鐵電(dian)測試儀測試系(xi)統主(zhu)要(yao)包(bao)括(kuo)以(yi)下部(bu)分(fen)：
1.可編程(cheng)信號源：用於產生特定頻(pin)率(lv)、幅度和(he)相位(wei)的(de)交(jiao)流電信號，這(zhe)些(xie)信號將被施(shi)加(jia)到待(dai)測鐵電(dian)樣品(pin)上，以(yi)評估(gu)其性(xing)能。
2.微(wei)電流放大(da)器(qi)：用於放大(da)從(cong)樣(yang)品(pin)中(zhong)檢(jian)測到的微弱電流信號，以(yi)便後(hou)續(xu)的(de)測量和(he)分(fen)析(xi)。
3.積(ji)分(fen)器(qi)：對放大(da)器(qi)輸出(chu)的(de)信號進行(xing)積(ji)分(fen)處(chu)理，以(yi)獲取(qu)與(yu)樣(yang)品(pin)極(ji)化(hua)相(xiang)關的(de)信息。
4.放大(da)倍(bei)數(shu)可編程(cheng)放大(da)器(qi)：根據(ju)測試需求(qiu)調(tiao)整(zheng)信號的放大(da)倍(bei)數(shu)，提(ti)高測量的(de)靈(ling)活性(xing)和(he)精度。
5.模/數轉換(huan)器(qi)（ADC）與(yu)數(shu)/模轉換(huan)器(qi)（DAC）：ADC將模擬信號轉換(huan)為數(shu)字(zi)信號，便於(yu)計算(suan)機(ji)處(chu)理；DAC則在需要(yao)時(shi)將數(shu)字(zi)信號轉換(huan)回(hui)模擬信號。
6.微機(ji)接口(kou)部(bu)分(fen)：實(shi)現測試系(xi)統與(yu)計(ji)算機之間的(de)數(shu)據(ju)傳輸和(he)通信，使用戶能(neng)夠(gou)通過計算機控(kong)制測試過程(cheng)並(bing)接收測試數據(ju)。
7.微(wei)機：作(zuo)為(wei)整個(ge)測試系(xi)統的(de)控(kong)制(zhi)中心(xin)，負(fu)責(ze)運(yun)行(xing)測試軟(ruan)件(jian)、處(chu)理數據(ju)和(he)顯(xian)示結果(guo)。
8.鐵電(dian)測試儀應(ying)用軟(ruan)件(jian)：提(ti)供用戶界(jie)面，方便用戶設(she)置測試參數、監控測試進度和(he)處(chu)理測試數據(ju)。軟(ruan)件(jian)通(tong)常(chang)具有(you)數據(ju)采集(ji)、分(fen)析(xi)、存儲和(he)導出(chu)等(deng)功(gong)能。
9.高壓放大(da)器(qi)：能夠(gou)提(ti)供所(suo)需的(de)高壓電場來(lai)驅(qu)動鐵電(dian)材料(liao)的(de)極(ji)化(hua)，例(li)如 ATA-7050 高壓放大(da)器(qi)可以(yi)輸出(chu)最(zui)高±5kVp 的電壓，並(bing)且具有(you)可調節(jie)的電(dian)壓(ya)增(zeng)益。
10.變溫(wen)綜合(he)測試平臺或高低(di)溫(wen)探針(zhen)臺：用於在不同溫度條(tiao)件(jian)下(xia)進(jin)行(xing)材(cai)料(liao)性(xing)能測試，確保(bao)數據(ju)的(de)準確性(xing)和(he)可靠(kao)性(xing)。
11.測試夾(jia)具：用來固定和(he)定位(wei)待(dai)測鐵電(dian)樣品(pin)，通(tong)常(chang)由(you)具有(you)高絕緣(yuan)性(xing)能的(de)材料(liao)制(zhi)成，以(yi)避免(mian)測試過程(cheng)中(zhong)發(fa)生電擊或樣(yang)品(pin)位(wei)移(yi)。
12.輔(fu)助設(she)備(bei)：如電源(yuan)、信號調理(li)器(qi)、屏(ping)蔽箱等(deng)，用於提(ti)供穩定的(de)電(dian)源、調(tiao)整信號幅度和(he)減小(xiao)外界幹擾，以(yi)確保(bao)測試過程(cheng)的(de)順利進行和(he)測試結果(guo)的(de)準確性(xing)。
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