高(gao)低溫(wen)激(ji)光導熱(re)測試(shi)儀采(cai)用壹(yi)束激(ji)光照射樣品(pin),用(yong)紅(hong)外(wai)檢(jian)測器測量樣品(pin)背(bei)面(mian)溫度的升(sheng)高(gao),是壹(yi)種快(kuai)速的(de)非(fei)接觸式測量熱(re)導(dao)率(lv)的(de)儀器。激(ji)光導熱(re)儀適用(yong)於(yu)絕(jue)大多(duo)數(shu)材料(liao)導熱(re)性能(neng)的測試(shi),絕(jue)熱(re)材(cai)料(liao)除外(wai)。激(ji)光導熱(re)儀尤其適用於(yu)高(gao)導熱(re)材(cai)料(liao)和高(gao)溫下(xia)的(de)導(dao)熱(re)性能(neng)的測試(shi),廣(guang)泛應(ying)用於(yu)材(cai)料(liao)、汽車(che)、航天、電子(zi)、化工(gong)、能源(yuan)等(deng)領域(yu),是目前生產(chan)單(dan)位(wei)和高(gao)等(deng)院(yuan)校的重要(yao)科研設(she)備。
主要(yao)特點:
1、消除了樣品(pin)外(wai)緣的幹擾信號(hao),可大大提(ti)高(gao)測量結果的(de)準確(que)度。
2、數據(ju)采(cai)集速率(lv),極窄的光脈沖寬度,允許(xu)測量薄的(de)高(gao)導熱(re)的(de)材料(liao)。
3、多種數(shu)學模(mo)型(xing)擬合,精(jing)確的脈沖寬度修正(zheng)與(yu)脈沖能量積(ji)分(fen),熱(re)損(sun)耗(hao)修正,內(nei)置(zhi)數據庫(ku)。
4、能(neng)實現真空(kong)測量和保(bao)護(hu)氣(qi)氛測量兩種(zhong)模式。
5、使(shi)用(yong)紅外(wai)檢(jian)測器,進行(xing)非接觸式的(de)樣品(pin)表(biao)面(mian)溫升(sheng)信號(hao)測試(shi)。
6、可進行(xing)多層接觸熱(re)阻(zu)分(fen)析,並計(ji)算(suan)熱(re)阻(zu)、熱(re)擴散(san)速率(lv)等(deng)參數(shu),使(shi)用(yong)已知比(bi)熱(re)的(de)標樣、通(tong)過(guo)比(bi)較法可計算(suan)比(bi)熱(re)。
維(wei)護(hu)保(bao)養(yang):
溫(wen)控(kong)系統(tong)維(wei)護(hu):
傳(chuan)感(gan)器校準:每(mei)季(ji)度使(shi)用(yong)標準黑(hei)體(ti)源(yuan)校準溫(wen)度傳(chuan)感(gan)器,確保(bao)偏(pian)差在(zai)允許(xu)範圍(wei)內(nei)。
加熱(re)/制(zhi)冷模塊(kuai):檢(jian)查加熱(re)端(duan)子氧化情況(kuang),必(bi)要(yao)時用(yong)細砂(sha)紙打(da)磨;液氮(dan)制(zhi)冷設(she)備需每周(zhou)檢(jian)查液(ye)位與管路(lu)保(bao)溫(wen)層(ceng),防(fang)止(zhi)冷量損(sun)耗(hao)。
環境(jing)與(yu)操作規範:
溫(wen)濕度控(kong)制(zhi):確(que)保(bao)測試(shi)環(huan)境(jing)穩(wen)定,避免高(gao)溫或(huo)潮(chao)濕影(ying)響(xiang)設(she)備精(jing)度。
樣品(pin)安裝:檢(jian)查樣品(pin)與(yu)傳(chuan)感(gan)器接觸良(liang)好(hao),參(can)數(shu)輸(shu)入(ru)準確(que),減少測量誤差。
定期深度維(wei)護(hu):
電氣(qi)系(xi)統(tong):檢(jian)查線(xian)路老(lao)化、絕(jue)緣狀態,防(fang)止(zhi)漏電或短路(lu)。
性能(neng)檢(jian)測:每(mei)年(nian)由(you)專(zhuan)業(ye)人(ren)員校準關(guan)鍵部件(jian)(如壓(ya)縮(suo)機(ji)、數(shu)據(ju)采(cai)集系統(tong)),並記(ji)錄(lu)維(wei)護(hu)日誌(zhi)。