精密阻(zu)抗分(fen)析儀可(ke)以(yi)測(ce)量(liang)復(fu)數電阻(zu)隨測(ce)試頻率的變化
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精密阻(zu)抗分(fen)析儀是(shi)什(shen)麽(me)?
精密阻(zu)抗分(fen)析儀是(shi)壹種(zhong)電(dian)子測(ce)試儀(yi)器(qi)。它(ta)可(ke)以(yi)測(ce)量(liang)復(fu)數電阻(zu)隨測(ce)試頻率的變化。阻(zu)抗是表征(zheng)電(dian)子元器(qi)件(jian),電子電路和(he)元(yuan)件(jian)材料(liao)的(de)壹(yi)個很重(zhong)要(yao)的(de)參數。另外(wai),阻(zu)抗分(fen)析可(ke)以(yi)還(hai)被(bei)應(ying)用(yong)到(dao)介(jie)電材料(liao),比(bi)如(ru)生物組織,食品(pin)和(he)地(di)質(zhi)樣本中。
精密阻(zu)抗分(fen)析儀是(shi)壹種(zhong)能(neng)夠測(ce)量(liang)復(fu)數電阻(zu)抗隨頻率變化的(de)儀(yi)器(qi)。它(ta)的(de)原理是通(tong)過(guo)相(xiang)敏檢測(ce),同時(shi)測(ce)量(liang)器(qi)件(jian)在(zai)掃(sao)頻測(ce)試過(guo)程(cheng)中的電(dian)流和電壓。阻(zu)抗分(fen)析儀的(de)主(zhu)要(yao)參(can)數分(fen)別是(shi)頻率範圍,阻(zu)抗範圍(wei),阻(zu)抗幅值(zhi)的(de)精度和相(xiang)位(wei)精度。進壹步的還(hai)包(bao)括(kuo)測(ce)量(liang)速(su)度,以及(ji)在(zai)測(ce)試中(zhong)施(shi)加(jia)電(dian)壓或者電流偏(pian)置的功能(neng) 。
精密阻(zu)抗分(fen)析儀,提(ti)供5種(zhong)頻率選(xuan)項(10 Hz 至3/5/10/20/30 MHz),可(ke)在(zai)不(bu)同測(ce)量(liang)條件(jian)下進行(xing)高(gao)速(su)連續測(ce)量(liang)。其(qi)等效(xiao)電路分(fen)析功能(neng)支援(yuan)7種不同的(de)參(can)數模型(三元(yuan)件(jian)、四(si)元(yuan)件(jian)),可(ke)協助(zhu)客(ke)戶(hu)模(mo)擬(ni)元(yuan)件(jian)的等效(xiao)參數(shu)值(zhi)。並(bing)支援RS232、 USB 、LAN和 GPIB PC連線(xian)能(neng)力。
精密阻(zu)抗分(fen)析儀,支(zhi)援各(ge)式(shi)各(ge)樣(yang)的(de)測(ce)試治具(ju)與配(pei)件(jian),例如(ru)可(ke)搭(da)配介(jie)電系(xi)數治具(ju),使(shi)PCB板設計(ji)人員能(neng)充分(fen)了(le)解(jie)材料(liao)的(de)介(jie)電特性(xing)以便精準的(de)Layout線(xian)路,減(jian)少產(chan)品(pin)不(bu)佳(jia)的(de)情(qing)況發(fa)生,導(dao)磁系(xi)數治具(ju),各(ge)種(zhong)環(huan)形(xing)磁芯(xin)或鐵(tie)氧體(ti)磁芯(xin)及(ji)電磁屏(ping)蔽塗層(ceng)材料(liao)的(de)導(dao)磁系(xi)數量(liang)測(ce),和懸(xuan)臂(bi)治具(ju),各(ge)種(zhong)尺(chi)寸(cun)貼片元(yuan)件(jian)或電路板上(shang)元(yuan)件(jian)阻(zu)抗量(liang)測(ce)。讓量(liang)測(ce)步驟變(bian)得為簡(jian)易(yi)及(ji)快速(su)。阻(zu)抗分(fen)析儀為分(fen)析電子元件(jian)、和材料(liao)特(te)性(xing)*的(de)量(liang)測(ce)神器(qi)。量(liang)測(ce)精準度及(ji)多功能(neng)性為種(zhong)不(bu)同類(lei)型(xing)的工(gong)作(zuo)和(he)應(ying)用(yong)程(cheng)式(shi)高(gao)要(yao)求(qiu)的*佳(jia)選(xuan)擇,使(shi)用(yong)者包括(kuo)半(ban)導(dao)體(ti)、元(yuan)件(jian)廠商、研發(fa)單(dan)位(wei)、進料(liao)檢(jian)驗(yan)、實驗室(shi)、學生。