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        1. 當前(qian)位(wei)置(zhi):首(shou)頁  >  技術文(wen)章(zhang)  >  BJJK-0粉(fen)末(mo)材(cai)料(liao)電(dian)阻率測試(shi)儀(yi)

          BJJK-0粉(fen)末(mo)材(cai)料(liao)電(dian)阻率測試(shi)儀(yi)

          更新時(shi)間(jian):2016-07-19  |  點擊率:4257

          BJJK-0粉(fen)末(mo)材(cai)料(liao)電(dian)阻率測試(shi)儀(yi)

           

           

          關鍵詞(ci):電(dian)阻率, 粉(fen)末(mo),四(si)探(tan)針(zhen)

           

          壹、產品(pin)概(gai)述(shu)

              BJJK-0粉(fen)末(mo)材(cai)料(liao)電(dian)阻率測試(shi)儀(yi)是運(yun)用(yong)四端(duan)子(zi)法(fa)或四探(tan)針(zhen)法(fa)測試(shi)粉(fen)末(mo)電(dian)阻率的測量(liang)儀(yi)器,該(gai)儀器采用(yong)通用(yong)的電(dian)流(liu)、電(dian)壓四(si)端(duan)子(zi)測量(liang)法(fa)(儀(yi)器電(dian)流(liu)源和(he)電(dian)壓表(biao)兩個(ge)單元分別從(cong)獨(du)立(li)回(hui)路連至(zhi)電(dian)極(ji)同(tong)時(shi)和(he)樣(yang)品(pin)接(jie)觸(chu)),可(ke)以消除電(dian)極(ji)與連接(jie)導(dao)線(xian)導(dao)通電(dian)阻產(chan)生的誤差(cha),克(ke)服(fu)了傳(chuan)統(tong)的二(er)端(duan)法(fa)測量(liang)粉(fen)末(mo)電(dian)阻率儀器的弊(bi)病,可(ke)以(yi)真實(shi)地(di)、準確地(di)測量(liang)出粉(fen)末(mo)樣(yang)品(pin)的電(dian)阻率,因此重(zhong)復性(xing)也(ye)好(hao)。符合(he)GB/T 24521-2009和(he)YS/T 587.6-2006有(you)關國標(biao)和(he)行(xing)業(ye)標(biao)準。產品(pin)設計符(fu)合國標和(he)行(xing)業(ye)規(gui)範,國(guo)內。

          二(er)、主(zhu)要應(ying)用(yong)領域:

          1. 碳素廠(chang)、焦化廠、石(shi)化廠、粉(fen)末(mo)冶(ye)金(jin)廠(chang)等(deng)固體和(he)粉(fen)態(tai)電(dian)阻率測量(liang)
          2. 高等(deng)院(yuan)校、科(ke)研(yan)部門、是檢(jian)驗和(he)分析固態(tai)和(he)粉(fen)態(tai)樣品(pin)質(zhi)量的測量(liang)

          三、產(chan)品(pin)符(fu)合(he):

          1.符合(he)GBT 30835-2014《鋰(li)離(li)子(zi)電(dian)池用(yong)炭復合(he)磷(lin)酸(suan)鐵鋰(li)正極(ji)材(cai)料(liao)》中關(guan)於粉(fen)末(mo)電(dian)阻率測試(shi)的原(yuan)理(li)和(he)規(gui)範

          2.GB/T 1551-2009 《矽單晶電(dian)阻率測定方(fang)法(fa)》

          3.GB/T 1552-1995《矽、鍺(zhe)單晶電(dian)阻率測定直(zhi)流(liu)四探(tan)針(zhen)法(fa)》並參(can)考美國(guo)A.S.T.M 標準。

          四、產(chan)品(pin)特(te)點(dian):

          1. 整個(ge)系統(tong)電(dian)氣(qi)控(kong)制顯示(shi)核(he)心(xin)部分,主(zhu)要由精密(mi)恒(heng)流(liu)源、高(gao)分辨率ADC、嵌入式單片機(ji)系統(tong)單元以及壓力(li)厚(hou)度顯(xian)示(shi)單元組成。

          2. 粉(fen)末(mo)測試(shi)臺 是連接(jie)測試(shi)主(zhu)機(ji),用(yong)來(lai)裝(zhuang)夾(jia)半(ban)導(dao)體粉(fen)末(mo)(含(han)高(gao)分子(zi)粉(fen)末(mo)和(he)金(jin)屬粉(fen)末(mo)等(deng)),進(jin)行壓力(li)施加(壓片(pian)),並同步進(jin)行電(dian)阻率測試(shi)的裝(zhuang)置(以(yi)下(xia)簡(jian)稱(cheng)測試(shi)臺)同步壓(ya)力連續(xu)測試(shi)粉(fen)末(mo)“電(dian)阻率-壓強曲(qu)線(xian),”。

          3. 配有成套PC軟件(jian),故(gu)不(bu)但可以單獨(脫機(ji))操(cao)作,還可以連接(jie)PC軟件(jian),自(zi)動(dong)保(bao)存當前(qian)測試(shi)數(shu)據、查詢(xun)並統(tong)計(ji)分析歷(li)史(shi)數據、打印(yin)測試(shi)報(bao)告等(deng)!

