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      1. <dl id="R85knp"></dl>

        1. 當(dang)前(qian)位(wei)置:首(shou)頁  >  產品中(zhong)心  >  材(cai)料樣(yang)品高(gao)低溫冷熱臺(tai)  >  冷(leng)熱臺(tai)  >  JK-600S高(gao)溫電學探(tan)針(zhen)熱臺(tai)
          型(xing)號:
          JK-600S高(gao)溫電學探(tan)針(zhen)熱臺(tai)

          描(miao)述:探(tan)針(zhen)熱臺(tai)JK-600S是(shi)壹款針(zhen)對研(yan)究(jiu)樣品變溫(wen)電學性(xing)能(neng)測試而(er)設計的(de)產品,可表(biao)征(zheng)樣品電學性(xing)能(neng)隨溫(wen)度(du)變化(hua)的(de)特征。產品采(cai)用(yong)電阻加(jia)熱的(de)方式,實現(xian)RT~600℃範(fan)圍(wei)內(nei)精(jing)準(zhun)控(kong)制(zhi),與(yu)其(qi)他(ta)電學儀表(如電橋、源表(biao)、萬用(yong)表(biao)等(deng))搭(da)配集成(cheng),進行(xing)變溫(wen)原(yuan)位(wei)測試。產品需要與(yu)溫(wen)度(du)控(kong)制(zhi)器配套使(shi)用(yong),配套的(de)上位機(ji)溫(wen)控(kong)軟(ruan)件(jian)方便進行(xing)溫(wen)度(du)設置及(ji)采(cai)集(ji),提(ti)供的(de)Labview Vis/C# SDK方便客戶(hu)進(jin)行(xing)定(ding)制(zhi)化編(bian)程(cheng)。

          • 廠(chang)商(shang)性(xing)質

            生(sheng)產廠(chang)家
          • 更(geng)新(xin)時間

            2025-12-01
          • 訪問(wen)量(liang)

            1125
          詳(xiang)細介(jie)紹(shao)
          品牌(pai)其(qi)他(ta)品牌(pai)產地(di)類別(bie)國(guo)產
          應用領(ling)域環保,能(neng)源,電子/電池,電氣,綜(zong)合


          JK-600S高(gao)溫電學探(tan)針(zhen)熱臺(tai)

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          探(tan)針(zhen)熱臺(tai)JK-600S是(shi)壹款針(zhen)對研(yan)究(jiu)樣品變溫(wen)電學性(xing)能(neng)測試而(er)設計的(de)產品,可表(biao)征(zheng)樣品電學性(xing)能(neng)隨溫(wen)度(du)變化(hua)的(de)特征。產品采(cai)用(yong)電阻加(jia)熱的(de)方式,實現(xian)RT~600範(fan)圍(wei)內(nei)精(jing)準(zhun)控(kong)制(zhi),與(yu)其(qi)他(ta)電學儀表(如電橋、源表(biao)、萬用(yong)表(biao)等(deng))搭(da)配集成(cheng),進行(xing)變溫(wen)原(yuan)位(wei)測試。產品需要與(yu)溫(wen)度(du)控(kong)制(zhi)器配套使(shi)用(yong),配套的(de)上位機(ji)溫(wen)控(kong)軟(ruan)件(jian)方便進行(xing)溫(wen)度(du)設置及(ji)采(cai)集(ji),提(ti)供的(de)Labview Vis/C# SDK方便客戶(hu)進(jin)行(xing)定(ding)制(zhi)化編(bian)程(cheng)。

          1、 可(ke)以(yi)搭(da)配阻抗(kang)分(fen)析儀,高(gao)阻計,電化學(xue)工作(zuo)站,數(shu)字源表進行(xing)功能(neng)材(cai)料電學的(de)相關測試

          2、 軟(ruan)件(jian)開(kai)發(fa)可以(yi)進行(xing)高(gao)溫介(jie)電溫譜測試、電阻,電阻率(lv)測試,熱電,熱釋電,TSDC等(deng)測量功能(neng)。

          產品特點:

          溫(wen)度(du)範(fan)圍(wei):RT~600℃ 

          溫(wen)度(du)穩定(ding)性:±0.1℃

          升降溫(wen)速(su)度(du):0~30℃/min

          氣(qi)密(mi)腔室(shi)設(she)計,可升級(ji)真(zhen)空

          詳(xiang)細參(can)數(shu)壹(yi)覽表:

          探(tan)針(zhen)熱臺(tai)

          JK-600S

          溫(wen)控(kong)模(mo)塊(kuai)

          冷(leng)熱方(fang)式(shi)

          電阻加(jia)熱

          溫(wen)控(kong)範(fan)圍(wei)

          RT~600℃ *

          溫(wen)度(du)穩定(ding)性

          ±0.1℃ *

          溫(wen)度(du)分(fen)辨(bian)率(lv)

          0.1℃

          升降溫(wen)速(su)率(lv)

          0~30℃/min(可(ke)定(ding)點 / 程(cheng)序(xu)段(duan)控(kong)溫(wen)),最(zui)大150℃/min

          溫(wen)控(kong)方(fang)式(shi)

