ZJ-3型(xing)精密(mi)D333

測(ce)試儀

ZJ-3型(xing)壓電(dian)測(ce)試儀（靜(jing)壓(ya)電(dian)系數(shu)d33測(ce)量儀）是(shi)為(wei)測(ce)量壓電(dian)材料(liao)的(de)d33常(chang)數(shu)而(er)設計(ji)的(de)專(zhuan)用(yong)儀器，它可(ke)用(yong)來測(ce)量具有大(da)壓電(dian)常數(shu)的(de)壓(ya)電(dian)陶瓷(ci)，小(xiao)壓電(dian)常數(shu)的(de)壓(ya)電(dian)單晶(jing)及(ji)壓(ya)電(dian)高分(fen)子(zi)材料(liao)。此外(wai)，也(ye)可(ke)測(ce)量任意(yi)取(qu)向(xiang)壓電(dian)單晶(jing)以及(ji)某些壓(ya)電(dian)器件的(de)等(deng)效(xiao)壓電(dian)d’33常數(shu)，儀(yi)器測(ce)量範圍(wei)寬，分(fen)辨(bian)率(lv)細(xi)，可(ke)靠(kao)性高，操(cao)作(zuo)簡(jian)單(dan)，對(dui)試(shi)樣(yang)大小(xiao)及(ji)形(xing)狀無(wu)特殊要(yao)求，圓片(pian)、圓(yuan)環(huan)、圓(yuan)管(guan)、方塊、長(chang)條(tiao)、柱(zhu)形(xing)及(ji)半球殼(ke)等(deng)均可(ke)測(ce)量，測(ce)量結(jie)果和極(ji)性在三(san)位(wei)半數(shu)字(zi)面(mian)板表上(shang)直接(jie)顯(xian)示(shi)。ZJ-3型增(zeng)加了(le)對被測(ce)元件的(de)放(fang)電(dian)保(bao)護、放(fang)電(dian)提示(shi)以及(ji)被測(ce)波(bo)形輸出(chu)等(deng)功能(neng)，使得儀器在測(ce)量未(wei)放(fang)電(dian)（尤其(qi)是(shi)較(jiao)大尺(chi)寸）的(de)壓(ya)電(dian)元件(jian)時具備(bei)了(le)高電(dian)壓放(fang)電(dian)提示(shi)及(ji)保(bao)護功能(neng)，本儀(yi)器是從(cong)事(shi)壓(ya)電(dian)材料(liao)及(ji)壓(ya)電(dian)元件(jian)生(sheng)產(chan)、應(ying)用(yong)與研(yan)究部門的(de)儀(yi)器。

d33測(ce)量範圍(wei)：

×1擋(dang)：10到2000pC/N，20 至4000pC/N，可(ke)以升級到10000PC/N.
  ×0.1擋(dang)： 1到200pC/N，2 至400pC/N。

可(ke)配D31塊(kuai)體(ti)夾具，D15塊(kuai)體(ti)夾具，D15圓(yuan)管(guan)夾具，薄膜拉伸(shen)夾具

可(ke)以配套(tao)PZT-JH10/4/8/12型壓(ya)電(dian)極(ji)化(hua)裝置(zhi)使用(yong)

可(ke)以配套(tao)ZJ-D33-YP15壓電(dian)壓片(pian)機使用(yong)
  誤差(cha)：×1擋(dang)：±2%±1個(ge)數(shu)字(zi)，當(dang)d33在100到4000pC/N；

計(ji)量(liang)標(biao)定標(biao)準樣尺(chi)寸：18mm*0.8mm，老化(hua)時間(jian)：2-3年(nian)（評(ping)判(pan)壓(ya)電(dian)測(ce)試儀準(zhun)確(que)性能(neng)的(de)重(zhong)要(yao)依據(ju)之(zhi)壹）
  ±5%±1個(ge)數(shu)字(zi)，當(dang)d33在10到200pC/N；
  ×0.1擋(dang)：±2%±1個(ge)數(shu)字(zi)，(當(dang)d33在10到200pC/N)
  ±5%±1個(ge)數(shu)字(zi)，當(dang)d33在10到20pC/N。
  分(fen)辨(bian)率(lv)：   ×1擋(dang)：1 pC/N；×0.1擋(dang)：0.1   pC/N。
  尺寸：施力裝置(zhi)：Φ110×140mm；儀器本體(ti)：240×200×80mm。
  重(zhong)量：施力裝置(zhi)：約(yue)4公斤(jin)；      
  儀(yi)器本體(ti)：2公斤(jin)。
  電(dian)源：220伏(fu)，50赫(he)，20瓦。

