描(miao)述(shu)：JKZC-YDZK03N壓電(dian)阻抗綜(zong)合(he)測(ce)試(shi)系統是壹款(kuan)多(duo)用途的(de)綜合(he)測(ce)試(shi)系統，即(ji)可用於(yu)縱(zong)向(xiang)壓電(dian)D33測試(shi)，豎(shu)向(xiang)D15,橫(heng)向(xiang)D31等(deng)性(xing)能(neng)測(ce)試(shi)，配(pei)置(zhi)了(le)高(gao)低溫冷(leng)熱(re)臺(tai)，進行變溫(wen)測試(shi)，配(pei)置(zhi)顯(xian)微(wei)鏡(jing)進行微(wei)觀(guan)觀測，也可以用(yong)於(yu)用於用(yong)於鐵(tie)電(dian)晶體(ti)、壓電(dian)陶瓷(ci)、壓電(dian)晶體(ti)、超聲(sheng)波換(huan)能(neng)器(qi)等(deng)器(qi)件的(de)阻抗分(fen)析與測(ce)試(shi)，是對(dui)壓電(dian)器件(jian)和設(she)備進行頻(pin)率掃(sao)描(miao)和阻抗測(ce)量分(fen)析的(de)*解決方案，可以快(kuai)捷(jie)方便地(di)測試(shi)壓電(dian)器件(jian)的(de)各項參數(shu)特性(xing),正反諧振(zhen)阻抗及(ji)壓電(dian)

JKZC-YDZK03AN壓電(dian)阻抗綜(zong)合(he)測(ce)試(shi)系統

關(guan)鍵(jian)詞(ci)：壓電(dian)系數(shu)，阻抗，顯(xian)微(wei)鏡(jing)，高低溫(wen)

    JKZC-YDZK03N壓電(dian)阻抗綜(zong)合(he)測(ce)試(shi)系統是壹款(kuan)多(duo)用途的(de)綜合(he)測(ce)試(shi)系統，即(ji)可用於(yu)縱(zong)向(xiang)壓電(dian)D33測試(shi)，豎(shu)向(xiang)D15,橫(heng)向(xiang)D31等(deng)性(xing)能(neng)測(ce)試(shi)，配(pei)置(zhi)了(le)高(gao)低溫冷(leng)熱(re)臺(tai)，進行變溫(wen)測試(shi)，配(pei)置(zhi)顯(xian)微(wei)鏡(jing)進行微(wei)觀(guan)觀測，也可以用(yong)於(yu)用於用(yong)於鐵(tie)電(dian)晶體(ti)、壓電(dian)陶瓷(ci)、壓電(dian)晶體(ti)、超聲(sheng)波換(huan)能(neng)器(qi)等(deng)器(qi)件的(de)阻抗分(fen)析與測(ce)試(shi)，是對(dui)壓電(dian)器件(jian)和設(she)備進行頻(pin)率掃(sao)描(miao)和阻抗測(ce)量分(fen)析的(de)*解決方案，可以快(kuai)捷(jie)方便地(di)測試(shi)壓電(dian)器件(jian)的(de)各項參數(shu)特性(xing),正反諧振(zhen)阻抗及(ji)壓電(dian)材(cai)料的(de)電(dian)容等(deng)相(xiang)關系數(shu)，是研(yan)究(jiu)壓電(dian)材(cai)料和(he)阻抗分(fen)析的(de)綜合(he)設(she)備(bei)，是科(ke)研的(de)重(zhong)要輔助(zhu)設(she)備。

壹、產品(pin)應用範(fan)圍：

1.壓電(dian)材(cai)料器(qi)件科學研究(jiu)

2.壓電(dian)材(cai)料的(de)用於評(ping)定(ding)壓電(dian)陶瓷(ci)片(pian)性(xing)能(neng)優(you)劣

3.壓電(dian)材(cai)料阻抗分(fen)析

4.其(qi)他(ta)介(jie)質(zhi)材(cai)料： 塑料、陶瓷(ci)和(he)其(qi)它(ta)材(cai)料的(de)介電(dian)常數(shu)和損(sun)耗角(jiao)評估

磁(ci)性(xing)材(cai)料：鐵(tie)氧體(ti)、非(fei)晶體(ti)和其(qi)它(ta)磁(ci)性(xing)材(cai)料的(de)導(dao)磁(ci)率和損耗角(jiao)評估

半導(dao)體(ti)材(cai)料：半導(dao)體(ti)材(cai)料的(de)介電(dian)常數(shu)、導(dao)電(dian)率和C-V特性(xing)

液(ye)晶(jing)單(dan)元(yuan)：介(jie)電(dian)常數(shu)、彈(dan)性(xing)常數(shu)等(deng)C-V特性(xing)

5.  導(dao)體(ti)材(cai)料：半導(dao)體(ti)材(cai)料的(de)介電(dian)常數(shu)、導(dao)電(dian)率和C-V特性(xing)

半導(dao)體(ti)元件(jian)：LED驅(qu)動(dong)集成(cheng)電(dian)路(lu)寄(ji)生(sheng)參數(shu)測試(shi)分(fen)析；變容二極管(guan)的(de)C-VDC特性(xing)； 晶體(ti)管或(huo)集成(cheng)電(dian)路(lu)的(de)寄生(sheng)參數(shu)分(fen)析

二、主要技術(shu)參數(shu)：

頻(pin)率：10HZ-30MHZ

測(ce)試(shi)電(dian)平：AC: AC電(dian)壓:5mV - 2Vrms ,分(fen)辨率：1mV, DC：±40V，分(fen)辨率：1mV

測(ce)試(shi)參數(shu)：Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、Vac、Iac、Rdc、Vdc、Idc

顯(xian)微(wei)鏡(jing)：630萬(wan)像素(su)，偏光觀(guan)察模(mo)式(shi)

薄膜平臺(tai)：30*30MM樣品(pin)臺(tai),探針連(lian)接(jie)

×1擋：10到2000pC/N，20 至(zhi)4000pC/N，可以升級到10000PC/N.

×0.1擋： 1到200pC/N，2 至(zhi)400pC/N。

可以配(pei)套(tao)PZT-JH10/4/8/12型壓電(dian)極化(hua)裝(zhuang)置使用(yong)

可以配(pei)套(tao)ZJ-D33-YP15壓電(dian)壓片(pian)機(ji)使用(yong)

誤(wu)差(cha)：×1擋：±2%±1個數(shu)字，當d33在100到4000pC/N；

計(ji)量標定標準樣尺寸(cun)：18mm*0.8mm，老化(hua)時(shi)間(jian)：2-3年(nian)（評(ping)判(pan)壓電(dian)測試(shi)儀(yi)準(zhun)確(que)性(xing)能(neng)的(de)重(zhong)要依(yi)據(ju)之(zhi)壹）

提(ti)供(gong)壓電(dian)薄膜標準片(pian)：20*20MM

電(dian)壓保(bao)護：放電(dian)保護(hu)功能(neng) 

±5%±1個(ge)數(shu)字，當d33在10到200pC/N；

×0.1擋：±2%±1個數(shu)字，(當d33在10到200pC/N)

±5%±1個(ge)數(shu)字，當d33在10到20pC/N。

分(fen)辨率：   ×1擋：1 pC/N；×0.1擋：0.1 pC/N。

尺寸(cun)：施力(li)裝(zhuang)置：Φ110×140mm；儀(yi)器本體(ti)：240×200×80mm。