ZJ-3型精密D333測試儀主要介(jie)紹

ZJ-3型壓電(dian)測試儀（靜壓電系(xi)數(shu)d33測量儀）是為測量壓電材料的d33常(chang)數而設(she)計(ji)的(de)專(zhuan)用(yong)儀(yi)器，它(ta)可用(yong)來(lai)測量具(ju)有(you)大壓(ya)電(dian)常(chang)數的壓(ya)電(dian)陶瓷，小壓電(dian)常(chang)數的壓(ya)電(dian)單(dan)晶(jing)及壓電高分(fen)子材料(liao)。此(ci)外，也(ye)可測量任(ren)意取向(xiang)壓(ya)電(dian)單(dan)晶(jing)以及某(mou)些壓(ya)電(dian)器件(jian)的等(deng)效壓電d’33常(chang)數，儀器測量範圍寬(kuan)，分(fen)辨率細(xi)，可(ke)靠性高，操(cao)作(zuo)簡單(dan)，對試樣大小及形(xing)狀無特(te)殊要求(qiu)，圓片、圓環(huan)、圓管(guan)、方(fang)塊、長(chang)條(tiao)、柱形(xing)及(ji)半(ban)球殼(ke)等(deng)均可(ke)測量，測量結果和極(ji)性在三位半(ban)數(shu)字(zi)面(mian)板表(biao)上直(zhi)接顯示(shi)。ZJ-3型增加(jia)了(le)對被測元件(jian)的放(fang)電保(bao)護(hu)、放(fang)電(dian)提(ti)示以及被(bei)測波形(xing)輸(shu)出等(deng)功能(neng)，使得儀器在(zai)測量未放(fang)電(dian)（尤其(qi)是(shi)較大尺(chi)寸(cun)）的壓電元件(jian)時(shi)具(ju)備了(le)高電壓放電(dian)提(ti)示及(ji)保(bao)護(hu)功能(neng)，本(ben)儀器是(shi)從事壓(ya)電材(cai)料及壓電(dian)元件(jian)生產(chan)、應用(yong)與(yu)研(yan)究部門(men)的(de)儀器。

ZJ-3型精密D333測試儀主要技術參數(shu)

d33測量範圍：

×1擋(dang)：10到(dao)2000pC/N，20 至4000pC/N，可以升(sheng)級到10000PC/N.
 ×0.1擋(dang)： 1到200pC/N，2 至400pC/N。

可(ke)配D31塊(kuai)體(ti)夾具(ju)，D15塊體夾具(ju)，D15圓管(guan)夾(jia)具(ju)，薄膜(mo)拉伸夾具(ju)

可以配套(tao)PZT-JH10/4/8/12型壓電(dian)極化(hua)裝置使(shi)用(yong)

可以配套(tao)ZJ-D33-YP15壓(ya)電壓(ya)片機使用(yong)
 誤差(cha)：×1擋：±2%±1個(ge)數(shu)字(zi)，當(dang)d33在100到(dao)4000pC/N；

計(ji)量(liang)標定標準樣尺(chi)寸(cun)：18mm*0.8mm，老化(hua)時(shi)間(jian)：2-3年（評(ping)判壓電測試儀準確(que)性能(neng)的重(zhong)要依據之(zhi)壹）
 ±5%±1個(ge)數(shu)字(zi)，當(dang)d33在10到(dao)200pC/N；
 ×0.1擋(dang)：±2%±1個(ge)數(shu)字(zi)，(當(dang)d33在10到(dao)200pC/N)
 ±5%±1個(ge)數(shu)字(zi)，當(dang)d33在10到(dao)20pC/N。
 分(fen)辨率：   ×1擋(dang)：1 pC/N；×0.1擋(dang)：0.1   pC/N。
 尺(chi)寸(cun)：施力(li)裝置：Φ110×140mm；儀(yi)器本(ben)體：240×200×80mm。
 重(zhong)量(liang)：施(shi)力(li)裝置：約(yue)4公(gong)斤；    
 儀器本(ben)體：2公(gong)斤(jin)。
 電(dian)源：220伏(fu)，50赫(he)，20瓦(wa)。

補(bu)充參數(shu):

TDZT-04C鐵(tie)電(dian)性能(neng)綜合測試系(xi)統(tong)

TDZT-04C鐵電性能(neng)綜合測試系(xi)統(tong)是(shi)最(zui)新(xin)壹代(dai)鐵電材(cai)料(liao)參數(shu)測試儀適用(yong)於鐵(tie)電(dian)薄膜(mo)、鐵(tie)電體材(cai)料（既(ji)可(ke)塊(kuai)體(ti)材(cai)料）的(de)電(dian)性能(neng)測量，可測量鐵電薄膜(mo)電(dian)滯回(hui)線(xian)、I—V特(te)性及開關特(te)性，可精確(que)地(di)測出具(ju)有(you)非對稱電滯回(hui)線(xian)鐵(tie)電薄膜(mo)的(de)Pr值。可(ke)測鐵電體材料的電滯回(hui)線(xian)及(ji)I—V特(te)性。