補(bu)充參(can)數(shu):

TDZT-04C鐵電(dian)性能(neng)綜(zong)合測(ce)試系統(tong)

TDZT-04C鐵電(dian)性能(neng)綜(zong)合測(ce)試系統(tong)是最(zui)新壹代鐵電(dian)材料(liao)參(can)數(shu)測(ce)試儀適(shi)用(yong)於鐵電(dian)薄膜、鐵電(dian)體(ti)材料(liao)（既(ji)可(ke)塊(kuai)體(ti)材料(liao)）的(de)電(dian)性能(neng)測(ce)量，可(ke)測(ce)量鐵電(dian)薄膜電(dian)滯回線(xian)、I—V特性及(ji)開關(guan)特性，可(ke)精確地(di)測(ce)出(chu)具有非(fei)對(dui)稱(cheng)電(dian)滯回線(xian)鐵電(dian)薄膜的(de)Pr值。可(ke)測(ce)鐵電(dian)體(ti)材料(liao)的(de)電(dian)滯回線(xian)及(ji)I—V特性。

主要(yao)技(ji)術指標(biao)：

1.輸出(chu)信(xin)號(hao)電(dian)壓：：薄膜：0～±10V 陶瓷(ci)、材料(liao)：0～±2000V

2.輸出(chu)信(xin)號(hao)頻率：薄膜材料(liao)1-1000HZ，陶(tao)瓷：0-1Hz

3.電(dian)容(rong)範圍(wei)：1000nf～ 100nf, 精度(du): ≤1%。

4.電(dian)流範圍(wei): 1nA～10A ,精度(du): ≤1%。

5、測(ce)試樣品(pin)：0-20mm  5個(ge)

6、高(gao)壓樣品(pin)池：開放(fang)式(shi)：8CM*5CM

7、三(san)維移(yi)動薄膜測(ce)試平臺：直(zhi)立(li)式(shi)探(tan)針壹套(tao)

8、電(dian)流：1-10倍放(fang)大(da)，信(xin)號(hao)：1-20倍(bei)。.數(shu)據(ju)結(jie)口：USB或(huo)BNC接口(kou)。

9. 數(shu)據(ju)采(cai)集(ji)分(fen)析(xi)軟(ruan)件(jian)： 能(neng)畫(hua)出(chu)鐵電(dian)薄膜的(de)電(dian)滯回線(xian)，定量得到鐵電(dian)薄膜材料(liao)的(de)飽(bao)和(he)極(ji)化(hua)Ps、剩余(yu)極(ji)化(hua)Pr、矯頑(wan)場(chang)Ec、漏電(dian)流等參(can)數(shu);可(ke)以進(jin)行(xing)鐵電(dian)薄膜材料(liao)的(de)鐵電(dian)疲勞(lao)性能(neng)、鐵電(dian)保(bao)持(chi)性能(neng)的(de)測(ce)試，電(dian)阻測(ce)量，漏電(dian)流測(ce)量。

10.可(ke)以配合ZJ-3和(he)ZJ-6型壓電(dian)測(ce)試儀操(cao)作(zuo)系統(tong)

PZT-JH10/4壓(ya)電(dian)極(ji)化(hua)裝置(zhi)（10KV以下壓電(dian)陶瓷(ci)同(tong)時極(ji)化(hua)1-4片(pian)）

PZT-JH10/4壓(ya)電(dian)極(ji)化(hua)裝置(zhi)（10KV以下壓電(dian)陶瓷(ci)同(tong)時極(ji)化(hua)1-4片(pian)）

關(guan)鍵(jian)詞(ci)：壓電(dian)極(ji)化(hua)，壓電(dian)陶瓷(ci)材料(liao)，1-4片(pian)

主要(yao)特點(dian)：

1.能(neng)夠(gou)同時極(ji)化(hua)1-4片(pian)試(shi)樣(yang)

2.提(ti)供多套(tao)測(ce)試夾具（可(ke)以測(ce)試粉末，單(dan)樣品(pin)，及(ji)薄的(de)壓(ya)電(dian)陶瓷(ci)片(pian)）

