介電測試(shi)儀的(de)測試(shi)註意(yi)事項(xiang)

　　測試(shi)註意(yi)事項(xiang)

　　a．介電測試(shi)儀應(ying)水平安(an)放(fang)；

　　b．如(ru)果(guo)妳需(xu)要(yao)較(jiao)地測(ce)量(liang)，請接(jie)通電源後(hou)，預(yu)熱30分鐘(zhong)；

　　c．調(tiao)節主(zhu)調(tiao)電容或(huo)主(zhu)調(tiao)電容數(shu)碼(ma)開(kai)關(guan)時，當(dang)接(jie)近(jin)諧振(zhen)點時(shi)請緩調(tiao)；

　　d．被測件(jian)和測(ce)試(shi)電路接(jie)線柱間(jian)的(de)接(jie)線應盡量(liang)短，足夠(gou)粗，並應(ying)接(jie)觸(chu)良好(hao)、可(ke)靠(kao)，以減(jian)少因(yin)接(jie)線的電阻和(he)分布(bu)參(can)數(shu)所(suo)帶來(lai)的測(ce)量(liang)誤差；

　　e．被測件(jian)不要(yao)直(zhi)接(jie)擱(ge)在(zai)面板頂部(bu)，離(li)頂部(bu)壹(yi)公分(fen)以(yi)上(shang)，必(bi)要(yao)時(shi)可用低損(sun)耗(hao)的絕(jue)緣材料如聚(ju)苯(ben)乙烯等做(zuo)成(cheng)的(de)襯(chen)墊物(wu)襯(chen)墊；

　　f．手不得(de)靠(kao)近試(shi)件(jian)，以免(mian)人體感(gan)應(ying)影(ying)響(xiang)造成測量(liang)誤差，有屏蔽(bi)的(de)試(shi)件(jian)，屏蔽(bi)罩應(ying)連(lian)接(jie)在(zai)低電位端(duan)的接(jie)線柱。

　　介電測試(shi)儀可(ke)以用於科(ke)研(yan)機(ji)關(guan)，學校，例(li)如壹(yi)些(xie)科研(yan)院(yuan)所(suo)，大專院(yuan)校或(huo)計(ji)量(liang)測(ce)試(shi)部(bu)門(men)的(de)實(shi)驗(yan)室需(xu)要(yao)用介電測試(shi)儀對(dui)絕緣材料的介電常數進(jin)行(xing)測試(shi)；同時(shi)也(ye)適(shi)用於工(gong)廠或單(dan)位，例(li)如壹(yi)些(xie)工廠對無(wu)機(ji)非金(jin)屬新(xin)材(cai)料性能(neng)的(de)應用進行(xing)研(yan)究，另(ling)外(wai)在(zai)電力(li)、電工、化工等領(ling)域，如：電廠、電業局實(shi)驗(yan)所(suo)、變壓(ya)器(qi)廠、電容器(qi)廠、絕緣材料廠、煉油(you)廠等單(dan)位對(dui)固體及(ji)液體絕(jue)緣材料的介質損(sun)耗(hao)和相(xiang)對(dui)介電常數ε的(de)質(zhi)量(liang)檢測(ce)等等。