TDZT-04C鐵電(dian)性能(neng)綜合測試系(xi)統(tong)

主要技術參數(shu)

主要技術指標：

1.輸(shu)出信號電壓：：薄膜(mo)：0～±10V 陶瓷、材料(liao)：0～±2000V

2.輸(shu)出信號頻率：薄膜(mo)材(cai)料1-1000HZ，陶瓷：0-1Hz

3.電(dian)容(rong)範圍：1000nf～ 100nf, 精度: ≤1%。

4.電(dian)流範圍:   1nA～10A   ,精度:   ≤1%。

5、測試樣品：0-20mm  5個(ge)

6、高壓樣品池：開放式(shi)：8CM*5CM

7、三維移(yi)動(dong)薄膜(mo)測試平臺(tai)：直(zhi)立(li)式(shi)探(tan)針(zhen)壹(yi)套(tao)

8、電流：1-10倍放大，信號：1-20倍(bei)。.數據(ju)結口：USB或BNC接口。

9. 數(shu)據采(cai)集分(fen)析軟(ruan)件： 能(neng)畫(hua)出鐵(tie)電薄膜(mo)的(de)電滯回(hui)線(xian)，定(ding)量得到鐵(tie)電(dian)薄膜(mo)材(cai)料的飽(bao)和極(ji)化(hua)Ps、剩(sheng)余極(ji)化(hua)Pr、矯頑(wan)場(chang)Ec、漏(lou)電流(liu)等(deng)參數(shu);可以進行鐵電(dian)薄膜(mo)材(cai)料的鐵(tie)電疲勞性能(neng)、鐵電保(bao)持性能(neng)的測試，電阻測量，漏(lou)電流(liu)測量。

10.可以配合(he)ZJ-3和ZJ-6型壓電(dian)測試儀操(cao)作(zuo)系(xi)統(tong)

PZT-JH10/4壓電(dian)極化(hua)裝置（10KV以下壓(ya)電(dian)陶瓷同時(shi)極化(hua)1-4片）

        PZT-JH10/4壓(ya)電(dian)極化(hua)裝置（10KV以下壓(ya)電(dian)陶瓷同時(shi)極化(hua)1-4片）

關鍵(jian)詞：壓電極化(hua)，壓(ya)電(dian)陶(tao)瓷材料(liao)，1-4片

主要特(te)點(dian)：

1.能(neng)夠同(tong)時(shi)極化(hua)1-4片試樣

2.提(ti)供(gong)多套(tao)測試夾具(ju)（可以測試粉末，單(dan)樣品，及薄的(de)壓(ya)電陶瓷片）

2. 安(an)全可靠(kao)，溫(wen)度補償(chang)快、恒溫(wen)精度高

3. 每路(lu)當(dang)漏(lou)電流(liu)超(chao)過規(gui)定(ding)值時(shi)，都具(ju)有(you)切斷保(bao)護(hu)功能(neng)，不(bu)影響(xiang)其(qi)它(ta)樣片的極化(hua)，其(qi)它(ta)回路(lu)可(ke)按(an)正常(chang)極化(hua)時(shi)間(jian)完成(cheng)極(ji)化(hua)。

4. 任(ren)意夾持(chi)樣品尺(chi)寸(cun)為0-40mm片方(fang)型或是(shi)圓型試樣

7、工作(zuo)電(dian)源(yuan)：AC220V    50/60HZ

8、額(e)定功率：2.0kw

9、壓電(dian)材料極化(hua)或耐(nai)壓測試：DC：0-10KV（±5％+2個字(zi)）連(lian)續可(ke)調(tiao)

10、總電流(liu)：10mA

11、每(mei)路(lu)切斷電(dian)流(liu)：0.5mA

12、加熱(re)時(shi)間(jian)：可以自(zi)動(dong)設(she)定  

13、加(jia)熱元件(jian) ：優質電阻(zu)絲

14、1次(ci)測試試樣數量:可(ke)加(jia)載1-4片試樣

15、額(e)定溫(wen)度 ：≤180℃

16、最(zui)高溫(wen)度 ：200℃

17、控(kong)溫(wen)方(fang)式(shi) ：智(zhi)能(neng)化(hua)恒(heng)溫(wen)控制(zhi)（進口(kou)表(biao)），多段(duan)程序(xu)可控(kong)

18、樣片 ：樣品尺(chi)寸(cun)為3-40mm片方(fang)型或是(shi)圓型試樣

19、外形(xing)尺(chi)寸(cun) ：   875*470*400（mm)