2. 安全(quan)可(ke)靠(kao)，溫(wen)度(du)補(bu)償快(kuai)、恒溫(wen)精度(du)高(gao)

3. 每(mei)路(lu)當(dang)漏電(dian)流超過(guo)規定值時，都(dou)具有切斷保(bao)護功能(neng)，不影響(xiang)其(qi)它樣(yang)片(pian)的(de)極(ji)化(hua)，其它(ta)回路(lu)可(ke)按(an)正(zheng)常極(ji)化(hua)時間(jian)完成極(ji)化(hua)。

4. 任(ren)意夾持樣品(pin)尺寸為(wei)0-40mm片(pian)方(fang)型(xing)或(huo)是(shi)圓型試樣(yang)

7、工作(zuo)電(dian)源：AC220V  50/60HZ

8、額定功率：2.0kw

9、壓(ya)電(dian)材料(liao)極(ji)化(hua)或耐壓(ya)測(ce)試：DC：0-10KV（±5％+2個(ge)字(zi)）連(lian)續(xu)可(ke)調(tiao)

10、總(zong)電(dian)流：10mA

11、每(mei)路(lu)切斷電(dian)流：0.5mA

12、加熱時間(jian)：可(ke)以自(zi)動設定

13、加熱元件(jian) ：優(you)質(zhi)電(dian)阻絲

14、1次(ci)測(ce)試試樣(yang)數(shu)量(liang):可(ke)加載(zai)1-4片(pian)試(shi)樣(yang)

15、額定溫(wen)度(du) ：≤180℃

16、最(zui)高溫(wen)度(du) ：200℃

17、控(kong)溫(wen)方(fang)式(shi) ：智能(neng)化(hua)恒溫(wen)控(kong)制(zhi)（進(jin)口(kou)表），多段(duan)程(cheng)序(xu)可(ke)控(kong)

18、樣(yang)片(pian) ：樣(yang)品(pin)尺寸為(wei)3-40mm片(pian)方(fang)型(xing)或(huo)是(shi)圓型試樣(yang)

19、外(wai)形尺寸 ： 875*470*400（mm)

20、極(ji)化(hua)探(tan)頭(tou)：優(you)質(zhi)銅電(dian)極(ji)（0.2mm）

21、標(biao)準極(ji)化(hua)樣品(pin)：8片(pian)（10mm*1.5mm）

21、配套(tao)設備(bei)裝(zhuang)置(zhi)：能(neng)夠(gou)配合ZJ-3和(he)ZJ-6壓電(dian)測(ce)試儀進(jin)行(xing)測(ce)量

22、配套(tao)設備(bei)裝(zhuang)置(zhi)：可(ke)以配置(zhi)10MM，20MM，30MM，40MM壓片(pian)夾具

JKZC-YDZK03A

Dielectric tester型(xing)

壓(ya)電(dian)阻抗

測(ce)試儀

JKZC-YDZK03A Dielectric   tester型(xing)壓電(dian)阻抗測(ce)試儀

關(guan)鍵(jian)詞(ci)：介電(dian)常數(shu)，諧(xie)振(zhen)頻率Fp，機電(dian)耦合系數(shu)Keff，機械品(pin)質(zhi)因素(su) Qm

JKZC-YDZK03A   Dielectric tester型(xing)介電(dian)測(ce)試儀是(shi)壹款多功(gong)能(neng)的(de)介電(dian)測(ce)試儀，即(ji)可(ke)測(ce)試包(bao)括(kuo)介電(dian)常數(shu)、介電(dian)損耗(hao)、電(dian)容(rong)等參(can)數(shu)，又(you)可(ke)以測(ce)量諧(xie)振(zhen)頻率Fs，反諧(xie)振(zhen)頻率Fp，機電(dian)耦合系數(shu)   Keff，機械品(pin)質(zhi)因素(su) Qm，最(zui)大導(dao)納(na)Gmax等(deng)材料(liao)參(can)數(shu)，為(wei)材料(liao)研(yan)究測(ce)試提供(gong)第壹手原(yuan)始(shi)數(shu)據(ju)，提(ti)供(gong)元(yuan)整(zheng)的(de)數(shu)據(ju)圖(tu)，是(shi)高(gao)等(deng)院(yuan)校(xiao)，科(ke)研(yan)院(yuan)所(suo)及(ji)材料(liao)研(yan)究生(sheng)產(chan)的(de)重(zhong)要(yao)工具,同(tong)時還(hai)可(ke)以配合高(gao)溫(wen)設備(bei)，進(jin)行(xing)高(gao)溫(wen)設備(bei)測(ce)試。

