阻抗分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)原理是(shi)怎(zen)樣的(de)？

　　阻抗分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)原理是(shi)怎(zen)樣的(de)？

　　阻抗分(fen)析(xi)儀(yi)是(shi)壹種電子測(ce)試(shi)儀(yi)器(qi)。它可(ke)以(yi)測(ce)量(liang)復(fu)數(shu)電阻隨(sui)測試(shi)頻(pin)率的(de)變化。

　　阻抗是(shi)表征(zheng)電子元(yuan)器(qi)件(jian)，電子電路(lu)和元(yuan)件(jian)材(cai)料的(de)壹個很重要(yao)的(de)參(can)數(shu)。

　　另(ling)外，阻(zu)抗分(fen)析(xi)可(ke)以(yi)還被(bei)應(ying)用(yong)到(dao)介(jie)電材(cai)料，比如生(sheng)物組(zu)織，食(shi)品(pin)和(he)地(di)質(zhi)樣本(ben)中(zhong)。

　　阻抗分(fen)析(xi)儀(yi)原(yuan)理

　　阻(zu)抗分(fen)析(xi)儀(yi)是(shi)壹種能夠測(ce)量(liang)復(fu)數(shu)電阻抗隨頻率變化的(de)儀器(qi)。

　　它的(de)原理是(shi)通(tong)過(guo)相(xiang)敏檢(jian)測(ce)，同時測量器(qi)件(jian)在(zai)掃(sao)頻(pin)測試(shi)過(guo)程(cheng)中(zhong)的(de)電流(liu)和電壓(ya)。

　　阻抗分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)主要(yao)參(can)數(shu)分(fen)別(bie)是(shi)頻率範圍(wei)，阻(zu)抗範圍(wei)，阻(zu)抗幅(fu)值的(de)精(jing)度(du)和相位(wei)精(jing)度(du)。

　　更進(jin)壹步(bu)的(de)還包(bao)括(kuo)測量速(su)度(du)，以(yi)及(ji)在(zai)測試(shi)中(zhong)施(shi)加(jia)電壓(ya)或(huo)者(zhe)電流(liu)偏(pian)置(zhi)的(de)功能。

　　阻(zu)抗分(fen)析(xi)儀(yi)測(ce)得(de)的(de)阻抗包(bao)含阻抗幅(fu)值，實部(bu)，虛(xu)部(bu)，以(yi)及(ji)由(you)電壓(ya)和電流(liu)造(zao)成(cheng)的(de)相位(wei)（差）。

　　根據(ju)等(deng)效電路(lu)模型(xing)，壹(yi)些(xie)阻(zu)抗參(can)數(shu)包(bao)括(kuo)電導，電感和(he)電容，即(ji)可(ke)被(bei)輕松(song)的(de)計算並顯示出(chu)來。

　　阻(zu)抗分(fen)析(xi)儀(yi)壹(yi)般(ban)能夠提供(gong)高精(jing)度(du)的(de)阻抗測量，比如0.05%的(de)基本(ben)精(jing)度(du)；

　　從(cong)Hz到(dao)GHz的(de)頻率範圍(wei)，從(cong)?Ω到(dao)TΩ的(de)幅(fu)值範圍(wei),同時還有(you)10mdeg的(de)相位(wei)精(jing)度(du)。

　　與阻抗分(fen)析(xi)儀(yi)相(xiang)比，LCR測(ce)試(shi)儀(yi)也(ye)提供(gong)了阻(zu)抗測量的(de)功能。

　　壹(yi)般(ban)來(lai)說(shuo)，它的(de)精(jing)度(du)比較(jiao)接(jie)近阻(zu)抗分(fen)析(xi)儀(yi)，但(dan)是(shi)頻率範圍(wei)較(jiao)低(di)。

　　同時，LCR測試(shi)儀(yi)只(zhi)能(neng)測(ce)量固定頻(pin)率下的(de)阻抗，不能掃(sao)頻(pin)，也(ye)不能(neng)圖形(xing)化顯示測(ce)量結(jie)果。