          4.儀器所(suo)有(you)參(can)數設定、功(gong)能轉換全部采用(yong)數字(zi)化鍵盤輸(shu)入(ru);具(ju)有(you)零位、滿度自(zi)校功能(neng);電(dian)壓電(dian)流(liu)全自動(dong)轉換量程(cheng);測試(shi)結(jie)果由(you)數(shu)字(zi)表(biao)頭直(zhi)接顯示(shi)。

          5. 可壹邊加壓壹邊同(tong)步測試(shi)電(dian)阻率,可方(fang)便(bian)測繪粉(fen)末(mo)樣(yang)品(pin)“電(dian)阻率-壓強”的性(xing)能曲(qu)線(xian);也(ye)可以單獨作為粉(fen)末(mo)壓(ya)制成片的工(gong)具使(shi)用(yong),成片後可脫(tuo)模取(qu)出,用(yong)普(pu)通四(si)探(tan)針(zhen)法(fa)測試(shi)相(xiang)關參(can)數!

          五、主(zhu)要技術參(can)數

          1. 電(dian)阻率測量(liang)範(fan)圍、分辨率

          電(dian) 阻 率: 15.0×10-6 ~ 200.0×103 Ω-cm  分辨率1.5×10-6 ~ 0.1×103  Ω-cm

          (1.0×10-6 ~ 200.0×101 Ω-cm  分辨率0.1×10-6 ~ 0.1×101  Ω-cm)

          2. 電(dian)阻率量程(cheng)劃分及誤差(cha)等(deng)級(ji)

           

          滿度顯(xian)示(shi)

          200.0

          20.00

          2.000

          200.0

          20.00

          2.000

          200.0

          20.00

          zui大拓(tuo)展(zhan)量程(cheng)

          KΩ-cm

          Ω-cm

          mΩ-cm

          基本(ben)誤差(cha)

          ±2%讀(du)數±4字(zi)

          ±1.5%讀(du)數±4字(zi)

          ±0.5%讀(du)數      ±2字(zi)

          ±0.5%讀(du)數

          ±4字(zi)

           

          3. 數字(zi)電(dian)壓表(biao):

          ⑴量程(cheng):10mV ~ 100 mV,自(zi)動(dong)

          ⑵顯示(shi): 4位(wei)有(you)效(xiao)數字(zi),zui大(da)顯示(shi)999.9     小(xiao)數(shu)點(dian)、單位自動(dong)顯(xian)示(shi)

          4. 數控(kong)恒(heng)流(liu)源

          電(dian)流(liu)輸(shu)出:直(zhi)流(liu)電(dian)流(liu)0.1µA~1000mA可調(tiao),系統(tong)自(zi)動(dong)步進(jin)調(tiao)整(zheng)。

          5.粉(fen)末(mo)測試(shi)臺部分參(can)數:

          (1)試(shi)樣(yang)成份(fen):成份(fen)不(bu)限,但不(bu)得含(han)有(you)對(dui)測試(shi)臺和(he)電(dian)極(ji)有(you)腐(fu)蝕作用(yong)的成份(fen)。

          (2)試(shi)樣(yang)粒(li)度:標(biao)準以40目以下(xia)—60目以上(shang)(標(biao)準篩(shai)網(wang)),壹般其(qi)他粒(li)度也(ye)可!

          (3)試(shi)樣(yang)容(rong)器:內(nei)徑(jing):Φ11.28mm(S=1.0cm2)

           度:0~20mm可(ke)調(tiao),帶高度傳(chuan)感器監(jian)測,測量(liang)誤差(cha):±0.05mm。

          (4)測試(shi)壓(ya)強:

          標準壓強:P0=4Mpa±0.05Mpa。
               壓強量(liang)程(cheng):20Mpa, P=0~20 Mpa可(ke)調(tiao)。
           (5)壓力(li)機(ji)構(gou)采用(yong)手動(dong)操(cao)作、壓(ya)力平穩(wen)可(ke)調(tiao)。

          四位(wei)有(you)效(xiao)顯示(shi)數(shu)00.00~20.00MPa,分別率±0.01 MPa。

          6.測試(shi)儀(yi)外(wai)形與重量(liang)

           積:250mm×220 mm×540mm

          重 量(liang)10Kg

          7. 電(dian)源:

          功 耗:< 10W

          輸(shu) 220V±10%   50Hz

          8. 本儀(yi)器工(gong)作條(tiao)件(jian)為:

          溫    度:0-40℃

          相(xiang)對(dui)濕度:≥60%

          工作室(shi)內應(ying)無(wu)強電(dian)磁場(chang)幹(gan)擾(rao),不(bu)與高頻(pin)設備共用(yong)電(dian)源。

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