壹、主要(yao)特點(dian)：

自(zi)動平(ping)衡(heng)技(ji)術(shu)電(dian)橋，測(ce)量準確(que)度(du)高(gao)

4端(duan)對開爾(er)文(wen)測(ce)試端(duan)，測(ce)量範圍(wei)準(zhun)確(que)度(du)高(gao)

提(ti)供內(nei)部直流偏(pian)壓-5V～+5V

可(ke)選配內(nei)部±40V偏(pian)置(zhi)電(dian)壓源(yuan)

簡(jian)體(ti)中文(wen)、英(ying)文操(cao)作(zuo)語(yu)言(yan)

分(fen)檔測(ce)量、列表掃描(miao)、繪(hui)圖(tu)掃描(miao)、開路(lu)、短(duan)路(lu)、負(fu)載(zai)校(xiao)正(zheng)等等(deng)功(gong)能(neng)

配備(bei)電(dian)導(dao)率(lv)σ·介電(dian)常數(shu)ε的(de)運算(suan)功能(neng)

進(jin)行(xing)測(ce)試數(shu)據(ju)、測(ce)試條件(jian)保(bao)存（U盤或內(nei)部）

繪(hui)圖(tu)掃描(miao)圖(tu)像(xiang)直(zhi)接(jie)拷(kao)屏(ping)到U盤(pan)功(gong)能(neng)

加強(qiang)的(de)測(ce)試端(duan)保(bao)護功能(neng)

USB、GPIB、RS232、LAN等(deng)上(shang)位(wei)機連(lian)接(jie)接(jie)口(kou)

二(er)、主要(yao)技(ji)術參(can)數(shu)

1、頻率：20HZ-1MHZ,5MHZ,10MHZ,15MHZ,30MHZ，50MHZ多種可(ke)選

2、D33測(ce)試範圍(wei)：0-6000PC/N(選配ZJ-3型(xing)精密(mi)壓(ya)電(dian)系數(shu)測(ce)試儀)

5、基(ji)本精度(du) ：0.05%

6、測(ce)試電(dian)平: 5mV—2Vrms

7、輸出(chu)阻(zu)抗: 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

8、測(ce)試參(can)數(shu)：D33，電(dian)容(rong)，介電(dian)常數(shu)，諧(xie)振(zhen)頻率Fs，反諧(xie)振(zhen)頻率Fp，機電(dian)耦合系數(shu)   Keff，機械品(pin)質(zhi)因素(su) Qm，最(zui)大導(dao)納(na)Gmax等(deng)

9、通(tong)道(dao)數(shu)：1通(tong)道(dao)

10、電(dian)極(ji)： 雙面(mian)夾持探(tan)針

11、軟(ruan)件：自(zi)動計(ji)算(suan)並輸出(chu)數(shu)據(ju)，軟(ruan)件(jian)可(ke)根(gen)據(ju)實驗(yan)方(fang)案設計(ji)，通(tong)過(guo)測(ce)量C和D值，自(zi)動完成介電(dian)常數(shu)和(he)介電(dian)損耗(hao)隨(sui)頻率、電(dian)壓、偏(pian)壓多維變(bian)化(hua)的(de)曲(qu)線(xian)。

FTZD-120小(xiao)型柔(rou)性折疊(die)測(ce)試系統(tong)

FTZD-120小(xiao)型柔(rou)性折疊(die)測(ce)試系統(tong)

柔(rou)性電(dian)子的(de)出(chu)現(xian)為(wei)經典電(dian)子學的(de)發(fa)展提(ti)供(gong)了(le)新(xin)的(de)方(fang)向(xiang)，觸發(fa)了(le)新(xin)形態電(dian)子設備(bei)的(de)產(chan)生。然而(er)，電(dian)子材料(liao)與器件由剛向(xiang)柔(rou)轉變(bian)過(guo)程(cheng)中，傳(chuan)統(tong)的(de)剛性測(ce)試方法(fa)變(bian)得無(wu)法(fa)適(shi)應(ying)，而(er)相(xiang)匹(pi)配的(de)柔(rou)性測(ce)試體(ti)系對(dui)推進(jin)柔(rou)性電(dian)子行(xing)業的(de)發(fa)展變(bian)得。在柔(rou)性電(dian)子材料(liao)與器件的(de)測(ce)試過(guo)程(cheng)中，尤其(qi)是(shi)在(zai)柔(rou)性電(dian)子材料(liao)與器件開發(fa)驗(yan)證(zheng)的(de)初期階段,發(fa)展-種高自(zi)由度(du)的(de)模(mo)塊(kuai)化(hua)柔(rou)性材料(liao)與器件測(ce)試系統(tong),對(dui)於提升開發(fa)驗(yan)證(zheng)效(xiao)率和降(jiang)低(di)測(ce)試成本具有重(zhong)要(yao)意(yi)義。

