ZJ-3型(xing)精(jing)密(mi)D333

測(ce)試儀(yi)

ZJ-3型壓電(dian)測(ce)試儀(yi)（靜壓電(dian)系(xi)數(shu)d33測(ce)量(liang)儀(yi)）是為測(ce)量(liang)壓電(dian)材(cai)料的d33常(chang)數(shu)而(er)設(she)計(ji)的(de)專用(yong)儀(yi)器，它可(ke)用(yong)來(lai)測(ce)量(liang)具(ju)有(you)大(da)壓電(dian)常(chang)數(shu)的(de)壓電(dian)陶(tao)瓷(ci)，小(xiao)壓電(dian)常(chang)數(shu)的(de)壓電(dian)單(dan)晶及(ji)壓電(dian)高分子(zi)材(cai)料。此(ci)外(wai)，也(ye)可(ke)測(ce)量(liang)任意取向(xiang)壓電(dian)單(dan)晶以(yi)及某些壓電(dian)器件的(de)等(deng)效(xiao)壓電(dian)d’33常(chang)數(shu)，儀(yi)器測(ce)量(liang)範(fan)圍寬，分辨(bian)率(lv)細(xi)，可(ke)靠性高，操作(zuo)簡(jian)單(dan)，對(dui)試樣大(da)小及形(xing)狀無(wu)特(te)殊(shu)要求(qiu)，圓(yuan)片(pian)、圓環、圓(yuan)管(guan)、方塊(kuai)、長條、柱形及半球(qiu)殼(ke)等(deng)均(jun)可(ke)測(ce)量(liang)，測(ce)量(liang)結果和(he)極性在(zai)三位(wei)半數(shu)字面板表上(shang)直接(jie)顯示。ZJ-3型(xing)增(zeng)加(jia)了(le)對(dui)被測(ce)元件(jian)的(de)放電(dian)保(bao)護、放電(dian)提(ti)示以(yi)及被測(ce)波形(xing)輸出(chu)等(deng)功(gong)能，使得儀(yi)器在(zai)測(ce)量(liang)未(wei)放電(dian)（尤(you)其(qi)是較大(da)尺寸）的壓電(dian)元件(jian)時具(ju)備了(le)高電(dian)壓放電(dian)提(ti)示及(ji)保護功能(neng)，本(ben)儀(yi)器是從事壓電(dian)材(cai)料及壓電(dian)元件(jian)生(sheng)產(chan)、應(ying)用(yong)與(yu)研(yan)究(jiu)部(bu)門的(de)儀(yi)器。

d33測(ce)量(liang)範(fan)圍：

 ×1擋(dang)：10到(dao)2000pC/N，20 至4000pC/N，可(ke)以升級(ji)到(dao)10000PC/N.
  ×0.1擋(dang)： 1到(dao)200pC/N，2 至400pC/N。

可(ke)配(pei)D31塊(kuai)體夾具(ju)，D15塊(kuai)體夾具(ju)，D15圓(yuan)管(guan)夾具(ju)，薄(bo)膜拉伸夾具(ju)

可(ke)以配(pei)套PZT-JH10/4/8/12型(xing)壓電(dian)極化裝(zhuang)置(zhi)使用(yong)

可(ke)以配(pei)套ZJ-D33-YP15壓電(dian)壓片機(ji)使用(yong)
  誤差：×1擋(dang)：±2%±1個(ge)數(shu)字，當d33在(zai)100到(dao)4000pC/N；

計(ji)量(liang)標(biao)定(ding)標(biao)準樣(yang)尺(chi)寸：18mm*0.8mm，老化時間(jian)：2-3年（評判(pan)壓電(dian)測(ce)試儀(yi)準確性(xing)能(neng)的重要(yao)依(yi)據之壹(yi)）
  ±5%±1個(ge)數(shu)字，當d33在(zai)10到(dao)200pC/N；
  ×0.1擋(dang)：±2%±1個(ge)數(shu)字，(當d33在(zai)10到(dao)200pC/N)
  ±5%±1個(ge)數(shu)字，當d33在(zai)10到(dao)20pC/N。
  分辨(bian)率(lv)：   ×1擋(dang)：1 pC/N；×0.1擋(dang)：0.1   pC/N。
  尺(chi)寸：施力裝(zhuang)置(zhi)：Φ110×140mm；儀(yi)器本體(ti)：240×200×80mm。
  重量(liang)：施(shi)力裝(zhuang)置(zhi)：約4公斤；     
  儀(yi)器本體(ti)：2公斤。
  電(dian)源：220伏，50赫，20瓦(wa)。