          PID

          溫(wen)度(du)傳感器

          PT100 

          光學(xue)特性

          光路(lu)

          透(tou)射(she)光路(lu) *可(ke)選反(fan)射(she)光路(lu)

          視(shi)窗(chuang)材(cai)質(zhi)

          石(shi)英(ying)玻(bo)璃(li)(可(ke)手動(dong)拆卸(xie)更換(huan)) *

          視(shi)窗(chuang)尺(chi)寸(cun)

          Φ25mm *

          物(wu)鏡工作(zuo)距(ju)離(li)

          7mm *

          透(tou)光孔

          默(mo)認(ren)透(tou)光孔 *可選無透(tou)光孔

          電學特性

              探(tan)針(zhen)

          2個磁吸式(shi)探(tan)針(zhen)/4個磁吸式(shi)探(tan)針(zhen) 手(shou)動(dong)定(ding)位(wei) *

          探(tan)針(zhen)接(jie)口

          BNC接(jie)口 *可(ke)選SMA接(jie)口

          樣(yang)品臺(tai)面(mian)電位

          默(mo)認(ren)電懸空(kong) *可選電接地(di)

          結構特性

          樣(yang)品臺(tai)尺(chi)寸(cun)

          20×20mm *

          樣(yang)品臺(tai)材(cai)質(zhi)

          不(bu)銹鋼(gang) *

          外形尺(chi)寸(cun)

          116×110×25mm *

          樣(yang)品腔高(gao)度(du)

          6mm *

          腔室(shi)

          氣(qi)密(mi) *可(ke)升級(ji)真(zhen)空

          外殼冷(leng)卻(que)

          循(xun)環水

          基(ji)本(ben)配置

          探(tan)針(zhen)熱臺(tai)x1、溫(wen)度(du)控(kong)制(zhi)器x1、循(xun)環水系(xi)統(tong)x1、溫(wen)控(kong)軟(ruan)件(jian)x1

          選配

           電腦主機(ji)/安裝(zhuang)支(zhi)架(jia)/真(zhen)空系(xi)統(tong)/定(ding)制(zhi)溫控(kong)軟(ruan)件(jian)

          備註(zhu)

          以(yi)上(shang)均(jun)為(wei)默(mo)認(ren)參(can)數(shu)    * 為(wei)可(ke)定(ding)制(zhi)項

           

           

          可(ke)進(jin)行(xing)多(duo)種電學功能(neng)測試

          1、 高(gao)溫介(jie)電溫譜測試

          2、 絕(jue)緣(yuan)電阻測試

          3、 四(si)探(tan)針(zhen)電阻率(lv)測試

          4、 熱電測試儀,TSDC熱刺激(ji)電流(liu)測試,熱釋電測試

           

          第(di)壹(yi)、介(jie)電溫譜測試圖(tu)

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          第(di)二(er)、高(gao)溫介(jie)電測試

          模(mo)式(shi)選擇(ze):根據(ju)等(deng)效(xiao)電路(lu)可(ke)選擇(ze)並(bing)聯模(mo)式(shi)和串聯(lian)模(mo)式(shi);測量方(fang)式:軟件(jian)可進行(xing)介(jie)電溫譜與(yu)介(jie)電頻譜; 

          測量參(can)數(shu): s介(jie)電常數(shu)、 (E'、t"介(jie)電常數(shu)實部與(yu)虛部)、C電容、(C'、C"電容實部與(yu)虛部、D損(sun)耗、R電阻、(R'、R""電阻實部與(yu)虛部).Z、(Z'、Z"阻抗(kang)實部與(yu)虛部)、Y導納、Y.Y"(導納實部與(yu)虛溫度(du)設置:可設(she)置升溫速(su)度(du)、降溫(wen)速度(du)、最(zui)大溫度(du)、測量等(deng)待時(shi)間(jian)等(deng);

          測量頻(pin)率:軟件(jian)可設置測試的(de)頻率;

          數(shu)據(ju)處理:測量數(shu)據(ju)生(sheng)成Excel及(ji)pdf兩種(zhong)文(wen)件(jian)格(ge)式(shi);圖(tu)像處理:測量曲(qu)線可保存。

           

          高(gao)溫介(jie)電測試.jpg 

                                           高(gao)溫介(jie)電測試

           

          第(di)三(san)、測量曲(qu)線(電阻、熱釋電、TSDC測量)

          電阻測量模(mo)式(shi):

          1、電阻測量模(mo)式(shi):

          2、連(lian)續(xu)測量模(mo)式(shi):升降溫(wen)連(lian)續(xu)采(cai)集(ji)。2、保持(chi)測量:指(zhi)達(da)到溫度(du)後(hou)進(jin)行(xing)測量采(cai)集(ji)TSDC測量:

          3、通(tong)過(guo)液(ye)氮(dan)進(jin)行(xing)低溫試驗。

          熱釋電參(can)數(shu)測試.jpg

             

          熱釋電參(can)數(shu)測試

           

          TSDC熱刺激(ji)電流(liu)測試.jpg 

                                     TSDC熱刺激(ji)電流(liu)測試

           

          電阻測試.jpg

          電阻測試

           

           

           

           

           


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