詳(xiang)述(shu)介(jie)電(dian)常(chang)數(shu)測(ce)試(shi)儀的(de)實(shi)驗過程和註(zhu)意(yi)事(shi)項

　　詳(xiang)述(shu)介(jie)電(dian)常(chang)數(shu)測(ce)試(shi)儀的(de)實(shi)驗過程和註(zhu)意(yi)事(shi)項
　　介電(dian)常(chang)數(shu)測(ce)試(shi)儀用(yong)於(yu)科(ke)研機關、學(xue)校(xiao)、工(gong)廠(chang)等(deng)單(dan)位(wei)對無機非金(jin)屬(shu)新材(cai)料性能的(de)應用研究。介電(dian)常(chang)數(shu)測(ce)試(shi)儀能在較高的(de)測(ce)試(shi)頻(pin)率(lv)條件下，測量(liang)高頻(pin)電感或諧(xie)振(zhen)回(hui)路(lu)的(de)Q值(zhi)，電感(gan)器(qi)的(de)電(dian)感量(liang)和分(fen)布(bu)電(dian)容(rong)量(liang)，電容(rong)器(qi)的(de)電(dian)容(rong)量(liang)和損耗(hao)角(jiao)正切(qie)值(zhi)，電(dian)工(gong)材料(liao)的(de)高(gao)頻(pin)介質損耗(hao)，高(gao)頻(pin)回(hui)路(lu)有(you)效(xiao)並(bing)聯及串(chuan)聯(lian)電阻(zu)，傳輸線(xian)的(de)特(te)性阻(zu)抗(kang)等(deng)。
　　為(wei)了幫助客戶(hu)更好(hao)的(de)使(shi)用介(jie)電常(chang)數(shu)測(ce)試(shi)儀，今天(tian)我(wo)們(men)來(lai)說說介(jie)電(dian)常(chang)數(shu)測(ce)試(shi)儀的(de)實(shi)驗步驟(zhou)和(he)註(zhu)意(yi)事(shi)項。
　　介電(dian)常(chang)數(shu)測(ce)試(shi)儀的(de)實(shi)驗步驟(zhou)：
　　1.介(jie)電常(chang)數(shu)測(ce)試(shi)儀使(shi)用(yong)前(qian)要(yao)檢查市(shi)電(dian)電壓是(shi)否(fou)合適，采用(yong)穩(wen)壓電(dian)源(yuan)，以(yi)保(bao)證(zheng)測(ce)試(shi)條件的(de)穩(wen)定。開(kai)機預熱(re)15分(fen)鐘(zhong)，使(shi)儀器(qi)恢復(fu)正常(chang)狀(zhuang)態(tai)後才(cai)能開(kai)始(shi)測試(shi)。
　　2.按部件標(biao)準(zhun)制(zhi)備(bei)好(hao)的(de)陶(tao)瓷(ci)試(shi)樣，兩(liang)面(mian)用燒滲(shen)法(fa)被上(shang)銀層(ceng)，並(bing)分(fen)別焊(han)上(shang)壹(yi)根Φ0.8mm，30~40mm長(chang)的(de)金(jin)屬(shu)引線(xian)。引(yin)線(xian)材(cai)料為銅，表(biao)面(mian)鍍銀並浸錫(xi)。
　　3.選擇(ze)適當(dang)的(de)輔(fu)助線(xian)圈(quan)插(cha)入(ru)電(dian)感(gan)接線(xian)柱。根據需要(yao)選擇(ze)振(zhen)蕩(dang)器(qi)頻(pin)率(lv)，調(tiao)節(jie)測(ce)試(shi)電路(lu)電(dian)容(rong)器(qi)使電(dian)路諧(xie)振(zhen)。假(jia)定諧(xie)振(zhen)時電容(rong)為C1，品(pin)質(zhi)因素(su)為Q1。
　　4.將(jiang)被測(ce)樣品接在“CX”接線(xian)柱上(shang)。
　　5.再(zai)調(tiao)節(jie)測(ce)試(shi)電路(lu)電(dian)容(rong)器(qi)使電(dian)路諧(xie)振(zhen)，這時電容(rong)為C2，可以(yi)直接讀(du)出(chu)Q2，並且(qie)Q2= Q1-△Q。用(yong)遊標(biao)卡(ka)尺量(liang)出試(shi)樣的(de)直徑Φ和厚(hou)度d(分(fen)別在不(bu)同(tong)位(wei)置測得(de)兩(liang)個(ge)數(shu)據(ju)，再(zai)取(qu)其(qi)平均值)。
　　6.方形式樣按其(qi)邊(bian)長(chang)的(de)4倍(bei)計算(suan)Φ值。
　　介(jie)電(dian)常(chang)數(shu)測(ce)試(shi)儀的(de)使(shi)用註(zhu)意(yi)事(shi)項：
　　1、介電(dian)常(chang)數(shu)測(ce)試(shi)儀應水(shui)平安放(fang)，如(ru)果(guo)妳(ni)需(xu)要(yao)較地測量(liang)，請(qing)接通(tong)電(dian)源(yuan)後，預(yu)熱30分鐘(zhong)。調(tiao)節(jie)主(zhu)調(tiao)電容(rong)或主(zhu)調(tiao)電容(rong)數(shu)碼(ma)開關時，當(dang)接近(jin)諧(xie)振(zhen)點時請(qing)緩(huan)調(tiao);
　　2、被測(ce)件不要(yao)直接擱在面(mian)板頂(ding)部，離頂(ding)部壹(yi)公(gong)分(fen)以(yi)上(shang)，必(bi)要(yao)時可用低損耗(hao)的(de)絕(jue)緣材(cai)料(liao)如(ru)聚(ju)苯(ben)乙(yi)烯等(deng)做成的(de)襯墊物襯墊。被測(ce)件和測試(shi)電路(lu)接線(xian)柱間的(de)接線(xian)應盡量(liang)短(duan)，足(zu)夠(gou)粗(cu)，並應接觸良好(hao)、可靠(kao)，以(yi)減(jian)少(shao)因(yin)接線(xian)的(de)電(dian)阻(zu)和分(fen)布(bu)參數(shu)所(suo)帶(dai)來(lai)的(de)測(ce)量(liang)誤差(cha);
　　3、手(shou)不得靠(kao)近試(shi)件，以(yi)免(mian)人(ren)體(ti)感(gan)應影響(xiang)造(zao)成測量(liang)誤差(cha)，有(you)屏(ping)蔽(bi)的(de)試(shi)件，屏(ping)蔽(bi)罩應連接在低電位(wei)端的(de)接線(xian)柱。