補(bu)充參(can)數(shu):

TDZT-04C鐵電(dian)性(xing)能(neng)綜合測(ce)試系(xi)統(tong)

TDZT-04C鐵電(dian)性(xing)能(neng)綜合測(ce)試系(xi)統(tong)是最新壹(yi)代(dai)鐵電(dian)材(cai)料參(can)數(shu)測(ce)試儀(yi)適(shi)用(yong)於(yu)鐵電(dian)薄(bo)膜、鐵電(dian)體(ti)材(cai)料（既可(ke)塊(kuai)體材(cai)料）的電(dian)性(xing)能(neng)測(ce)量(liang)，可(ke)測(ce)量(liang)鐵電(dian)薄(bo)膜電(dian)滯(zhi)回線、I—V特(te)性及(ji)開(kai)關(guan)特(te)性，可(ke)精確地(di)測(ce)出(chu)具(ju)有(you)非對(dui)稱(cheng)電(dian)滯(zhi)回線鐵電(dian)薄(bo)膜的(de)Pr值(zhi)。可(ke)測(ce)鐵電(dian)體(ti)材(cai)料的電(dian)滯(zhi)回線及I—V特(te)性。

主(zhu)要技術指(zhi)標(biao)：

1.輸出(chu)信號電(dian)壓：：薄(bo)膜：0～±10V 陶(tao)瓷(ci)、材(cai)料：0～±2000V

2.輸出(chu)信號頻率：薄(bo)膜材(cai)料1-1000HZ，陶瓷(ci)：0-1Hz

3.電(dian)容範(fan)圍：1000nf～ 100nf, 精(jing)度(du): ≤1%。

4.電(dian)流(liu)範(fan)圍: 1nA～10A ,精(jing)度(du): ≤1%。

5、測(ce)試樣品：0-20mm  5個(ge)

6、高壓樣品池：開(kai)放式(shi)：8CM*5CM

7、三(san)維移動(dong)薄(bo)膜測(ce)試平臺(tai)：直立(li)式(shi)探針(zhen)壹(yi)套(tao)

8、電(dian)流(liu)：1-10倍放大，信號：1-20倍。.數(shu)據(ju)結口(kou)：USB或(huo)BNC接(jie)口。

9. 數(shu)據(ju)采集分析(xi)軟(ruan)件(jian)： 能畫出(chu)鐵電(dian)薄(bo)膜的(de)電(dian)滯(zhi)回線，定(ding)量得(de)到(dao)鐵電(dian)薄(bo)膜材(cai)料的飽(bao)和(he)極化Ps、剩(sheng)余(yu)極化Pr、矯(jiao)頑(wan)場(chang)Ec、漏(lou)電(dian)流(liu)等(deng)參(can)數(shu);可(ke)以進(jin)行鐵電(dian)薄(bo)膜材(cai)料的鐵電(dian)疲(pi)勞性能(neng)、鐵電(dian)保(bao)持(chi)性能(neng)的測(ce)試，電(dian)阻(zu)測(ce)量(liang)，漏(lou)電(dian)流(liu)測(ce)量(liang)。

10.可(ke)以配(pei)合ZJ-3和(he)ZJ-6型(xing)壓電(dian)測(ce)試儀(yi)操作(zuo)系(xi)統(tong)

PZT-JH10/4壓電(dian)極化裝(zhuang)置(zhi)（10KV以下(xia)壓電(dian)陶(tao)瓷(ci)同(tong)時極化1-4片(pian)）

