |
探(tan)針(zhen)接(jie)口 | BNC接(jie)口 *可(ke)選SMA接(jie)口 | |
樣(yang)品臺(tai)面(mian)電位 | 默(mo)認(ren)電懸空(kong) *可選電接地(di) | |
結構特性 | 樣(yang)品臺(tai)尺(chi)寸(cun) | 20×20mm * |
樣(yang)品臺(tai)材(cai)質(zhi) | 不(bu)銹鋼(gang) * | |
外形尺(chi)寸(cun) | 116×110×25mm * | |
樣(yang)品腔高(gao)度(du) | 6mm * | |
腔室(shi) | 氣(qi)密(mi) *可(ke)升級(ji)真(zhen)空 | |
外殼冷(leng)卻(que) | 循(xun)環水 | |
基(ji)本(ben)配置 | 探(tan)針(zhen)熱臺(tai)x1、溫(wen)度(du)控(kong)制(zhi)器x1、循(xun)環水系(xi)統(tong)x1、溫(wen)控(kong)軟(ruan)件(jian)x1 | |
選配 | 電腦主機(ji)/安裝(zhuang)支(zhi)架(jia)/真(zhen)空系(xi)統(tong)/定(ding)制(zhi)溫控(kong)軟(ruan)件(jian) | |
備註(zhu) | 以(yi)上(shang)均(jun)為(wei)默(mo)認(ren)參(can)數(shu) * 為(wei)可(ke)定(ding)制(zhi)項
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1、 高(gao)溫介(jie)電溫譜測試
2、 絕(jue)緣(yuan)電阻測試
3、 四(si)探(tan)針(zhen)電阻率(lv)測試
4、 熱電測試儀,TSDC熱刺激(ji)電流(liu)測試,熱釋電測試
第(di)壹(yi)、介(jie)電溫譜測試圖(tu)

測量頻(pin)率:軟件(jian)可設置測試的(de)頻率;
數(shu)據(ju)處理:測量數(shu)據(ju)生(sheng)成Excel及(ji)pdf兩種(zhong)文(wen)件(jian)格(ge)式(shi);圖(tu)像處理:測量曲(qu)線可保存。
高(gao)溫介(jie)電測試
第(di)三(san)、測量曲(qu)線(電阻、熱釋電、TSDC測量)
1、電阻測量模(mo)式(shi):
2、連(lian)續(xu)測量模(mo)式(shi):升降溫(wen)連(lian)續(xu)采(cai)集(ji)。2、保持(chi)測量:指(zhi)達(da)到溫度(du)後(hou)進(jin)行(xing)測量采(cai)集(ji)TSDC測量:
3、通(tong)過(guo)液(ye)氮(dan)進(jin)行(xing)低溫試驗。

熱釋電參(can)數(shu)測試
TSDC熱刺激(ji)電流(liu)測試

電阻測試
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