GWZK-03A高(gao)溫(wen)精密壓電阻(zu)抗分析(xi)測(ce)量(liang)系(xi)統(tong)

GWZK-03A高溫(wen)精密壓電阻(zu)抗分析(xi)測(ce)量(liang)系(xi)統(tong)

      材(cai)料(liao)分析(xi)夾具及配(pei)備分(fen)析軟(ruan)件(jian)

關鍵詞(ci)：阻(zu)抗分析(xi),壓電陶(tao)瓷(ci)，

GWZK-03A高溫(wen)精密壓電阻(zu)抗分析(xi)測(ce)量(liang)系(xi)統(tong)是國(guo)內(nei)符合(he)LXI標(biao)準(zhun)的(de)新壹(yi)代高(gao)溫(wen)壓電阻(zu)抗測(ce)試儀器(qi)，其(qi)0.1%的(de)基本(ben)精度、20Hz～5MHz的(de)頻率(lv)範圍(wei)可(ke)以滿足(zu)元(yuan)件(jian)與(yu)材(cai)料(liao)絕大部分(fen)低壓參數的(de)測(ce)量(liang)要(yao)求，可(ke)廣(guang)泛(fan)應(ying)用(yong)於諸如(ru)傳(chuan)聲(sheng)器(qi)、諧(xie)振器(qi)、電(dian)感(gan)器(qi)、陶(tao)瓷(ci)電(dian)容器(qi)、液(ye)晶顯(xian)示(shi)器(qi)、變容二極(ji)管(guan)、變壓器(qi)等(deng)進行諸多電(dian)氣(qi)性能的(de)分析(xi)及低ESR電(dian)容器(qi)和(he)高(gao)Q電(dian)感器(qi)的(de)測(ce)量(liang)。

GWZK-03A高溫(wen)精密壓電阻(zu)抗分析(xi)測(ce)量(liang)系(xi)統(tong)產(chan)品(pin)超(chao)高速的(de)測(ce)試速度使其(qi)特(te)別(bie)適用(yong)於自動(dong)生(sheng)產(chan)線(xian)的(de)點(dian)檢(jian)機，壓電器(qi)件(jian)的(de)頻率(lv)響(xiang)應(ying)曲線(xian)分析(xi)等(deng)等(deng)。其(qi)多種輸出(chu)阻(zu)抗模式(shi)可(ke)以適應(ying)各(ge)個電感(gan)變壓器(qi)廠(chang)家(jia)的(de)不同(tong)標(biao)準(zhun)需求。

GWZK-03A高溫(wen)精密壓電阻(zu)抗分析(xi)測(ce)量(liang)系(xi)統(tong)產(chan)品(pin)以其(qi)的(de)性能(neng)可(ke)以實(shi)現(xian)商(shang)業標準(zhun)和軍(jun)用(yong)標準(zhun)如IEC和(he)MIL標(biao)準(zhun)的(de)各種測(ce)試。 目(mu)前(qian)該(gai)阻(zu)抗分析(xi)在全國(guo)各(ge)大學校(xiao)和科(ke)研(yan)院所中廣(guang)泛(fan)使(shi)用(yong)。

壹(yi)、常溫(wen)下可(ke)測(ce)量(liang)產(chan)品(pin)廣(guang)泛(fan)應(ying)用(yong)範圍(wei)：

1. 無源元(yuan)件：傳(chuan)聲器(qi)、諧(xie)振器(qi)、電(dian)感(gan)器(qi)、陶(tao)瓷(ci)電(dian)容器(qi)、液(ye)晶顯(xian)示(shi)器(qi)、變容二極(ji)管(guan)、變壓器(qi)電(dian),壓電器(qi)件(jian)，芯(xin)片(pian)組件(jian)和(he)網(wang)絡元(yuan)件(jian)等(deng)的(de)阻抗參數分析和性(xing)能(neng)分(fen)析(xi)

2. 半導(dao)體(ti)元件(jian)：變容二極(ji)管(guan)的(de)C-VDC特(te)性(xing)；晶體(ti)管或(huo)集(ji)成(cheng)電路的(de)寄生(sheng)參數分析