產(chan)品(pin)特點(dian)

[1]滿(man)足(zu)GB/T 38001.61-2019柔(rou)性顯(xian)示(shi)器件第6-1部分(fen):機械應(ying)力試驗(yan)方(fang)法(fa);

[2]萬(wan)次連(lian)續(xu)測(ce)試、操(cao)作(zuo)簡(jian)便(bian)無(wu)需培(pei)訓(xun);

[3]體(ti)積(ji)小(xiao)巧、適用(yong)於展臺、試(shi)驗(yan)中心手套(tao)箱、實驗(yan)室(shi)等(deng)。

適(shi)用(yong)範圍(wei)：

適(shi)用(yong)於小(xiao)面積(ji)柔(rou)性薄膜、柔(rou)性器件的(de)柔(rou)性測(ce)試;

柔(rou)性電(dian)子教(jiao)學機、柔(rou)性電(dian)子展示(shi)機。

亮(liang)點(dian)：體(ti)積(ji)小(xiao)巧；柔(rou)性電(dian)子教(jiao)學機、展示(shi)機。

技(ji)術參(can)數(shu)：

樣(yang)品(pin)尺寸(mm)：Max (50*120)

樣(yang)品(pin)厚度(du)(mm)：0-1.0

折(zhe)疊角度(du)(°)：0- 180.0

折(zhe)疊角度(du)(°)：0-90.0

折(zhe)疊半徑(mm)：0.5- -5.0

折(zhe)疊速度(du)(/s)：0-90.0

重(zhong)量(Kg)：10

電(dian)源：AC(100-200V 50Hz/60Hz)

傳(chuan)動比：1: 1

功(gong)率：200W

最(zui)大電(dian)壓：64V,

額定電(dian)流：8A

電(dian)壓:1mV.

電(dian)流:1MA

電(dian)壓電(dian)流每秒各(ge):50/25/10/5/1次(ci)

可(ke)調(tiao):0.05%+3個(ge)字(zi)小(xiao)於30PPM

電(dian)壓基(ji)準(zhun):1000小(xiao)時25PPM,

分(fen)壓(ya)電(dian)阻:額定功率1000小(xiao)時+0.05%,檢(jian)流電(dian)阻:額定功率1000小(xiao)時+0.5%

表頭(tou)供(gong)電(dian)隔(ge)離(li)，測(ce)量通(tong)道(dao)正(zheng)負(fu)極(ji)反接(jie)不燒(shao)，輸入(ru)輸出(chu)反接(jie)不燒(shao)，正(zheng)負(fu)極(ji)和(he)輸入(ru)輸出(chu)都(dou)反接(jie)也(ye)不燒(shao)

電(dian)壓電(dian)流數(shu)據(ju)采(cai)集(ji)軟(ruan)件(jian)實時監測(ce)

FTWQ-50小(xiao)型柔(rou)性彎(wan)曲(qu)測(ce)試系統(tong)

FTWQ-50小(xiao)型柔(rou)性彎(wan)曲(qu)測(ce)試系統(tong)

