阻(zu)抗分(fen)析儀(yi)能在阻(zu)抗範(fan)圍(wei)和寬(kuan)頻率範圍進行測量(liang)

　　阻(zu)抗分(fen)析儀(yi)能在阻(zu)抗範(fan)圍(wei)和寬(kuan)頻率範圍進行測量(liang)

　　隨著電(dian)子(zi)產(chan)品的(de)輕(qing)薄短小(xiao)及(ji)高(gao)速率，高帶(dai)寬，5G/6G甚(shen)至更(geng)高的(de)工作(zuo)頻率，促使(shi)電子(zi)元器(qi)件的(de)尺(chi)寸(cun)也(ye)變(bian)得越(yue)來(lai)越(yue)小(xiao)，工作(zuo)頻率也(ye)越(yue)來(lai)越(yue)高。這(zhe)對(dui)測(ce)試(shi)電(dian)子(zi)元器(qi)件的(de)設備(bei)要求也(ye)要(yao)同(tong)時能(neng)滿(man)足(zu)尺(chi)寸(cun)越來(lai)越(yue)小(xiao)和頻率越來(lai)越(yue)高的(de)要(yao)求(qiu)。阻(zu)抗分(fen)析儀(yi)可以(yi)用來(lai)在高(gao)達3GHz的(de)頻率範圍內(nei)測(ce)量(liang)無源(yuan)器(qi)件的(de)特(te)性(xing)，除(chu)此(ci)之外，工程(cheng)師們(men)更(geng)可以(yi)用(yong)它來(lai)測(ce)量(liang)小(xiao)至01005尺(chi)寸(cun)的(de) SMD器(qi)件的(de)特(te)性(xing)。

　　阻(zu)抗分(fen)析儀(yi)具(ju)備(bei)高度(du)、速度(du)，且(qie)經(jing)濟型(xing)多功(gong)能(neng)，能(neng)夠執(zhi)行壹(yi)應(ying)俱全的(de)元件測試。可搭(da)配(pei)DC Bias機型。人性(xing)化操(cao)作(zuo)界(jie)面設計同(tong)步(bu)於(yu)國(guo)際趨(qu)勢，簡(jian)單操(cao)作(zuo)快速導入產(chan)線(xian)。多項(xiang)參數(shu)同(tong)時測(ce)試只需壹(yi)次(ci)設定(ding)，壹(yi)次(ci)同(tong)時顯(xian)示。高(gao)精密(mi)值的(de)量(liang)測數(shu)據(ju)與的(de)功(gong)效(xiao)，為(wei)元件和材(cai)料(liao)不(bu)可或(huo)缺的(de)測(ce)試(shi)儀(yi)器(qi)。阻(zu)抗分(fen)析儀(yi)可通(tong)過面板的(de)BNC接(jie)頭來(lai)實現兩(liang)端，三(san)端或(huo)四埠的(de)連(lian)接(jie)以(yi)及(ji)可(ke)能的(de)接(jie)地狀況.備有許(xu)多(duo)的(de)可(ke)選(xuan)附(fu)件(jian)以供不(bu)同(tong)的(de)測(ce)試(shi)需要。

　　阻(zu)抗分(fen)析儀(yi)能在阻(zu)抗範(fan)圍(wei)和寬(kuan)頻率範圍進行測量(liang)，它利(li)用(yong)物體具(ju)有(you)不(bu)同(tong)的(de)導電作(zuo)用(yong)，在物(wu)體表(biao)面加(jia)壹(yi)固(gu)定的(de)低電平(ping)電流(liu)時，通(tong)過阻(zu)抗計算出物(wu)體的(de)各(ge)種器(qi)件、設備(bei)參數(shu)和性(xing)能優(you)劣。能夠以測(ce)量(liang)結(jie)果(guo)為(wei)基礎推測(ce)5種等效電(dian)路(lu)模(mo)式的(de)常(chang)數(shu)。 而且(qie)，可(ke)以(yi)通(tong)過模(mo)擬(ni)功(gong)能(neng)，使(shi)用推測結(jie)果(guo)或(huo)者(zhe)任意(yi)的(de)常(chang)數(shu)來(lai)顯(xian)示頻率特性的(de)理想(xiang)值。 此(ci)外，使(shi)用比較器(qi)功(gong)能(neng)，還能夠(gou)確(que)定測量(liang)結(jie)果(guo)是(shi)否在判(pan)定(ding)區(qu)域(yu)內(nei)。