BND-50型(xing)薄膜50點(dian)自(zi)動(dong)耐(nai)電(dian)壓強(qiang)度(du)測試(shi)儀主(zhu)要電(dian)工(gong)薄膜（光(guang)膜和(he)金(jin)屬膜）的(de)耐(nai)電(dian)壓強(qiang)度(du)測試(shi)。可以用於光(guang)膜耐(nai)壓(ya)實(shi)驗，也可(ke)以用於金(jin)屬膜耐(nai)壓(ya)實(shi)驗，該(gai)儀器(qi)應(ying)采(cai)用(yong)電(dian)極三(san)軸自(zi)動(dong)定(ding)點(dian)移動(dong)系(xi)統、工(gong)業(ye)級(ji) 8 寸高分辨(bian)率彩色(se)液晶(jing)觸摸屏進行操作，具(ju)有(you)自(zi)動(dong)測(ce)試、自(zi)動(dong)穩壓(ya)、自(zi)動(dong)處(chu)理試驗結果等功(gong)能(neng)。控制(zhi)界(jie)面(mian)簡潔(jie)美(mei)觀，操作極為(wei)方便，可(ke)與計(ji)算機(ji)聯(lian)網操作，自(zi)動(dong)統(tong)計(ji)、自(zi)動(dong)存(cun)儲、自(zi)動(dong)打(da)印。本(ben)機(ji)具(ju)備多(duo)重保(bao)護(hu)功能(neng)，如(ru)過壓、過流(liu)、接(jie)地保(bao)護(hu)，試

NYHD-10A型(xing)觸摸屏型氧(yang)化誘導(dao)實(shi)驗制樣機(ji)是壹款(kuan)使(shi)用於GB/T19466.1-2004中(zhong)樣品制(zhi)作，方(fang)便用(yong)於管材(cai)取芯、切(qie)片，切(qie)片尺(chi)寸可調(tiao)、快速、表(biao)面(mian)光(guang)滑(hua)，滿足(zu)實(shi)驗要求。是材(cai)料(liao)分(fen)析和(he)質量(liang)檢(jian)測(ce)單位的(de)重(zhong)要輔(fu)助(zhu)設(she)備 。

PDL-100型陶(tao)瓷(ci)芯片基(ji)座導(dao)通(tong)和(he)短路(lu)裝(zhuang)置是壹款(kuan)專門(men)應(ying)用陶(tao)瓷芯片基(ji)座導(dao)通(tong)和(he)短路(lu)的(de)測(ce)量(liang)裝(zhuang)置，該(gai)裝(zhuang)置能(neng)夠(gou)迅(xun)速的(de)檢(jian)測(ce)導(dao)通(tong)性和(he)短路(lu)情(qing)況(kuang)。陶瓷(ci)芯片基(ji)座導(dao)通(tong)和(he)短路(lu)裝(zhuang)置是壹種(zhong)用於測試和(he)驗證電(dian)子元件(jian)（如集成電(dian)路、半(ban)導(dao)體器件(jian)等(deng)）電(dian)氣(qi)性能(neng)的(de)設(she)備。它(ta)在電(dian)子制(zhi)造和(he)質量(liang)控制(zhi)過(guo)程中(zhong)起著(zhe)關鍵(jian)作(zuo)用(yong)，主(zhu)要用於檢(jian)測(ce)芯片基(ji)座上的(de)導(dao)通(tong)性和(he)短路(lu)情(qing)況(kuang)，以確保(bao)產(chan)品的(de)可(ke)靠(kao)性和(he)性能(neng)。

LDB-1型(xing)全自(zi)動(dong)鋰(li)電(dian)池保(bao)護(hu)板檢(jian)測(ce)治具是壹種(zhong)用於測試鋰(li)電(dian)池保(bao)護(hu)板性能(neng)的(de)設(she)備，主(zhu)要用於檢(jian)測(ce)保(bao)護(hu)板的(de)過(guo)充(chong)、過(guo)放、過(guo)流(liu)、短路(lu)等保(bao)護(hu)功能(neng)是否(fou)正常。 鋰(li)電(dian)池保(bao)護(hu)板檢(jian)測(ce)治具是確(que)保(bao)鋰(li)電(dian)池安全使(shi)用的(de)重(zhong)要工(gong)具，能(neng)夠(gou)有(you)效提高電(dian)池的(de)可(ke)靠(kao)性和(he)安全性。是鋰(li)電(dian)池生產(chan)廠家和(he)研(yan)發(fa)及檢(jian)測(ce)單位的(de)重(zhong)要裝(zhuang)置。

PTC-900型(xing)發(fa)熱(re)陶瓷(ci)片(pian)全自(zi)動(dong)化(hua)檢(jian)測(ce)設(she)備產(chan)品介紹(shao)：直(zhi)流(liu)低(di)電(dian)阻檢(jian)測(ce)分檔(dang)：生產(chan)壹批陶瓷片由於材(cai)料(liao)，溫(wen)度(du)，冷(leng)確時間(jian)等(deng)差異化，直(zhi)流(liu)電(dian)阻並不精準，需要分選出不(bu)同阻值檔(dang)位的(de)產(chan)品用在不同的(de)產(chan)品上。該(gai)設(she)備具(ju)備四路(lu)同步(bu)自(zi)動(dong)化(hua)檢(jian)測(ce)直(zhi)流(liu)電(dian)阻，將(jiang)無(wu)阻值，阻值低於閥值或高於閥值的(de)拋(pao)出(chu)，在壹定(ding)範(fan)圍內的(de)阻值通過(guo)機(ji)械(xie)手安裝(zhuang)到夾具(ju)上(shang)。在(zai)目前(qian)PTC陶(tao)瓷(ci)自(zi)動(dong)化(hua)檢(jian)測(ce)設(she)備中(zhong)廣泛應(ying)用於生產(chan)中(zhong)。

ACDC-T3型管道防腐(fu)層陰極剝離(li)性能(neng)試(shi)驗裝(zhuang)置是我(wo)們根據新對(dui)塗層耐陰極剝離(li)的(de)實(shi)驗要求規(gui)範(fan)研(yan)制的(de)壹款(kuan)設(she)備，用(yong)於測試有(you)機(ji)塗裝(zhuang)層，因浸泡(pao)於電(dian)解(jie)液中(zhong)塗層及金(jin)屬體系防(fang)護(hu)性能(neng)失(shi)效的(de)試(shi)驗設(she)備，有(you)機(ji)塗層軒劣(lie)化(hua)和(he)塗層下金(jin)屬腐(fu)蝕(shi)導(dao)致(zhi)與金(jin)屬結(jie)合(he)力(li)減(jian)弱(ruo)而從金(jin)屬表(biao)面(mian)剝離(li)。為(wei)了確保(bao)長(chang)距(ju)離(li)油(you)氣(qi)輸(shu)送管道的(de)使(shi)用壽(shou)命及(ji)安全,對(dui)管道防腐(fu)層陰極剝離(li)性能(neng)進行了研(yan)究,總(zong)結(jie)了國(guo)內外管道防腐(fu)層(主(zhu)要是環(huan)氧(yang)粉(fen)末(mo)和(he)聚乙烯(xi)塗層)陰極剝離(li)性能(neng)的(de)試(shi)驗方法