柔(rou)性電(dian)子的(de)出(chu)現(xian)為(wei)經典電(dian)子學的(de)發(fa)展提(ti)供(gong)了(le)新(xin)的(de)方(fang)向(xiang)，觸發(fa)了(le)新(xin)形態電(dian)子設備(bei)的(de)產(chan)生。然而(er)，電(dian)子材料(liao)與器件由剛向(xiang)柔(rou)轉變(bian)過(guo)程(cheng)中，傳(chuan)統(tong)的(de)剛性測(ce)試方法(fa)變(bian)得無(wu)法(fa)適(shi)應(ying)，而(er)相(xiang)匹(pi)配的(de)柔(rou)性測(ce)試體(ti)系對(dui)推進(jin)柔(rou)性電(dian)子行(xing)業的(de)發(fa)展變(bian)得。在柔(rou)性電(dian)子材料(liao)與器件的(de)測(ce)試過(guo)程(cheng)中，尤其(qi)是(shi)在(zai)柔(rou)性電(dian)子材料(liao)與器件開發(fa)驗(yan)證(zheng)的(de)初期階段，發(fa)展壹種高自(zi)由度(du)的(de)模(mo)塊(kuai)化(hua)柔(rou)性材料(liao)與器件測(ce)試系統(tong),對於(yu)提升開發(fa)驗(yan)證(zheng)效(xiao)率和降(jiang)低(di)測(ce)試成本具有重(zhong)要(yao)意(yi)義。適(shi)用(yong)於小(xiao)面積(ji)薄膜、器件的(de)精密(mi)拉(la)伸/彎(wan)曲(qu)測(ce)試。

產(chan)品(pin)特點(dian):

符(fu)合：滿(man)足(zu)GB/T 38001.61-2019柔(rou)性顯(xian)示(shi)器件第61部分(fen):機械應(ying)力試驗(yan)方(fang)法(fa);

產(chan)品(pin)特點(dian)：

壹體(ti)化(hua)設計(ji)，試(shi)驗(yan)臺式(shi)，體(ti)積(ji)小(xiao)，占地(di)空(kong)間(jian)小(xiao)

操(cao)作(zuo)簡(jian)單(dan)，壹鍵(jian)式(shi)操(cao)作(zuo)，可(ke)以多次(ci)連(lian)續(xu)拉伸(shen)

能(neng)夠(gou)在勝任多種不同環(huan)境(jing)，手(shou)套(tao)箱、實驗(yan)室(shi)

百(bai)萬次連(lian)續(xu)測(ce)試、操(cao)作(zuo)簡(jian)便(bian)、無(wu)需培(pei)訓(xun); 展臺、試(shi)驗(yan)中心等空(kong)間(jian)狹(xia)小(xiao)地方(fang)

適(shi)用(yong)範圍(wei)：

適(shi)用(yong)於小(xiao)面積(ji)柔(rou)性薄膜、柔(rou)性器件的(de)柔(rou)性拉伸(shen)測(ce)試;

柔(rou)性電(dian)子教(jiao)學機、柔(rou)性電(dian)子展示(shi)機。

適(shi)用(yong)範圍(wei)/ APPLICATION

適(shi)用(yong)於小(xiao)面積(ji)柔(rou)性薄膜、柔(rou)性器件的(de)柔(rou)性測(ce)試

技(ji)術參(can)數(shu)

彎(wan)曲(qu)半徑(mm)：0-50

樣(yang)品(pin)寬度(du)(ml,)：0-50.0

樣(yang)品(pin)厚度(du)(mm)：0-4.0

彎(wan)曲(qu)速度(du)(mm/s)：0-60.0

精度(du)(mm) ：0.05

重(zhong)量(kg)：10

電(dian)源：AC(100-200V 50Hz/60Hz)

傳(chuan)動比：1:1

功(gong)率(W)：200

整(zheng)機尺寸(mm)：410*250*280

可(ke)以配置(zhi)電(dian)阻表進(jin)行(xing)電(dian)壓，電(dian)流等項(xiang)目(mu)測(ce)試

最(zui)大電(dian)壓：64V,

額定電(dian)流：8A

電(dian)壓:1mV.

電(dian)流:1MA

電(dian)壓電(dian)流每秒各(ge):50/25/10/5/1次(ci)

可(ke)調(tiao):0.05%+3個(ge)字(zi)小(xiao)於30PPM

電(dian)壓基(ji)準(zhun):1000小(xiao)時25PPM,

分(fen)壓(ya)電(dian)阻:額定功率1000小(xiao)時+0.05%,檢(jian)流電(dian)阻:額定功率1000小(xiao)時+0.5%

表頭(tou)供(gong)電(dian)隔(ge)離(li)，測(ce)量通(tong)道(dao)正(zheng)負(fu)極(ji)反接(jie)不燒(shao)，輸入(ru)輸出(chu)反接(jie)不燒(shao)，正(zheng)負(fu)極(ji)和(he)輸入(ru)輸出(chu)都(dou)反接(jie)也(ye)不燒(shao)