20、極化(hua)探(tan)頭：優(you)質(zhi)銅(tong)電極（0.2mm）

21、標準極(ji)化(hua)樣品：8片（10mm*1.5mm）

21、配套(tao)設(she)備裝置：能(neng)夠配合(he)ZJ-3和ZJ-6壓電(dian)測試儀進行測量

22、配套(tao)設(she)備裝置：可(ke)以配置(zhi)10MM，20MM，30MM，40MM壓片夾具(ju)

DLT-01 Dielectric tester型介(jie)電測試儀

DLT-01 Dielectric tester型介(jie)電測試儀

關(guan)鍵(jian)詞：介(jie)電常(chang)數，諧振(zhen)頻(pin)率Fp，機電耦(ou)合(he)系(xi)數(shu)Keff，機械(xie)品質因(yin)素(su) Qm

  DLT-01 Dielectric tester型介(jie)電測試儀是壹款多功能(neng)的介(jie)電測試儀，即可測試包括介(jie)電常(chang)數、介(jie)電損耗、電(dian)容(rong)等(deng)參數(shu)，又(you)可(ke)以測量諧振(zhen)頻(pin)率Fs，反(fan)諧(xie)振(zhen)頻(pin)率Fp，機電耦(ou)合(he)系(xi)數(shu)   Keff，機械(xie)品質因(yin)素(su) Qm，最(zui)大導(dao)納Gmax等(deng)材料(liao)參數(shu)，為(wei)材(cai)料研(yan)究(jiu)測試提(ti)供(gong)第壹手(shou)原(yuan)始數據，提(ti)供(gong)元整(zheng)的數(shu)據圖(tu)，是高等(deng)院校(xiao)，科(ke)研(yan)院所及(ji)材料(liao)研(yan)究生產的重(zhong)要工具(ju),同時(shi)還可(ke)以配合(he)高溫(wen)設(she)備，進行高溫(wen)設(she)備測試。

壹、主要特(te)點(dian)：

●自(zi)動(dong)平衡(heng)技術電橋(qiao)，測量準確(que)度高

●4端(duan)對開爾文測試端(duan)，測量範圍準確(que)度高

●提(ti)供(gong)內(nei)部直流(liu)偏(pian)壓(ya)-5V～+5V

●可選配內(nei)部±40V偏(pian)置(zhi)電壓(ya)源

●簡體中文、英(ying)文操(cao)作(zuo)語(yu)言(yan)

●分(fen)檔(dang)測量、列(lie)表(biao)掃描(miao)、繪(hui)圖(tu)掃描(miao)、開路(lu)、短路(lu)、負(fu)載(zai)校(xiao)正等(deng)等(deng)功能(neng)

●配備(bei)電(dian)導率σ·介(jie)電常(chang)數ε的運算功能(neng)

●進行測試數據、測試條(tiao)件保(bao)存(cun)（U盤(pan)或內(nei)部）

●繪(hui)圖(tu)掃描(miao)圖(tu)像(xiang)直(zhi)接拷(kao)屏到U盤(pan)功能(neng)

●加強(qiang)的(de)測試端(duan)保(bao)護(hu)功能(neng)

●USB、GPIB、RS232、LAN等(deng)上位(wei)機連接接口

二(er)、主要技術參數(shu)

1、頻率：20HZ-1MHZ,5MHZ,10MHZ,15MHZ,30MHZ，50MHZ多(duo)種(zhong)可選

2、D33測試範圍：0-6000PC/N(選配ZJ-3型精密壓電系(xi)數(shu)測試儀)

5、基本(ben)精度 ：0.05%

6、測試電平: 5mV—2Vrms

7、輸(shu)出阻抗: 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

8、測試參數(shu)：D33，電(dian)容(rong)，介(jie)電常(chang)數，諧振(zhen)頻(pin)率Fs，反(fan)諧(xie)振(zhen)頻(pin)率Fp，機電耦(ou)合(he)系(xi)數(shu) Keff，機械(xie)品質因(yin)素(su) Qm，最(zui)大導(dao)納Gmax等(deng)

9、通道(dao)數：1通道(dao)

10、電(dian)極(ji)： 雙面夾(jia)持探(tan)針(zhen)

11、軟(ruan)件：自(zi)動(dong)計(ji)算並(bing)輸(shu)出數據(ju)，軟(ruan)件可根(gen)據(ju)實驗方(fang)案設(she)計(ji)，通過測量C和D值，自(zi)動(dong)完(wan)成(cheng)介(jie)電常(chang)數和介(jie)電損耗隨(sui)頻率、電(dian)壓(ya)、偏(pian)壓(ya)多維(wei)變化(hua)的(de)曲(qu)線(xian)。