3. 其(qi)他元件(jian)：印(yin)制(zhi)電路板，繼(ji)電(dian)器(qi)，開(kai)關(guan)，電纜，電池(chi)等(deng)的(de)阻抗評估

4. 介質(zhi)材(cai)料(liao)：塑料(liao)，陶(tao)瓷(ci)和(he)其(qi)他材(cai)料(liao)的(de)介電(dian)常數(shu)和損耗角評估

5. 磁(ci)性(xing)材(cai)料(liao)：鐵(tie)氧(yang)體(ti)，非晶體(ti)和其(qi)他磁(ci)性(xing)材(cai)料(liao)

6. 半導(dao)體(ti)材(cai)料(liao):半導(dao)體(ti)材(cai)料(liao)的(de)介電(dian)常數(shu)，電導率和(he)C-V特(te)性(xing)

7. .液晶材(cai)料(liao)：液晶單元的(de)介電(dian)常數(shu)、彈性常熟(shu)等(deng)C-V特(te)性(xing)

三(san)、高溫(wen)主(zhu)要(yao)測(ce)量(liang)參數：

1、測(ce)量(liang)以(yi)下參數隨溫(wen)度（T）、頻(pin)率(lv)（f）、電(dian)平（V）、偏壓（Vi）的(de)變化(hua)規律(lv)：

2、測(ce)量(liang)電(dian)容（C）、電感（L）、電(dian)阻（R）、電(dian)抗（X）、阻抗（Z）、相位(wei)角（￠）、電(dian)導（G）、電納(na)（B）、導(dao)納(na)（Y）、損(sun)耗因子（D）、品(pin)質(zhi)因素(su)（Q）等(deng)參數，

3、同(tong)時(shi)計算(suan)獲得反應(ying)材(cai)料(liao)導電(dian)、介電(dian)性(xing)能的(de)復介電(dian)常數(shu)（εr）和介質(zhi)損耗（D）參數。

二、主(zhu)要(yao)技(ji)術(shu)參數：

1.測(ce)試頻率(lv)：20HZ-10MHZ（特(te)殊(shu)可(ke)以定(ding)制(zhi)）

2. 測(ce)試電平:10mV～5V±（10%+10mV）

3．溫(wen)度範圍(wei)：-80℃-600℃（可(ke)選）

2、測(ce)溫(wen)精度      0.1℃

3、升(sheng)溫(wen)速度      1—20。C/min3.

4. 測(ce)試參數：C,L,R,Z,Y,X,B,G,D,Q,

5.控(kong)溫(wen)模式(shi)：  程序(xu)控(kong)制(zhi)，提(ti)供(gong)常溫(wen)、變溫(wen)、恒(heng)溫(wen)、升(sheng)溫(wen)、降溫(wen)等(deng)多種組合(he)方式(shi)

6. 基本(ben)準(zhun)確(que)度(du): 0.1%

7.電極(ji)材(cai)質(zhi):   鉑銥(yi)合(he)金

8.軟件(jian)功能：自動(dong)分析(xi)數據(ju)，可(ke)以分(fen)類(lei)保(bao)存(cun)，樣品(pin)和測(ce)量(liang)方案(an)結合(he)在壹(yi)起(qi)，生(sheng)成(cheng)系統(tong)所需的(de)實驗(yan)方案(an)，輸(shu)出TXT、XLS、BMP等(deng)格(ge)式(shi)文(wen)件

9. 顯(xian)示(shi)器(qi): 350×260點(dian)陣圖形(xing)LCD液晶顯(xian)示(shi)

10. 可(ke)測(ce)量(liang)22種阻抗參數組合(he)

11. 接口(kou)方式(shi): RS232C或HANDLER

12. 電壓:AC-220V

13. 體(ti)積：高(gao)80mm＊寬205mm＊長230mm

14. 重量(liang):3.5KG

15、外形(xing)尺寸：     L360mm*W370mm*H510mm

16、凈   重：          22KG