電(dian)壓電(dian)流數(shu)據(ju)采(cai)集(ji)軟(ruan)件(jian)實時監測(ce)

FTLS-100型(xing)小(xiao)型柔(rou)性拉伸(shen)測(ce)試系統(tong)

FTLS-100型(xing)小(xiao)型柔(rou)性拉伸(shen)測(ce)試系統(tong)

FTLS-100型(xing)小(xiao)型柔(rou)性拉伸(shen)測(ce)試系統(tong)是壹款應(ying)用(yong)於適(shi)用(yong)於小(xiao)面積(ji)柔(rou)性薄膜、柔(rou)性器件的(de)柔(rou)性測(ce)試;柔(rou)性電(dian)子教(jiao)學機、柔(rou)性電(dian)子展示(shi)機。

滿(man)足(zu)GB/T   38001.61-2019柔(rou)性顯(xian)示(shi)器件第6-1部分(fen)：機械應(ying)力試驗(yan)方(fang)法(fa)；百(bai)萬次連(lian)續(xu)測(ce)試，操(cao)作(zuo)簡(jian)便(bian)、無(wu)需培(pei)訓(xun)；體(ti)積(ji)小(xiao)巧，適用(yong)於展臺、試(shi)驗(yan)中心、手套(tao)箱、實驗(yan)室(shi)等(deng)。

符(fu)合：滿(man)足(zu)GB/T 38001.61-2019柔(rou)性顯(xian)示(shi)器件第61部分(fen):機械應(ying)力試驗(yan)方(fang)法(fa);

產(chan)品(pin)特點(dian)：

壹體(ti)化(hua)設計(ji)，試(shi)驗(yan)臺式(shi)，體(ti)積(ji)小(xiao)，占地(di)空(kong)間(jian)小(xiao)

操(cao)作(zuo)簡(jian)單(dan)，壹鍵(jian)式(shi)操(cao)作(zuo)，可(ke)以多次(ci)連(lian)續(xu)拉伸(shen)

能(neng)夠(gou)在勝任多種不同環(huan)境(jing)，手(shou)套(tao)箱、實驗(yan)室(shi)

百(bai)萬次連(lian)續(xu)測(ce)試、操(cao)作(zuo)簡(jian)便(bian)、無(wu)需培(pei)訓(xun); 展臺、試(shi)驗(yan)中心等空(kong)間(jian)狹(xia)小(xiao)地方(fang)

適(shi)用(yong)範圍(wei)：

適(shi)用(yong)於小(xiao)面積(ji)柔(rou)性薄膜、柔(rou)性器件的(de)柔(rou)性拉伸(shen)測(ce)試;

柔(rou)性電(dian)子教(jiao)學機、柔(rou)性電(dian)子展示(shi)機。

。

技(ji)術參(can)數(shu)：

測(ce)試長(chang)度(du)(mm)：0-100.0；

測(ce)試寬度(du)(mm)：0-50.0

樣(yang)品(pin)厚度(du)(mm)：0-4.0

最(zui)大運行(xing)速(su)度(du)(mm/s)：0-60.0

精度(du)(mm)：0.05

重(zhong)量(kg)：10

電(dian)源：AC(100-200V 50Hz/60Hz)

傳(chuan)動比：1: 1

功(gong)率：200w

整(zheng)機尺寸(mm)：410*260*215

最(zui)大電(dian)壓：64V,

額定電(dian)流：8A

電(dian)壓:1mV.

電(dian)流:1MA

電(dian)壓電(dian)流每秒各(ge):50/25/10/5/1次(ci)

可(ke)調(tiao):0.05%+3個(ge)字(zi)小(xiao)於30PPM

電(dian)壓基(ji)準(zhun):1000小(xiao)時25PPM,

分(fen)壓(ya)電(dian)阻:額定功率1000小(xiao)時+0.05%,檢(jian)流電(dian)阻:額定功率1000小(xiao)時+0.5%

表頭(tou)供(gong)電(dian)隔(ge)離(li)，測(ce)量通(tong)道(dao)正(zheng)負(fu)極(ji)反接(jie)不燒(shao)，輸入(ru)輸出(chu)反接(jie)不燒(shao)，正(zheng)負(fu)極(ji)和(he)輸入(ru)輸出(chu)都(dou)反接(jie)也(ye)不燒(shao)

電(dian)壓電(dian)流數(shu)據(ju)采(cai)集(ji)軟(ruan)件(jian)實時監測(ce)