粉(fen)體(ti)電阻(zu)率(lv)測試儀的(de)調(tiao)試(shi)方(fang)法

　　粉(fen)體(ti)電阻(zu)率(lv)測試儀的(de)調(tiao)試(shi)方(fang)法

　　粉(fen)體(ti)電阻(zu)率(lv)測試儀采(cai)用(yong)國際標準(zhun)設(she)計(ji)，可用(yong)於各種(zhong)用(yong)途、測量(liang)聚(ju)合物(wu)納(na)米(mi)顆粒(li)和固體金屬粉(fen)末的(de)電(dian)阻(zu)和電阻(zu)。

　　探(tan)頭由(you)試驗(yan)臺組(zu)成、壓(ya)力(li)機構(gou)、標(biao)準(zhun)粉(fen)末容器、壓力(li)測試、它由(you)厚(hou)度(du)測試和其他設(she)備(bei)組(zu)成(cheng)。手動操(cao)作壓(ya)力(li)機構(gou)可(ke)調(tiao)節(jie)壓(ya)力(li)穩(wen)定(ding)性(xing)，顯(xian)示壓力(li)值電(dian)子數。粉(fen)體(ti)電阻(zu)率(lv)測試儀可(ke)用(yong)於壓(ya)力(li)下的(de)同(tong)步(bu)試驗(yan)。測試粉(fen)末在(zai)不同(tong)壓(ya)力(li)下的(de)導(dao)電(dian)曲線(xian)是有用(yong)的。該(gai)粉(fen)末也可(ke)用(yong)於壓(ya)縮片劑。壹(yi)旦形(xing)成片劑，可通(tong)過正(zheng)常的(de)四探(tan)釋(shi)放和測試。該設(she)備(bei)測量(liang)精(jing)度高(gao)，操(cao)作方(fang)便，穩(wen)定(ding)性(xing)高(gao)，可用(yong)於多種用(yong)途。

　　采(cai)用(yong)國際電流(liu)、四端電(dian)壓測量(liang)方(fang)法(fa)(兩(liang)個(ge)電(dian)流(liu))、電壓電(dian)極(ji)與樣(yang)品同(tong)時接觸)。這(zhe)樣(yang)可(ke)以消(xiao)除電極(ji)和導線(xian)之(zhi)間(jian)的傳(chuan)導(dao)電(dian)阻誤差(cha)，克(ke)服傳統粉(fen)末電(dian)阻(zu)的(de)兩(liang)個(ge)終端(duan)測量(liang)。該(gai)裝置的缺點(dian)是重現(xian)性好，因為(wei)它(ta)能準(zhun)確(que)測量(liang)粉(fen)末樣(yang)品(pin)的(de)電(dian)阻(zu)率。測試參數時，檢測壓力(li)和高(gao)度。

　　粉(fen)體(ti)電阻(zu)率(lv)測試儀優勢：

　　1.機(ji)器本(ben)身(shen)的(de)軟(ruan)件(jian)由(you)計(ji)算機(ji)自動控制(zhi)，以控制設(she)備(bei)或選(xuan)擇(ze)手動操(cao)作。測試數據(ju)存儲(chu)在計(ji)算機(ji)上(shang)，自動生成(cheng)測試報(bao)告，並自動打(da)印(yin)測試結果和數據(ju)。計(ji)算機(ji)和打(da)印(yin)機(ji)

　　2.用(yong)戶可以設(she)置(zhi)粉(fen)撲杯(bei)的(de)長(chang)度(du).直(zhi)徑(jing).溫(wen)度(du)補(bu)償系(xi)數和溫度(du)校正(zheng)系(xi)數.當(dang)前齒輪和電壓(ya)轉換(huan)時間(jian)。(確(que)定(ding)小(xiao)數點的長(chang)度(du)和直徑(jing))mm）

　　粉(fen)體(ti)電阻(zu)率(lv)測試儀適(shi)用(yong)於碳廠、焦炭(tan)廠、石(shi)化廠、粉(fen)末冶(ye)金廠、高(gao)校、研(yan)究(jiu)單位和其他單(dan)位是檢測和分(fen)析(xi)固體和粉(fen)末樣(yang)品(pin)質(zhi)量(liang)的(de)重(zhong)要(yao)秀(xiu)的(de)工具。