PZT-JH10/4壓電(dian)極化裝(zhuang)置(zhi)（10KV以下(xia)壓電(dian)陶(tao)瓷(ci)同(tong)時極化1-4片(pian)）

關(guan)鍵(jian)詞：壓電(dian)極化，壓電(dian)陶(tao)瓷(ci)材(cai)料，1-4片

主(zhu)要特(te)點：

1.能夠同(tong)時極化1-4片(pian)試樣

2.提(ti)供多(duo)套測(ce)試夾具(ju)（可(ke)以測(ce)試粉(fen)末，單(dan)樣(yang)品，及(ji)薄(bo)的壓電(dian)陶(tao)瓷(ci)片(pian)）

2. 安(an)全可(ke)靠，溫度補(bu)償(chang)快、恒(heng)溫(wen)精(jing)度高

3. 每(mei)路當漏(lou)電(dian)流(liu)超(chao)過(guo)規(gui)定(ding)值時，都具(ju)有(you)切(qie)斷(duan)保(bao)護功能(neng)，不(bu)影響其(qi)它樣(yang)片的極化，其(qi)它回路可(ke)按(an)正常(chang)極化時間(jian)完成極化。

4. 任(ren)意(yi)夾持(chi)樣品尺(chi)寸為0-40mm片方型或(huo)是圓型(xing)試樣

7、工(gong)作電(dian)源：AC220V  50/60HZ

8、額(e)定(ding)功率(lv)：2.0kw

9、壓電(dian)材(cai)料極化或(huo)耐壓測(ce)試：DC：0-10KV（±5％+2個字）連(lian)續可(ke)調

10、總電(dian)流(liu)：10mA

11、每路切(qie)斷(duan)電(dian)流(liu)：0.5mA

12、加(jia)熱時間(jian)：可(ke)以自(zi)動(dong)設(she)定(ding)

13、加(jia)熱元件(jian) ：優(you)質(zhi)電(dian)阻(zu)絲(si)

14、1次測(ce)試試樣數(shu)量(liang):可(ke)加(jia)載1-4片(pian)試樣

15、額(e)定(ding)溫度(du) ：≤180℃

16、最高溫(wen)度 ：200℃

17、控溫方(fang)式(shi) ：智(zhi)能化(hua)恒溫(wen)控制（進(jin)口表），多段程序可(ke)控

18、樣片(pian) ：樣品尺(chi)寸為3-40mm片方型或(huo)是圓型(xing)試樣

19、外(wai)形(xing)尺(chi)寸 ： 875*470*400（mm)

20、極化探頭：優(you)質(zhi)銅電(dian)極（0.2mm）

21、標(biao)準極化樣(yang)品：8片(pian)（10mm*1.5mm）

21、配(pei)套設(she)備裝(zhuang)置(zhi)：能夠配(pei)合ZJ-3和(he)ZJ-6壓電(dian)測(ce)試儀(yi)進(jin)行測(ce)量(liang)

22、配(pei)套設(she)備裝(zhuang)置(zhi)：可(ke)以配(pei)置(zhi)10MM，20MM，30MM，40MM壓片夾具(ju)

JKZC-YDZK03A 

Dielectric tester型

壓電(dian)阻(zu)抗(kang)

測(ce)試儀(yi)

JKZC-YDZK03A Dielectric   tester型壓電(dian)阻(zu)抗(kang)測(ce)試儀(yi)

關鍵(jian)詞：介(jie)電(dian)常(chang)數(shu)，諧振頻率Fp，機電(dian)耦(ou)合(he)系(xi)數(shu)Keff，機(ji)械品質(zhi)因素 Qm

