粉末(mo)材料電阻(zu)率(lv)測(ce)試儀(yi)測(ce)量時的註(zhu)意(yi)事(shi)項(xiang)

　　粉末(mo)材料電阻(zu)率(lv)測(ce)試儀(yi)測(ce)量時的註(zhu)意(yi)事(shi)項(xiang)

　　粉末(mo)材料電阻(zu)率(lv)測(ce)試儀(yi)采(cai)用嵌(qian)入(ru)式(shi)工業單(dan)片(pian)機實(shi)時操(cao)作系(xi)統，超薄形張絲表(biao)頭(tou)與(yu)圖形點(dian)陣(zhen)液(ye)晶(jing)顯示器結(jie)合(he)，具有多(duo)種電壓輸出等級(ji)（500V、1000V、2500V、5000V）、容量大、抗(kang)幹擾強(qiang)、指(zhi)針(zhen)與(yu)數(shu)字(zi)同(tong)步顯示、交(jiao)直(zhi)流兩(liang)用、操(cao)作簡單(dan)、自(zi)動計(ji)算(suan)各(ge)種絕(jue)緣指標(biao)(吸收比(bi)、極化指(zhi)數(shu))、各(ge)種測量結(jie)果具有防(fang)掉電(dian)功能(neng)等(deng)特(te)點。是(shi)測量大容量變壓器(qi)、互感(gan)器(qi)、發電機(ji)、高壓電(dian)動機(ji)、電(dian)力(li)電(dian)容、電力(li)電(dian)纜、避雷(lei)器等(deng)絕(jue)緣電阻(zu)的理(li)想測試儀(yi)器(qi)。

　　粉末(mo)材料電阻(zu)率(lv)測(ce)試儀(yi)測(ce)量時的註(zhu)意(yi)事(shi)項(xiang)：

　　1、在(zai)測量時，要註(zhu)意(yi)兆(zhao)歐表的正確接(jie)線，否(fou)則將引起不必要(yao)的誤(wu)差(cha)甚至(zhi)錯誤(wu)。兆(zhao)歐表的接(jie)線柱(zhu)共三個；三個"L"即(ji)線端(duan)，壹(yi)個(ge)"E"即(ji)地端(duan)，再壹(yi)個(ge)"G"即(ji)屏蔽端(duan)（也(ye)叫保(bao)護環(huan)）。壹(yi)般被(bei)測(ce)絕(jue)緣電阻(zu)都接(jie)在"L"和"E"端(duan)之間，但(dan)當被(bei)測(ce)絕(jue)緣物表面(mian)漏(lou)電(dian)嚴重(zhong)時，必須(xu)將被測(ce)物的屏蔽環或不須(xu)測(ce)量的部(bu)分與(yu)"G"端(duan)相(xiang)聯(lian)接(jie)。這樣(yang)漏(lou)電(dian)流就經屏蔽端(duan)"G"直(zhi)接(jie)流回(hui)發電機(ji)的負(fu)瑞(rui)形成回(hui)路(lu)，而(er)不再流(liu)過(guo)兆歐表(biao)的測(ce)量機構(gou)（動圈(quan)）。這(zhe)樣就從(cong)根本上消(xiao)除了表(biao)面(mian)漏(lou)電(dian)流的影(ying)響。值(zhi)得(de)註(zhu)意(yi)的是(shi)測量電纜(lan)線芯和外表(biao)之間的絕(jue)緣電阻(zu)時，壹(yi)定(ding)要(yao)接(jie)好屏蔽短鈕(niu)"G"。因為當空(kong)氣(qi)濕(shi)度大(da)或電纜絕(jue)緣表面(mian)又(you)不幹凈(jing)時，其(qi)表面(mian)的漏(lou)電(dian)流將很(hen)大。為防(fang)止被測物因漏(lou)電(dian)而(er)對(dui)其(qi)內(nei)部(bu)絕(jue)緣測量所造成的影(ying)響，壹(yi)般在(zai)電(dian)纜外表辦(ban)壹(yi)個(ge)金屬屏蔽環，使之與(yu)兆歐表(biao)"G"端(duan)相(xiang)連(lian)。

　　2、用兆歐(ou)表(biao)測量電器(qi)設備的絕(jue)緣電阻(zu)時，要註(zhu)意(yi)"L"和"E"端(duan)不能接(jie)反。正確的接(jie)法(fa)是(shi)"L"線端(duan)鈕(niu)接(jie)被測(ce)設備導(dao)體(ti)，"E"地端(duan)或連(lian)接(jie)接(jie)地的設備外(wai)殼(ke)，"G"屏蔽端(duan)接(jie)被測(ce)設備的絕(jue)緣部(bu)分。如(ru)果(guo)將"L"和"E"接(jie)反了(le)，流(liu)過絕(jue)緣體(ti)內(nei)及(ji)表(biao)面的漏(lou)電(dian)流經外殼(ke)匯集(ji)到(dao)地，由(you)地經"L"流進測(ce)量線圈(quan)，使(shi)"G"端(duan)失(shi)去(qu)屏蔽作用而(er)給(gei)測量帶來很(hen)大誤(wu)差(cha)。另外，因為"E"端(duan)及(ji)內(nei)部(bu)引線同(tong)外(wai)殼的絕(jue)緣程(cheng)度比(bi)"L"端(duan)與(yu)外殼的絕(jue)緣程(cheng)度要(yao)低，當兆(zhao)歐(ou)表(biao)放(fang)在(zai)地上使(shi)用，采(cai)用正確接(jie)線方式(shi)時，"E"端(duan)對儀(yi)表(biao)外殼(ke)和外殼(ke)對(dui)地的絕(jue)緣電阻(zu)相(xiang)當於(yu)短路(lu)，不會造成測(ce)量誤(wu)差(cha)而(er)"L"與(yu)"E"接(jie)反時，"E"對地的絕(jue)緣電阻(zu)同(tong)被(bei)測(ce)絕(jue)緣電阻(zu)並聯(lian)，而(er)使(shi)測量結(jie)果偏(pian)小，給(gei)測量帶來較(jiao)大(da)的誤(wu)差(cha)。

　　由(you)此可見(jian)，要用粉末(mo)材料電阻(zu)率(lv)測(ce)試儀(yi)準確地測量出電器設備等(deng)的電(dian)阻(zu)，必須(xu)對(dui)兆歐表進行(xing)正確的使(shi)用，否則將會失(shi)去(qu)測量的準確性和可靠(kao)性。