JKZC-YDZK03A   Dielectric tester型(xing)介(jie)電(dian)測(ce)試儀(yi)是壹(yi)款多功能的(de)介(jie)電(dian)測(ce)試儀(yi)，即可(ke)測(ce)試包括(kuo)介電(dian)常(chang)數(shu)、介(jie)電(dian)損(sun)耗、電(dian)容等(deng)參(can)數(shu)，又(you)可(ke)以測(ce)量(liang)諧振頻率Fs，反諧振頻率Fp，機電(dian)耦(ou)合(he)系(xi)數(shu)   Keff，機(ji)械品質(zhi)因素 Qm，最大導(dao)納(na)Gmax等(deng)材(cai)料參(can)數(shu)，為(wei)材(cai)料研(yan)究(jiu)測(ce)試提(ti)供第(di)壹(yi)手(shou)原始(shi)數(shu)據(ju)，提(ti)供元整(zheng)的(de)數(shu)據(ju)圖，是高等(deng)院(yuan)校，科研(yan)院(yuan)所及(ji)材(cai)料研(yan)究(jiu)生(sheng)產(chan)的重要(yao)工(gong)具(ju),同(tong)時還可(ke)以配(pei)合高溫(wen)設(she)備，進(jin)行高溫(wen)設(she)備測(ce)試。

壹(yi)、主(zhu)要特(te)點：

自(zi)動(dong)平衡(heng)技術(shu)電(dian)橋(qiao)，測(ce)量(liang)準確度(du)高

4端對(dui)開(kai)爾(er)文(wen)測(ce)試端，測(ce)量(liang)範(fan)圍準確度(du)高

提(ti)供內部(bu)直流(liu)偏壓-5V～+5V

可(ke)選(xuan)配(pei)內部(bu)±40V偏(pian)置(zhi)電(dian)壓源

簡(jian)體(ti)中文、英(ying)文(wen)操作(zuo)語(yu)言(yan)

分檔(dang)測(ce)量(liang)、列表掃描、繪圖(tu)掃(sao)描、開(kai)路(lu)、短路、負載校(xiao)正等(deng)等(deng)功(gong)能

配(pei)備電(dian)導(dao)率(lv)σ·介(jie)電(dian)常(chang)數(shu)ε的(de)運(yun)算(suan)功(gong)能

進(jin)行測(ce)試數(shu)據(ju)、測(ce)試條件(jian)保存（U盤(pan)或內部(bu)）

繪圖掃(sao)描圖像(xiang)直接(jie)拷屏(ping)到(dao)U盤(pan)功(gong)能(neng)

加(jia)強(qiang)的(de)測(ce)試端保(bao)護功能(neng)

USB、GPIB、RS232、LAN等(deng)上(shang)位機(ji)連(lian)接(jie)接(jie)口

二、主(zhu)要技術參(can)數(shu)

1、頻率：20HZ-1MHZ,5MHZ,10MHZ,15MHZ,30MHZ，50MHZ多種可(ke)選(xuan)

2、D33測(ce)試範(fan)圍：0-6000PC/N(選(xuan)配(pei)ZJ-3型精(jing)密(mi)壓電(dian)系(xi)數(shu)測(ce)試儀(yi))

5、基本(ben)精度 ：0.05%

6、測(ce)試電(dian)平: 5mV—2Vrms

7、輸出(chu)阻抗(kang): 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

8、測(ce)試參(can)數(shu)：D33，電(dian)容，介電(dian)常(chang)數(shu)，諧振頻率Fs，反諧振頻率Fp，機電(dian)耦(ou)合(he)系(xi)數(shu)   Keff，機(ji)械品質(zhi)因素 Qm，最大導(dao)納(na)Gmax等(deng)

9、通(tong)道數(shu)：1通(tong)道

10、電(dian)極： 雙面夾持(chi)探針(zhen)

11、軟(ruan)件(jian)：自動(dong)計(ji)算(suan)並(bing)輸出(chu)數(shu)據(ju)，軟(ruan)件(jian)可(ke)根據(ju)實驗方(fang)案(an)設(she)計(ji)，通(tong)過(guo)測(ce)量(liang)C和(he)D值(zhi)，自(zi)動(dong)完成介電(dian)常(chang)數(shu)和(he)介(jie)電(dian)損(sun)耗隨(sui)頻率、電(dian)壓、偏壓多維(wei)變化的(de)曲(qu)線。